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公开(公告)号：CN117175328A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311039641.3
申请日：2023-08-17
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC分类号： H01S3/00
摘要： 一种从高能高重频激光器输出脉冲中抽取单脉冲的装置和方法，其特征在于该装置包括：高能高重频激光器、数字延时信号发生器、第一快门、继电器、第二快门、计算机。该方法利用高能高重频激光器输出的同步信号作为基准信号输入到数字延时信号发生器，数字延时信号发生器实现降频并将降频之后的开门信号经继电器后分别输入到第一快门和第二快门，并调节两信号之间的相对延时使得两快门开启时间的重叠长度小于激光器输出脉冲的周期长度即可完成单脉冲选取。其中计算机通过输出给继电器高低电平实现两个快门控制信号的通断，根据实际需求实现脉冲激光的抽取。该装置结构简单、扩展性强，可极大拓展高能高重频激光器的应用范围，节约装置成本。
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公开(公告)号：CN112432898A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN202011206315.3
申请日：2020-11-03
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种KDP类晶体锥柱生长区域的判别方法和测试装置，其中方法包括：测量深紫外某一波长激光光束的初始能量E1或者光功率P1，在所述深紫外激光光路上放置KDP类晶体，测量透过KDP类晶体后激光束能量E2或者光功率P2，利用公式T＝E2/E1*100％或者T＝P2/P1*100％计算出该KDP类晶体测量点处的透过率T。根据透过率T判断晶体锥柱生长区域：透过率T高于70％，为KDP类晶体的锥面生长区；透过率T低于50％，为KDP类晶体的柱面生长区；透过率T在[50％，70％]，则为KDP类晶体的锥柱交界区。该方法可简便、快速判别快速生长KDP类晶体的锥柱生长区类别。
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公开(公告)号：CN115127781A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210730152.1
申请日：2022-06-24
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种皮秒激光光学元件的全角度真空激光损伤阈值测试装置与方法，包括光学元件固定系统，损伤用皮秒激光系统，皮秒激光损伤监测系统和激光防护模块；该装置中与真空环境相关的在线CCD成像系统和待测光学元件放置角度固定，将需要调节的部分限制在调节自由度比较大的空气环境，通过利用旋转和上下移动的偏振片方便地实现了真空环境中皮秒激光光学元件的全角度激光损伤测试，避免了涉及真空环境调节不便的问题。该方法在测试区域内采用光斑叠合测试方法，并结合多脉冲辐照考察损伤的稳定性，能够准确评估光学元件在皮秒激光应用下可安全承受的能量密度。
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公开(公告)号：CN112266179A
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN202011137222.X
申请日：2020-10-22
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种熔石英玻璃高损伤阈值超光滑表面的加工方法，包括：首先对熔石英玻璃切割成型和精密研磨、兆声化学刻蚀、超声清洗和利用连续CO2激光对熔石英元件进行熔融抛光。本发明可直接对精密研磨后的熔石英玻璃进行高效的加工，获得具有超光滑表面和高抗激光损伤性能的熔石英光学元件。
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公开(公告)号：CN112730262A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011508827.5
申请日：2020-12-18
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种提升KDP类晶体飞秒激光诱导损伤阈值的装置及方法，构成包括脉宽可调激光器、第一快门、第一波片、第一偏振片、第一凸透镜、第一楔形片、第一光束质量分析仪、第一光电探测器、第一反射镜、第二反射镜、电控位移台、待处理KDP类晶体、CCD相机、吸收池、飞秒激光器、第二快门、第二波片、第二偏振片、第一凹透镜、第二凸透镜、第三凸透镜、第二楔形片、第二光束质量分析仪、第二光电探测器、连续激光器、第三反射镜、第四反射镜和计算机，本发明不仅能够对飞秒激光器用KDP类晶体倍频元件进行大面积激光预处理，也能通过测量预处理前后样品损伤阈值变化情况评估预处理效果，为有效提升飞秒激光器的倍频能量输出提供解决方案。
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公开(公告)号：CN118032780A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410172324.7
申请日：2024-02-06
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种用于真空环境下的激光损伤监测装置，包括真空腔体、位于真空腔体内的样品靶台、反射镜和镜头，位于真空腔体外的CCD探测器，以及与真空腔体连接的真空隔离窗口；其中，CCD探测器位于真空腔体的上方，镜头与CCD探测器在同一轴心线上，镜头朝向正下方，样品靶台用于放置待测光学元件，反射镜的镜面朝向待测光学元件的法线方向，反射镜用于将待测光学元件的辐照点图像转向传输至镜头，镜头同于采集辐照点图像的光线，并将光线通过真空隔离窗口传输至CCD探测器，CCD探测器用于根据光线投影出待测光学元件的辐照点图像。
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公开(公告)号：CN115060466A
公开(公告)日：2022-09-16
申请号：CN202210729383.0
申请日：2022-06-24
申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要： 一种真空环境中短脉冲高斯光束有效光斑面积的测量方法，包括脉冲激光器、快门、能量调节器、聚焦透镜、取样镜、金属靶、样品台、能量计、计算机、真空室。该方法基于金属靶的损伤轮廓与高斯光束能量分布特性之间的关联，通过测量金属靶(106)上损伤轮廓对应面积随辐照激光能量的变化，拟合得出短脉冲激光高斯光束在真空环境中焦点位置的有效光斑面积。该方法简单可行，可以准确测量真空环境中短脉冲激光在不同入射角下的有效光斑面积。
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