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公开(公告)号：CN109583240B
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN201811234951.X
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F21/76
Abstract: 本发明涉及一种集成电路测试方法和系统，包括：获取设计电路，并根据该设计电路具有的路径，生成调用该路径的多条测试向量，将该测试向量输入至该设计电路，得到该设计电路在预设条件下电路运行的第一错误率；根据该设计电路，得到待测芯片，将该测试向量输入至该待测芯片，得到该测试向量在该预设条件下电路运行的第二错误率；判断该第二错误率是否大于该第一错误率一定阈值，若是，则判定该待测芯片存在硬件木马电路，否则认为该待测芯片为合格芯片。
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公开(公告)号：CN109581183A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811234934.6
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式：注册模式，用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对；认证模式，用于验证测试者的权限；测试模式，用于测试集成电路；功能模式，用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块：Bias PUF组模块，用于对测试者的权限进行认证；Multiplexer模块，控制扫描链上的数据流，减少对测试时间的影响；Mask模块，用于保护扫描链上的关键数据不被泄露。本发明能够在不牺牲可测试性的前提下保证扫描链的安全性。
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公开(公告)号：CN109557449A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811235172.1
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。
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公开(公告)号：CN101710359B
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200910237064.2
申请日：2009-11-03
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种故障诊断系统及方法。该故障诊断方法，用于诊断出数字集成电路中的故障位置，包括：步骤1，为每个失效向量建立一个能够解释该失效向量的故障元组等价树；步骤2，为故障元组等价树中的潜在故障打分；步骤3，依据故障元组等价树中的潜在故障打分结果，从各潜在故障中选择最有可能是发生故障的位置加入最终候选故障位置集合；步骤4，从故障元组等价树中删除与最终候选故障位置集合中的故障等价的或可以被其解释的故障元组。本发明在没有任何面积和布线开销，不需要加载新的诊断向量的情况下对发生多个任意故障模型的组合逻辑故障进行诊断，并且不改变传统的组合逻辑故障诊断流程。
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公开(公告)号：CN101710359A
公开(公告)日：2010-05-19
申请号：CN200910237064.2
申请日：2009-11-03
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种故障诊断系统及方法。该故障诊断方法，用于诊断出数字集成电路中的故障位置，包括：步骤1，为每个失效向量建立一个能够解释该失效向量的故障元组等价树；步骤2，为故障元组等价树中的潜在故障打分；步骤3，依据故障元组等价树中的潜在故障打分结果，从各潜在故障中选择最有可能是发生故障的位置加入最终候选故障位置集合；步骤4，从故障元组等价树中删除与最终候选故障位置集合中的故障等价的或可以被其解释的故障元组。本发明在没有任何面积和布线开销，不需要加载新的诊断向量的情况下对发生多个任意故障模型的组合逻辑故障进行诊断，并且不改变传统的组合逻辑故障诊断流程。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101697553A
公开(公告)日：2010-04-21
申请号：CN200910235678.7
申请日：2009-10-12
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明提供一种P2P环境下的数据传输方法，包括：对所要传输数据做分割后得到多组子数据流；在用户所登录的用户节点以及该用户节点的邻居节点上维护推送记录表，所述推送记录表用于记录所在节点所要推送以及所要接收的子数据流的信息；所述邻居节点按照随机的顺序将不同组的子数据流推送给所述用户节点，所述用户节点接收子数据流后结合所述推送记录表中的信息为所述邻居节点分配该邻居节点负责推送的子数据流；所述用户节点接收并保存所述邻居节点所推送的数据。本发明将推策略与拉策略相结合，能够尽可能地减少数据分片丢失情况的出现。本发明通过竞争机制实现子数据流的分配，能够减少冗余数据包的传输，提高整个系统的性能。
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公开(公告)号：CN109002883B
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201810723272.2
申请日：2018-07-04
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明提供一种卷积神经网络模型的计算装置和相应的计算方法。该计算装置包括：物理不可克隆模块，所述物理不可克隆模块用于根据预定的激励c'生成响应r'；乘累加计算模块，所述乘累加计算模块用于基于所述物理不可克隆模块的响应r'执行与已训练好的卷积神经网络模型的对应的模糊权重值w'0至w'i和对应输入数据的乘累加计算，获得乘累加计算结果，其中，所述模糊权重值与所述已训练好的卷积神经网络模型对应的原始权重值w0至wi中至少有一个不相等，所获得的乘累加计算结果与所述已训练好的卷积神经网络模型的原始权重值和对应输入数据的乘累加计算结果相同。本发明的计算装置和计算方法能够针对CNN模型本身进行知识产权保护并且开销小。
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公开(公告)号：CN109583483B
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN201811347546.9
申请日：2018-11-13
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06K9/62
Abstract: 本发明涉及一种基于卷积神经网络的目标检测方法和系统，包括：使用多种尺度的卷积核分别提取待测图片的卷积特征图；使用全连接层调节卷积特征图每一个空间位置的特征向量，得到第一特征图，将其拼接得到拼接特征图，使用全连接层调节拼接特征图每个通道的特征信息，得到第二特征图；为第二特征图的每个空间位置上设定不同尺度和长宽比的锚点框，锚点框的坐标和大小是相对于待测图片的坐标系；将每个锚点框投影到第二特征图上，使用区域特征提取操作提取投影之后锚点框内部的特征，并将框选有物体的锚点框作为目标候选框；使用目标识别网络对目标候选框中的物体进行分类以及回归目标候选框的准确位置和大小。
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公开(公告)号：CN109581183B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201811234934.6
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种集成电路的安全测试方法与结构。本发明包括四种工作模式：注册模式，用于获取物理不可克隆函数的所有激励响应对；认证模式，用于验证测试者的权限；测试模式，用于测试集成电路；功能模式，用于电路正常功能运行。本发明还包括三种模块：Bias PUF组模块，用于对测试者的权限进行认证；Multiplexer模块，控制扫描链上的数据流，减少对测试时间的影响；Mask模块，用于保护扫描链上的关键数据不被泄露。本发明能够在不牺牲可测试性的前提下保证扫描链的安全性。
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公开(公告)号：CN109557449B
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201811235172.1
申请日：2018-10-23
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提出一种集成电路难测路径的选择方法。本发明包括：利用动静态协同分析，计算和校准逻辑值为0或为1的概率；根据所计算概率，从输出向输入方向寻找跳变沿传输概率小的路径；为所选路径生成测试向量，判断路径有效性。本发明通过动静态协同分析方法提高了概率计算精度，进而有效寻找出集成电路中的难测路径，为保证集成电路测试覆盖率提供重要支撑。
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