基于图像多阈值控制的自动曝光控制方法

    公开(公告)号:CN111225160B

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202010053972.2

    申请日:2020-01-17

    IPC分类号: H04N5/235

    摘要: 本发明涉及一种深空探测中使用的自动曝光控制方法,具体涉及一种基于图像多阈值控制的自动曝光控制方法,以解决现有技术中存在的自动曝光控制方法容易使太空背景下可见光图像中的空间目标曝光过度,且不适用于深空环境的航天特定微处理器的问题。首先依据图像传感器饱和值设定亮区阈值、暗区阈值、合理亮度阈值区间、过饱和阈值、欠饱和阈值、过亮阈值、过暗阈值,然后依据图像像元值对当前帧图像进行计算与统计,得到当前帧图像的平均亮度、饱和像元数、亮像元数,再将当前帧图像的平均亮度、饱和像元数、亮像元数与设定阈值进行比较,确定是否更新曝光时间,如果更新曝光时间,则将连续帧循环迭代直至图像符合设定要求,曝光控制结束。

    不同类型光谱仪的对比方法

    公开(公告)号:CN100470216C

    公开(公告)日:2009-03-18

    申请号:CN200710018974.2

    申请日:2007-10-30

    摘要: 一种不同类型光谱仪的对比方法,其从等波长光谱分辨率光谱仪数据获取最短波长处的光谱分辨率,从等波数分辨率光谱仪数据获取干涉数据的最大光程差,进行傅氏变换,以最大光程差作为等波长光谱分辨率光谱仪数据傅立叶变换后干涉图的切趾函数参数,进行矩形切趾、傅立叶反变换,在重叠谱段范围内对等波长光谱分辨率光谱仪的修正光谱图与待比对的等波数光谱分辨率光谱仪的光谱图进行谱强度、谱线位置或光谱分辨率等参数的对比。本发明解决了技术背景中用不同类型的光谱仪进行校核与标定较困难且成本高的技术问题。本发明可用一台辐射准确度较高的棱镜或光栅光谱仪来定量核对和标定各种类型的干涉型光谱仪或干涉型成像光谱仪的辐射度。

    横向剪切干涉仪的胶合检测方法

    公开(公告)号:CN100455985C

    公开(公告)日:2009-01-28

    申请号:CN200710018571.8

    申请日:2007-09-03

    IPC分类号: G01B9/02 G02B7/18

    摘要: 一种横向剪切干涉仪的胶合检测方法,在待胶合横向剪切干涉仪上均匀地涂覆光敏胶,竖直放于精密调整平台的高精度光学平板上。由激光器输出的激光经散射板及平行光管形成均匀平行光,照在待胶合横向剪切干涉仪上。用数码相机接收待胶合横向剪切干涉仪出射端形成的干涉条纹,在计算机上实时显示。计算N0个干涉条纹占数码相机的CCD像元数M0,微移两棱镜,读取N0个干涉条纹占数码相机的CCD像元数M,到CCD像元数M为M0时止,使两棱镜定位。固化被胶合的两棱镜。本发明解决了背景技术中横向剪切干涉仪的横向剪切量难以准确控制的技术问题。本发明横向剪切量误差可控制在1%以内。

    基于图像多阈值控制的自动曝光控制方法

    公开(公告)号:CN111225160A

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN202010053972.2

    申请日:2020-01-17

    IPC分类号: H04N5/235

    摘要: 本发明涉及一种深空探测中使用的自动曝光控制方法,具体涉及一种基于图像多阈值控制的自动曝光控制方法,以解决现有技术中存在的自动曝光控制方法容易使太空背景下可见光图像中的空间目标曝光过度,且不适用于深空环境的航天特定微处理器的问题。首先依据图像传感器饱和值设定亮区阈值、暗区阈值、合理亮度阈值区间、过饱和阈值、欠饱和阈值、过亮阈值、过暗阈值,然后依据图像像元值对当前帧图像进行计算与统计,得到当前帧图像的平均亮度、饱和像元数、亮像元数,再将当前帧图像的平均亮度、饱和像元数、亮像元数与设定阈值进行比较,确定是否更新曝光时间,如果更新曝光时间,则将连续帧循环迭代直至图像符合设定要求,曝光控制结束。

    一种摄像装置环境试验稳定性的检测装置及方法

    公开(公告)号:CN109632264B

    公开(公告)日:2019-10-29

    申请号:CN201811653814.X

    申请日:2018-12-29

    IPC分类号: G01M11/00

    摘要: 本发明公开的一种摄像装置环境试验稳定性的检测方法,首先安装好检测装置,包括光学平台,光学平台上间隔安装剪切架I和剪切架II,所述剪切架I上放置PSD自准直仪,剪切架II上放置摄像装置,调整剪切架I和剪切架II的高度控制PSD自准直仪的光轴与摄像装置的光轴等高,调整自准直仪与摄像装置光轴位置,确保自准直仪的偏差角度为零;然后摄像装置采集自准直仪的图像判断十字分划板的像在图像中的位置,对比试验前后的十字分划板的像在图像中的位置,确定摄像装置在经历规定的环境试验后的稳定性。本发明公开的检测方法结构简单,调整便捷,便于在试验现场快速搭建和测量,受环境影响因素小的特点。

    不同类型光谱仪的对比方法

    公开(公告)号:CN101144736A

    公开(公告)日:2008-03-19

    申请号:CN200710018974.2

    申请日:2007-10-30

    摘要: 一种不同类型光谱仪的对比方法,其从等波长光谱分辨率光谱仪数据获取最短波长处的光谱分辨率,从等波数分辨率光谱仪数据获取干涉数据的最大光程差,进行傅氏变换,以最大光程差作为等波长光谱分辨率光谱仪数据傅立叶变换后干涉图的切趾函数参数,进行矩形切趾、傅立叶反变换,在重叠谱段范围内对等波长光谱分辨率光谱仪的修正光谱图与待比对的等波数光谱分辨率光谱仪的光谱图进行谱强度、谱线位置或光谱分辨率等参数的对比。本发明解决了技术背景中用不同类型的光谱仪进行校核与标定较困难且成本高的技术问题。本发明可用一台辐射准确度较高的棱镜或光栅光谱仪来定量核对和标定各种类型的干涉型光谱仪或干涉型成像光谱仪的辐射度。