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公开(公告)号：CN105277340A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510788342.9
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 采用光谱分解技术识别白光LED光源组件的方法，属于半导体照明器件检测技术领域，为解决现有白光LED光源模块各组件识别过程中，分解操作繁琐、处理复杂、并破坏其完整性的缺点，该方法是将待检的白光LED光源进行光谱测试：将白光LED光源放入标准积分球测试系统，在额定直流电流条件下点亮测试样品白光LED光源，稳定0.5～1小时后，通过光谱测试仪器测得其白光光谱；分解LED芯片光谱，进行蓝光光谱部分拟合；分解LED荧光粉光谱；通过分解出来的各组件的光谱与LED已有的组件数据库中光谱数据进行比对，分别反推出其芯片和荧光粉的所属类别。
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公开(公告)号：CN107271928A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710484104.8
申请日：2017-06-23
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
CPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种LED灯具温度步降老化试验方法。该LED灯具温度步降老化试验方法包括：获取LED灯具的加速寿命；采用两阶段法来实现LED灯具的可靠性分析；选取样本进行实验设计；计算所述样本的常温寿命。本发明还提供了一种LED灯具温度步降老化试验装置。本发明提供的LED灯具温度步降老化试验方法及LED灯具温度步降老化试验装置可快速实现LED灯具的寿命预测。
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公开(公告)号：CN107202782A
公开(公告)日：2017-09-26
申请号：CN201710484105.2
申请日：2017-06-23
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
CPC分类号： G01N21/6402 , G01R31/2603
摘要： 本发明涉及一种白光LED灯结温的测量方法和一种计算机可读存储介质，所述测量方法包括以下步骤：将所述白光LED灯的LED模组放入恒温箱；通过电学法测量所述LED模组在不同环境温度下所对应的结温值，得到结温和电压的映射表；光谱仪测量不同环境温度下所述LED模组的激发光谱；根据每个环境温度下激发光谱，得到每个环境温度下的芯片激发值和荧光粉激发值；根据所述结温和电压的映射表、芯片激发值和荧光粉激发值，得到激发比例与对应结温的关联映射表；光谱仪测量白光LED灯在正常工作状态下的激发光谱；根据所述白光LED灯在正常工作状态下的激发光谱，得到测量激发比例；根据测量激发比例以及所述激发比例与对应结温的关联映射表，得到所测量的结温值。
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公开(公告)号：CN107271927A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710352580.4
申请日：2017-05-18
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
CPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明涉及一种LED温度加速老化条件中的在线测试方法及计算机可读存储介质，所述在线测试方法包括以下步骤：测量LED在温度加速老化条件中的第一结温；LED在预设温度下加载不同的热沉，并测量加载不同的热沉所对应的结温；逐一判断不同的热沉所对应的结温是否等于第一结温；当其中一个热沉所对应的结温等于第一结温时，对LED在预设温度下加载对应的热沉以进行LED的光通量衰减测试。
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公开(公告)号：CN106990368A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710356061.5
申请日：2017-05-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
CPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种LED灯具的结温测量方法。该LED灯具的结温测量方法包括：在LED光源加载电流脉冲；采集LED瞬间结电压响应；测量不同温度下LED的结电压响应，完成对LED光源的V‑t标定；测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温，避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
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公开(公告)号：CN106990368B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201710356061.5
申请日：2017-05-19
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种LED灯具的结温测量方法。该LED灯具的结温测量方法包括：在LED光源加载电流脉冲；采集LED瞬间结电压响应；测量不同温度下LED的结电压响应，完成对LED光源的V‑t标定；测量LED灯具实际工作中LED光源的电流、电压值计算LED灯具的结温。本发明提供的LED灯具的结温测量方法能够测量LED灯具的结温，避免了加工工艺的不同、整体封装的差异、实际工作环境以及内部驱动电路输出的变化等对结温产生的影响。
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公开(公告)号：CN105444995B
公开(公告)日：2018-06-26
申请号：CN201510788358.X
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种LED照明灯具加速寿命在线测试设备，属于半导体器件的可靠性检测领域，为解决现有技术的问题，测试箱体，包括光学测量通道和温度施加单元，所述光学测量通道位于测试箱体与外接积分球系统连接处；灯具夹具装置，其设置在测试箱体内，其为正反360°可旋转式多工位独立灯架，被测LED灯具样品安装在灯具夹具装置上；外接积分球系统，其与测试箱体紧密连接无漏光，且使隔温抽真空双层玻璃管置入外接积分球系统内部；控制主机，其分别与测试箱体、外接积分球系统和计算机通过数据线连接，用于控制测试箱体的加速温度的设置和外接积分球的测试参量设置；计算机，用于实时显示控制主机的在线数据；该设备能够快速显现LED灯具产品的性能。
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公开(公告)号：CN105444995A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510788358.X
申请日：2015-11-17
申请人： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 一种LED照明灯具加速寿命在线测试设备，属于半导体器件的可靠性检测领域，为解决现有技术的问题，测试箱体，包括光学测量通道和温度施加单元，所述光学测量通道位于测试箱体与外接积分球系统连接处；灯具夹具装置，其设置在测试箱体内，其为正反360°可旋转式多工位独立灯架，被测LED灯具样品安装在灯具夹具装置上；外接积分球系统，其与测试箱体紧密连接无漏光，且使隔温抽真空双层玻璃管置入外接积分球系统内部；控制主机，其分别与测试箱体、外接积分球系统和计算机通过数据线连接，用于控制测试箱体的加速温度的设置和外接积分球的测试参量设置；计算机，用于实时显示控制主机的在线数据；该设备能够快速显现LED灯具产品的性能。
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