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公开(公告)号：CN103848393B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310646737.6
申请日：2013-12-04
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： B81C1/00
摘要： 一种用于静电场诱导技术的超精密平行度调整与检测系统属于超精密加工和检测领域，该系统包括：基片间距及平行度检测与调整机构和基片固定制动装置，通过对基片固定制动装置上升、下降及偏转的控制实现超精密平行度调整与检测。该系统通过基片间距及平行度检测与调整机构实时检测上、下基片之间的间距和平行度，并与外部输入条件进行比较、矩阵处理，产生控制信号，控制下基片的上、下移动或偏转，从而实现对上、下基片的间距和平行度的精确控制，从而实现了对静电场诱导过程中关键参数的精确控制。
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公开(公告)号：CN103389578A
公开(公告)日：2013-11-13
申请号：CN201310353830.8
申请日：2013-08-14
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G02B27/00
摘要： 内掩式透射地基日冕仪成像系统属于日地空间领域，目的在于解决现有技术存在的杂散光难以抑制的问题。本发明包括按照太阳光入射镜筒后的先后顺序安装在镜筒内的光轴上的入射口径光阑、物镜、内掩体、场镜、Lyot光阑、Lyot斑和中继镜组；入射口径光阑位于所述物镜第一表面位置，內掩体位于物镜的成像焦面位置，Lyot光阑位于入射孔径光阑经过物镜的成像焦面位置，Lyot斑位于场镜的成像焦面位置；太阳光束经物镜聚焦后经内掩体遮蔽太阳光球层的阳光，得到的光束经场镜和中继镜组成像在像面CCD上。本发明设置有内掩体和Lyot斑，实现对鬼像的有效遮拦，进一步提高透射式日冕仪的杂散光抑制能力，从而用来对太阳日冕进行观测。
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公开(公告)号：CN103056721A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210575159.7
申请日：2012-12-26
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 采用双读数头对绝对式钢带光栅尺的读数方法，涉及光学长度测量领域，解决现有采用拼接方式实现多根钢带尺的测量范围时，在每个接合处存在误差，并采用单读数头读取数据时存在累积误差的问题，本发明将多根绝对式钢带尺顺序固定在机床的定位面上，每相邻的绝对式钢带尺在拼接安装的过程中，相邻的绝对式钢带尺的间距不要求严格一致，采用双读数头对多根绝对式钢带尺进行联合读数，即测量时两个读数头同时读数，输出数据时根据情况选择；来解决大长度的测量问题，大大降低绝对式钢带尺拼接过程的工艺难度；双读数头进行读数可以消除安装过程误差对测量精度的影响，提高大长度绝对式钢带光栅尺整尺的测量精度。
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公开(公告)号：CN102944564A
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN201210488346.1
申请日：2012-11-26
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N21/958 , G01N21/94
摘要： 一种便携式双远心倾斜照明结构杂散光检测装置，属于光学检测技术领域，为解决现有技术对光学系统杂散光检测方法成本高、设备便携性差及效率低的问题，该装置由照明系统、双远心成像系统和CCD系统组成；双远心成像系统的物方位置为待检透镜表面，像方位置放置CCD系统，且待检透镜、双远心成像系统和CCD系统同轴放置，照明系统的出射光以倾斜角度入射到待检透镜，被待检透镜聚焦，焦点在双远心成像系统之外，照明系统的部分光被待检透镜表面散射点散射，散射后的光由有限远距离成像系统成像在CCD系统上，该装置具有成本低、效率高、方便携带的优点。
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公开(公告)号：CN102928385A
公开(公告)日：2013-02-13
申请号：CN201210488172.9
申请日：2012-11-26
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N21/49
摘要： 一种便携式倾斜照明结构杂散光检测装置，属于光学检测技术领域，为解决现有技术对光学系统杂散光检测方法成本高、设备便携性差及效率低的问题，该装置由照明系统、有限远距离成像系统和CCD系统组成；有限远距离成像系统的物方位置为待检透镜表面，像方位置放置CCD系统，且待检透镜、有限远距离成像系统和CCD系统同轴放置，照明系统的出射光以倾斜角度入射到待检透镜上，照明系统的照明光被待检透镜聚焦后焦点在有限远距离成像系统之外，照明系统光线被待检透镜表面散射点散射后的光线由有限远距离成像系统成像在CCD系统上，该装置具有成本低、效率高、方便携带的优点。
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公开(公告)号：CN102788311A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201210279697.1
