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公开(公告)号:CN108680602A
公开(公告)日:2018-10-19
申请号:CN201810481646.4
申请日:2018-05-18
申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 清华大学深圳研究生院
IPC分类号: G01N25/72
CPC分类号: G01N25/72
摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置、方法及系统,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。
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公开(公告)号:CN108693453A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201810482651.7
申请日:2018-05-18
申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 清华大学深圳研究生院
CPC分类号: G01R31/1245 , G01J5/00 , G01J2005/0077
摘要: 本发明公开了一种复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置及方法,包括可调制光辐射热激励加载装置、红外热像采集装置、控制及数据处理分析装置。控制可调制光辐射热激励加载装置对复合绝缘子施加可控热激励,使复合绝缘子表面形成动态温度场数据;控制红外热像采集装置采集动态温度场数据;利用控制及数据处理分析装置对动态温度场数据进行识别和分析,获取复合绝缘子的内部缺陷的具体情况。因此,本发明提供的复合绝缘子内部缺陷的主动红外热像检测装置及方法,能够解决现有的复合绝缘子缺陷的检测方法灵敏度低,复杂耗时,具有破坏性,检测条件要求高的问题。
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公开(公告)号:CN108693185A
公开(公告)日:2018-10-23
申请号:CN201810483364.8
申请日:2018-05-18
申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 清华大学深圳研究生院
摘要: 本申请提供一种支柱绝缘子复合护套均匀性检测方法、装置及系统,可对支柱绝缘子复合护套进行出厂检测,能够准确识别出不均匀的试件并剔除,避免由于护套不均匀造成的偏芯问题,提高了产品合格率,保证了支柱绝缘子的质量可靠,有利于电网系统长期安全运行;测量速度快,热响应时间以微秒或毫秒计,每次测量实验只需数秒钟或数十秒钟;测量结果用图像显示,可以直观判断不均匀程度明显的绝缘子复合护套试件;检测过程中不需要接触被测支柱绝缘子复合护套,可实现远距离检测,不污染也不破坏支柱绝缘子复合护套。
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公开(公告)号:CN208443772U
公开(公告)日:2019-01-29
申请号:CN201820746054.6
申请日:2018-05-18
申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 清华大学深圳研究生院
IPC分类号: G01N25/72
摘要: 本申请公开了一种瓷绝缘子内部缺陷的检测装置,利用光脉冲热激励加载装置向被待测瓷绝缘子施加光脉冲热激励作用,利用红外热像采集装置采集待测瓷绝缘子表面的红外热图序列,并由数据处理器将采集到的红外热图序列经拟合、压缩、重建等预处理,并根据预处理得到的原始红外热图序列提供的缺陷信息,与特征数据库中的数据进行分析比对,得到瓷绝缘子的缺陷类别及定量计算结果。本申请通过光脉冲热激励作用在瓷绝缘子的表面,利用被测瓷绝缘子表面动态温度场的变化来判断缺陷类型及对缺陷信息进行分析,具有测量快速、单次测量面积大、测量结果直观、非接触等特点,并可对瓷绝缘子内部缺陷相关信息进行准确、全面且深入的处理和分析。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN108693185B
公开(公告)日:2021-05-28
申请号:CN201810483364.8
申请日:2018-05-18
申请人: 云南电网有限责任公司电力科学研究院
摘要: 本申请提供一种支柱绝缘子复合护套均匀性检测方法、装置及系统,可对支柱绝缘子复合护套进行出厂检测,能够准确识别出不均匀的试件并剔除,避免由于护套不均匀造成的偏芯问题,提高了产品合格率,保证了支柱绝缘子的质量可靠,有利于电网系统长期安全运行;测量速度快,热响应时间以微秒或毫秒计,每次测量实验只需数秒钟或数十秒钟;测量结果用图像显示,可以直观判断不均匀程度明显的绝缘子复合护套试件;检测过程中不需要接触被测支柱绝缘子复合护套,可实现远距离检测,不污染也不破坏支柱绝缘子复合护套。
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