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公开(公告)号:CN102323561B
公开(公告)日:2013-08-07
申请号:CN201110220057.9
申请日:2011-08-03
摘要: 本发明提出了一种半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置,其组成部分包括:NIPXI-1042主控机箱,NI PXI-4071高速数据采集单元、TDS320数字示波器、半导体器件测试系统专用测试适配器。通过相关设备的设置,并对采集回来的脉冲信号数据进行处理,求取平均值作为校准结果。目前能够解决通信领域内半导体器件测试系统脉冲大电流源幅度的校准。
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公开(公告)号:CN102323561A
公开(公告)日:2012-01-18
申请号:CN201110220057.9
申请日:2011-08-03
摘要: 本发明提出了一种半导体器件测试系统脉冲大电流幅度校准装置,其组成部分包括:NIPXI-1042主控机箱,NI PXI-4071高速数据采集单元、TDS320数字示波器、半导体器件测试系统专用测试适配器。通过相关设备的设置,并对采集回来的脉冲信号数据进行处理,求取平均值作为校准结果。目前能够解决通信领域内半导体器件测试系统脉冲大电流源幅度的校准。
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公开(公告)号:CN202204911U
公开(公告)日:2012-04-25
申请号:CN201120278724.4
申请日:2011-08-03
IPC分类号: G01R31/28
摘要: 本实用新型提出了一种直流电子负载动态负载模式参数校准装置,该校准装置的组成部分包括:直流稳定电源、电流探头、数字示波器和数字多用表,其特征是:电流探头可以将被测的瞬时或连续的梯形波高电流信号转换成电压波形,通过数字示波器测量其负载电流波形时间和负载波形频率参数,目前能够解决通信领域内直流电子负载动态负载模式下参数的校准问题。
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