申请日：2012-08-08
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： F21V5/00 , F21V5/02 , F21Y101/02
摘要： 一种适用于掌纹仪的LED均匀照明系统及其设计方法属于非成像LED照明领域，该系统包括；LED光源、棱镜、照明面，该系统还包括：配光元件；当LED光源发光，光束经过配光元件后，通过棱镜达到照明面，使照明均匀性得到提高。本发明所述的用于掌纹仪的LED高均匀性照明系统能够实现照明面均匀性照明，利于最终掌纹采集的成像质量提高。本发明采用非成像光学设计，在实现照明面均匀性照明的同时，提高了LED光源的能量效率，且本发明的配光透镜利用注塑成型加工方法，易于大批量、低成本加工。
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公开(公告)号：CN102607470A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210088597.0
申请日：2012-03-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/26
摘要： 光栅尺标尺光栅铣磨面直线度误差的非接触自动检测装置，涉及标尺光栅铣磨面直线度误差的非接触自动检测装置，解决现有采用接触式测量光栅尺标尺光栅的铣磨面直线度时，由于存在测量误差，导致检测数据不准确的问题，LED光源发出的光经过聚光镜聚光后，被分光棱镜向下反射，透过物镜后形成圆形光斑，光斑的一半照在标尺光栅上，另一半照在底座上。标尺光栅处于景深位置，照在其上的光线经反射后，通过物镜、分光棱镜，在CCD上成一清晰明亮的像；底座处于景深之外，照在其上的光线经底座反射后，通过物镜、分光棱镜，在CCD上成一模糊昏暗的像。两个像之间明暗分界对比明显，成像情况可以很清楚的反映出标尺光栅的铣磨面处的加工情况。
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公开(公告)号：CN102607428A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210088617.4
申请日：2012-03-30
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01B11/02
摘要： 基于微光学阵列元件的二维位移测量装置，涉及一种基于微光学元件的二维位移测量装置，解决现有二维位移测量中，需要两套独立测量系统，导致体积较大的问题，包括激光器、扩束镜、反射镜、二维参考微光学阵列元件、二维测量微光学阵列元件、聚焦透镜和二维面阵探测器；激光器发出的激光光束经扩束镜和反射镜后平行入射至二维参考微光学阵列元件，在所述二维参考微光学阵列元件的焦平面处会聚成点光源，点光源发出的光束经二维测量微光学阵列元件平行入射至聚焦透镜，经聚焦透镜出射的光束在二维面阵探测器上成像。本发明所述的装置在测量过程中测量准确方便，并减少了装置的体积。
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公开(公告)号：CN102538685A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110449436.5
申请日：2011-12-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 具有修正扭转误差功能的位移检测系统，涉及一种位移检测系统，它解决现有测量技术针对测量仪器本身的测量精度设计，由于机床本身的机械结构精度或者安装精度的原因，测量仪器本身的测量精度不能够得到充分的发挥，本系统第一标准光栅、第二标准光栅、采样控制模块、第一位置信号探测系统、第二位置信号探测系统和位置分析模块；第一位置信号探测系统和第二位置信号探测系统由采样控制模块统一发出采集信号，位置分析模块通过分析比较来自第一位置信号探测系统和第二位置信号探测系统的位移信号，对两个位移信号进行加权平均计算移动体的位移值。本发明用于提高测量系统的读数稳定性和自检能力，同时消除或者尽量减小扭转误差。
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公开(公告)号：CN102519012A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110449168.7
申请日：2011-12-29
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： F21V5/04
摘要： 一种用于路面均匀照明的红外激光灯装置属于半导体照明领域，该装置包括：驱动电路板、风扇和机械封装外壳，半导体激光管和透镜；所述半导体激光管表面贴有光纤，半导体激光管发出的光线角度经光纤整形后，将快轴光线压缩，形成快轴发散角为10°，慢轴发散角为8°的长方形光斑，所述透镜接收长方形光斑后将光线均匀投向远处地面。本发明采用自由曲面透镜对激光光束及进行能量分配，按照能量对应方式设计出来的自由曲面透镜，可以在水平放置照明器的情况下，保证路面照射范围内能量均匀。含有自由曲面的激光照明器调整过程简单，不需要调整向下俯仰的角度，只需水平放置，光束自然向下偏转，照射到路面，减少调整时间，降低安装成本。
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