公开(公告)号：CN115097228A

公开(公告)日：2022-09-23

申请号：CN202210164489.0

申请日：2022-02-22

申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所

发明人： 韩静文 ,  孙磊磊 ,  吴立丰 ,  李军凯 ,  袁彪 ,  庞克俭 ,  刘丙凯 ,  杨国喆 ,  蔺泽宇 ,  王二超 ,  刘瑞丰 ,  郝晨阳 ,  张栋 ,  赵真

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/26 ,  B65G47/74

摘要： 本发明提供了一种高低温自动测试系统，属于高低温测试技术领域，包括高低温测试单元和自动上下料单元；高低温测试单元包括烘箱、设于烘箱内的测试夹具以及多维取放机构，多维取放机构用于将送入烘箱内料盘上的待测产品移动至测试夹具进行测试，并将测试后的产品取回至料盘上；烘箱的侧面设有供料盘进入的进料门；自动上下料单元包括上下料机构、物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构；上下料机构将料盘送入物料传输机构，进料门自动打开机构将进料门打开，进料机构将料盘经进料门送入烘箱；测试后的产品料盘经进料机构、物料传输机构返回至上下料机构，下料取走。本发明提供的高低温自动测试系统，自动化程度高，测试效率高，测试精度高。