公开(公告)号：CN115112966A

公开(公告)日：2022-09-27

申请号：CN202110308165.5

申请日：2021-03-23

申请人： 中国科学院微电子研究所

发明人： 詹强华 ,  岂飞涛 ,  李博 ,  罗家俊 ,  曾传滨 ,  高林春 ,  刘海南 ,  滕瑞 ,  赵发展

IPC分类号： G01R31/00

摘要： 本发明公开了一种辐射效应测试方法及系统，用于对待测电压源模块的辐射效应进行测试，包括：待测电压源模块处于未被辐射源模块辐射的状态时，待测电压源模块输出的第一输出电压为模数转换模块提供第一参考电压信号，模数转换模块采集固定模拟信号并将固定模拟信号转换成第一数字信号；待测电压源模块处于被辐射源模块辐射的状态时，待测电压源模块输出的第二输出电压为模数转换模块提供第二参考电压信号，模数转换模块采集固定模拟信号并将固定模拟信号转换成第二数字信号；根据第一数字信号和第二数字信号得到第二输出电压与第一输出电压的电压差，以获得待测电压源模块的辐射效应。本方法能够捕捉到辐射效应下电压源的微小输出变化。