一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统

    公开(公告)号:CN108680602A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810481646.4

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N25/72

    CPC分类号: G01N25/72

    摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。

    一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置

    公开(公告)号:CN208443772U

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201820746054.6

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N25/72

    摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    支柱绝缘子复合护套均匀性检测方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN108693185B

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN201810483364.8

    申请日:2018-05-18

    IPC分类号: G01N21/84 G01N21/88

    摘要: 本申请提供一种支柱绝缘子复合护套均匀性检测方法、装置及系统,可对支柱绝缘子复合护套进行出厂检测,能够准确识别出不均匀的试件并剔除,避免由于护套不均匀造成的偏芯问题,提高了产品合格率,保证了支柱绝缘子的质量可靠,有利于电网系统长期安全运行;测量速度快,热响应时间以微秒或毫秒计,每次测量实验只需数秒钟或数十秒钟;测量结果用图像显示,可以直观判断不均匀程度明显的绝缘子复合护套试件;检测过程中不需要接触被测支柱绝缘子复合护套,可实现远距离检测,不污染也不破坏支柱绝缘子复合护套。