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公开(公告)号：CN106990368B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201710356061.5
申请日：2017-05-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种LED灯具的结温测量方法。该LED灯具的结温测量方法包括：在LED光源加载电流脉冲；采集LED瞬间结电压响应；测量不同温度下LED的结电压响应，完成对LED光源的V‑t标定；测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温，避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
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公开(公告)号：CN105444995B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201510788358.X
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种LED照明灯具加速寿命在线测试设备，属于半导体器件的可靠性检测领域，为解决现有技术的问题，测试箱体，包括光学测量通道和温度施加单元，所述光学测量通道位于测试箱体与外接积分球系统连接处；灯具夹具装置，其设置在测试箱体内，其为正反360°可旋转式多工位独立灯架，被测LED灯具样品安装在灯具夹具装置上；外接积分球系统，其与测试箱体紧密连接无漏光，且使隔温抽真空双层玻璃管置入外接积分球系统内部；控制主机，其分别与测试箱体、外接积分球系统和计算机通过数据线连接，用于控制测试箱体的加速温度的设置和外接积分球的测试参量设置；计算机，用于实时显示控制主机的在线数据；该设备能够快速显现LED灯具产品的性能。
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公开(公告)号：CN105136655B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201510600593.X
申请日：2015-09-21
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01N17/00
摘要： 本发明公开了一种在线测量氮化物荧光粉老化程度的设备，包括罐体，在罐体上方密封扣合有盖体，且盖体与罐体之间形成密封腔体，在密封腔体内装有液体，同时在盖体上设置有贯通上下端面的光纤通孔，光纤通孔的上端密封连接有分叉式Y型光纤，该分叉式Y型光纤上端一分叉连接有光源，另一分叉连接有探测设备，在盖体和罐体之间形成的密封腔体内设置有用于装有测量样品容器的放置的样品架，在罐体下方设置有加热装置，在密封腔体内，位于液面的上方还设置有温度传感器和压力传感器，上述的加热装置、温度传感器和压力传感器均与控制器电连接，该设备具有结构简单，设计合理，使用方便，能够在线测量氮化物荧光粉老化程度等优点。
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公开(公告)号：CN105444995A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510788358.X
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种LED照明灯具加速寿命在线测试设备，属于半导体器件的可靠性检测领域，为解决现有技术的问题，测试箱体，包括光学测量通道和温度施加单元，所述光学测量通道位于测试箱体与外接积分球系统连接处；灯具夹具装置，其设置在测试箱体内，其为正反360°可旋转式多工位独立灯架，被测LED灯具样品安装在灯具夹具装置上；外接积分球系统，其与测试箱体紧密连接无漏光，且使隔温抽真空双层玻璃管置入外接积分球系统内部；控制主机，其分别与测试箱体、外接积分球系统和计算机通过数据线连接，用于控制测试箱体的加速温度的设置和外接积分球的测试参量设置；计算机，用于实时显示控制主机的在线数据；该设备能够快速显现LED灯具产品的性能。
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公开(公告)号：CN102313243A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110128186.5
申请日：2011-05-18
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： F21V5/04 , F21Y101/02
摘要： 一种结构紧凑型非成像LED准直系统，涉及非成像LED照明领域，它解决了现有LED照明系统结构复杂、光源发散角大且能量不集中，导致光能利用率低的问题，该系统包括LED准直透镜、LED芯片、透镜、LED衬底和LED封装外壳，LED芯片、LED衬底和LED封装外壳封装成整体结构；LED准直透镜由四个面组成，第一个面为入射面，第二个面和第四个面为全反射面和折射面，第三个面为反射面，LED芯片发出的光线经LED准直透镜的第一个面后入射至第二个面的光线折射，第二个面边缘的光线在第二个面全反射，反射的光线入射至第三个面，第三个面使光线反射后入射至第四个面折射。本发明出射光能量分布均匀。
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公开(公告)号：CN109596962A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201811423223.3
