公开(公告)号：CN110031098A

公开(公告)日：2019-07-19

申请号：CN201910246109.6

申请日：2019-03-29

申请人： 中国科学院上海技术物理研究所

发明人： 王少伟 ,  刘清权 ,  颜炎洪 ,  陈旭 ,  陆卫

IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/02

摘要： 本发明公开了一种基于集成微腔的光谱探测芯片及重构方法，本发明的光谱探测芯片是在普通阵列探测器芯片上，通过纳米压印技术和镀膜技术制作多通道集成分光结构，使得原探测器芯片上不同像元对入射光的响应不同，再利用光谱重构的方法还原出样品光谱。本发明的光谱探测芯片将分光和探测集于一体，使探测器本身就具备了光谱分辨能力，实现芯片级光谱仪器，具有体积小、成本低、分辨率高、制作方便等优点，在光谱分析领域具有重要的应用价值。

公开(公告)号：CN110044846A

公开(公告)日：2019-07-23

申请号：CN201910246106.2

申请日：2019-03-29

申请人： 中国科学院上海技术物理研究所

发明人： 王少伟 ,  颜炎洪 ,  崔壮壮 ,  陈旭 ,  吴智勇 ,  陆卫

IPC分类号： G01N21/41 ,  G01N21/01

摘要： 本发明公开了一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法，通过镀膜方法来制备获得法布里-珀罗腔(F-P)的光学微腔结构，只需将二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料嵌埋到光学微腔中，应用显微光谱仪对比测量有、无低维材料区域的透射谱或反射谱，通过腔模峰位的移动获得低维材料对光程差的改变信息，就可以精确计算出低维材料的折射率。本发明解决了微米尺度低维材料折射率的测量难题并实现精确测量，具有很好的普适性，能够应用于各种二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料折射率的精确测定。