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公开(公告)号：CN103487237B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201310414146.6
申请日：2013-09-10
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供了一种激光光束分析仪探测面定位方法及系统，该方法包括：激光器发出的激光光束垂直入射到激光光束分析仪探测面上，测量并记录所述激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；在所述激光器发出的激光光束的光路中放置一个楔镜，调节楔镜使该光束垂直入射到楔镜的垂直面，并使激光光束透过所述楔镜折射后入射到所述激光光束分析仪探测面上；测量并记录通过所述楔镜折射后的激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；计算出激光光束分析仪探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离。通过本发明提供的方法及系统，通过计算出探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离，能够对激光光束分析仪探测面进行精确定位。
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公开(公告)号：CN116500331A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310233022.1
申请日：2023-03-06
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01R19/10
摘要： 本发明公开了一种低频交流电压精密差分测量系统及测量方法。该测量系统包括：参考电压信号发生模块，用于产生模拟参考电压信号；待测电压信号发生模块，用于产生模拟待测电压信号；采样模块，用于对参考电压信号进行采样，测得各台阶的电压，对模拟参考电压信号和模拟待测电压信号之间的电压差值信号进行采样，测得各台阶的电压差值。本发明通过使用现有的商用仪器作为参考电压信号发生模块、待测电压信号发生模块和采样模块，组成一个可以在常温环境下运行的测量系统，来代替基于可编程约瑟夫森电压标准的交流信号精密差分采样测量系统，可对校准源发出的交流信号实现ppm量级的测量，简化了实验条件及操作，同时降低了实验成本。
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公开(公告)号：CN103267489A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310188665.5
申请日：2013-05-20
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明公开一种哈特曼波前传感器的校准系统及校准方法。所述校准系统包括激光器、点光源产生及位移控制装置、光学准直装置与数据采集分析装置；点光源产生及位移控制装置，接收激光器产生的激光光束转换成点光源并控制点光源的位移；光学准直装置，接收点光源输出的球面波并转化成平面波输出；将哈特曼波前传感器置于光学准直装置之后，并连接至数据采集分析装置，哈特曼波前传感器接收平面波的波前，并转化为若干衍射光斑光强的分布图像信息；数据采集分析装置，用以采集图像信息,并根据点光源位移前后哈特曼波前传感器所测各衍射光斑光强的分布图像信息及点光源位移量计算出哈特曼波前传感器的小孔阵列面与CCD接收面之间的距离。
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公开(公告)号：CN116500331B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202310233022.1
申请日：2023-03-06
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01R19/10
摘要： 本发明公开了一种低频交流电压精密差分测量系统及测量方法。该测量系统包括：参考电压信号发生模块，用于产生模拟参考电压信号；待测电压信号发生模块，用于产生模拟待测电压信号；采样模块，用于对参考电压信号进行采样，测得各台阶的电压，对模拟参考电压信号和模拟待测电压信号之间的电压差值信号进行采样，测得各台阶的电压差值。本发明通过使用现有的商用仪器作为参考电压信号发生模块、待测电压信号发生模块和采样模块，组成一个可以在常温环境下运行的测量系统，来代替基于可编程约瑟夫森电压标准的交流信号精密差分采样测量系统，可对校准源发出的交流信号实现ppm量级的测量，简化了实验条件及操作，同时降低了实验成本。
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公开(公告)号：CN103487237A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310414146.6
申请日：2013-09-10
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明提供了一种激光光束分析仪探测面定位方法及系统，该方法包括：激光器发出的激光光束垂直入射到激光光束分析仪探测面上，测量并记录所述激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；在所述激光器发出的激光光束的光路中放置一个楔镜，调节楔镜使该光束垂直入射到楔镜的垂直面，并使激光光束透过所述楔镜折射后入射到所述激光光束分析仪探测面上；测量并记录通过所述楔镜折射后的激光光束在所述激光光束分析仪探测面上的光斑的质心位置；计算出激光光束分析仪探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离。通过本发明提供的方法及系统，通过计算出探测面到楔镜上的激光光束出射点的距离，能够对激光光束分析仪探测面进行精确定位。
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公开(公告)号：CN202938789U
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201220642839.1
申请日：2012-11-28
申请人： 中国计量科学研究院
IPC分类号： G01B11/02
摘要： 本实用新型属于仪器校准技术领域，公开了一种激光光束分析仪校准系统,包括激光器、平行光场产生装置、衰减器、具有标准孔径的光阑以及被校激光光束分析仪等，构造的平行光场，经过标准孔径的光阑形成标准束宽的平顶光束，被校激光光束分析仪测量该平顶光束的束宽，比较测量值和光束宽度标准值，实现激光光束分析仪的校准。该系统有效可行，准确稳定，操作简便，解决了激光光束分析仪光束宽度量值的溯源问题，并大大提高了校准精确度。
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