申请日：2018-11-27
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供了一种LED灯的结温测试方法，包括以下步骤：采用标定电流点亮LED灯，使LED灯在预定的环境温度下达到热稳定状态，采集LED灯两端的电压值；改变环境温度，使LED灯在不同环境温度的条件下达到热稳定状态，采集LED灯两端在不同环境温度下对应的电压值；根据上述步骤中的不同环境温度以及不同环境温度下测得的LED灯两端的电压值进行线性拟合，得到LED灯结温和电压的关系标定曲线；S4，在加速温度下采用恒定的加速电流点亮LED灯，当LED灯达到热稳定状态后，将恒定的加速电流切换成标定电流的脉冲电流，测得LED灯两端的电压值，并根据所述标定曲线计算得到LED灯在加速温度和加速电流条件下的结温。
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公开(公告)号：CN107300664A
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201710623359.8
申请日：2017-07-27
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
CPC分类号： G01R31/2603 , G01R31/44
摘要： 本发明涉及LED灯具在温度加速老化中的寿命误差试验方法，所述寿命误差试验方法包括以下步骤：对LED目标试样进行加速老化试验，得到每个LED目标试样的所有光衰数据；根据e指数衰减和每个LED目标试样的所有光衰数据进行拟合，得到在不同老化时间下每个LED目标试样的初始寿命；对同一老化时间下LED目标试样的初始寿命进行威布尔拟合，得到在衰减机理不发生改变时每个老化时间对应的形状参数和特征参数；根据所述每个老化时间对应的形状参数和特征参数，得到每个老化时间下LED目标试样的中位寿命；根据预设的滑动平均误差的阶数，采用滑动平均误差值的方法对每个老化时间下LED目标试样的中位寿命进行误差分析，得到不同截止时间下的滑动平均误差值。
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公开(公告)号：CN107167300A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710445046.8
申请日：2017-06-12
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
CPC分类号： G01M11/00
摘要： 本发明公开了一种LED灯具寿命连续在线检测的立式转动机构。该LED灯具寿命连续在线检测的立式转动机构包括：转盘，活塞筒，活塞连杆，转盘支架，驱动源，直线运动模组，传动杆以及直线运动模组支架；所述活塞连杆与所述活塞筒配合并安装在所述活塞筒中；所述LED灯具安装在所述活塞连杆上；所述活塞筒设在所述转盘上；所述转盘设置在所述转盘支架上；所述驱动源与所述转盘连接并可驱动所述转盘转动；所述传动杆与所述直线运动模组连接；所述直线运动模组安装在所述直线运动模组支架上。本发明提供的LED灯具寿命连续在线检测的立式转动机构可实现LED灯具自动连续在线检测。
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公开(公告)号：CN106990283A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710356013.6
申请日：2017-05-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要： 本发明公开了一种灯具电流在线检测装置及方法。该灯具电流在线检测装置包括：微控制器，第一多路开关，第二多路开关，AD转换芯片，电流传感器，第一接线端子，第二接线端子，第三接线端子，第一继电器组以及第二继电器组；所述AD转换芯片的输入端与电流传感器信号输出端相连；所述AD转换芯片输出端与微控制器相连；所述电流传感器电压输入端与第三接线端子的L端以及第一继电器组的常闭触点相连；所述电流传感器电压输出端与第二继电器组的常开触点相连；所述第一接线端子与第一继电器组的常闭触点和第二继电器组的常开触点相连；所述第二接线端子与第三接线端子相连；所述装置微控制器与计算机相连接。本发明还提供了一种灯具电流在线检测方法。本发明提供的灯具电流在线检测方法及灯具电流在线检测装置可实现多路灯具电流检测的需求。
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公开(公告)号：CN105277340A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510788342.9
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 采用光谱分解技术识别白光LED光源组件的方法，属于半导体照明器件检测技术领域，为解决现有白光LED光源模块各组件识别过程中，分解操作繁琐、处理复杂、并破坏其完整性的缺点，该方法是将待检的白光LED光源进行光谱测试：将白光LED光源放入标准积分球测试系统，在额定直流电流条件下点亮测试样品白光LED光源，稳定0.5～1小时后，通过光谱测试仪器测得其白光光谱；分解LED芯片光谱，进行蓝光光谱部分拟合；分解LED荧光粉光谱；通过分解出来的各组件的光谱与LED已有的组件数据库中光谱数据进行比对，分别反推出其芯片和荧光粉的所属类别。
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