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公开(公告)号：CN105589234A
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201610173568.2
申请日：2016-03-24
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13
CPC分类号： G02F1/1309
摘要： 本发明公开了一种面板的检测方法及其检测系统，该方法包括：对测试样品组进行高温信赖性测试，确定测试样品组中出现缺陷的面板；测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；将测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与栅极截止电压值对应的漏电流值；若确定的漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断阵列基板的TFT合格；若否，则判断未合格。本发明实施例提供的方法可以在未将标准面板组制成模组之前，及时判断标准面板组中阵列基板的TFT是否合格，节约了工艺制程的时间，以及降低了成本。
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公开(公告)号：CN113597664A
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN202080000026.X
申请日：2020-01-14
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L21/66 , G01N21/956
摘要： 一种确定导致基板不良的原因的方法，包括：获取基板的生产过程数据(S201)，所述生产过程数据包括基板的生产履历数据以及至少两个生产设备参数的参数数据；根据所述基板的类型，获取与所述基板的类型对应的所述至少两个生产设备参数的参数数据参考范围(S202)；基于所获取的至少两个生产设备参数的参数数据、以及所述至少两个生产设备参数的参数数据参考范围，确定所述至少两个生产设备参数中偏离其参数数据参考范围的不良生产设备参数(S203)。通过该方法，能够快速方便地进行导致基板不良的原因的定位。
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公开(公告)号：CN106019660A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201610659306.7
申请日：2016-08-11
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
CPC分类号： G02F1/1309 , H01B13/0207
摘要： 本发明公开一种金属丝线绞合装置，涉及金属丝线的治具技术领域，为解决手动绞合金属丝线效率较低的问题。所述金属丝线绞合装置包括底座以及位于底座上方的支撑台，所述支撑台上设有绞合旋转盘，所述底座上设有夹紧金属丝线一端的第一夹紧装置，所述支撑台设有供金属丝线穿过的通孔，所述绞合旋转盘上设有夹紧金属丝线另一端的第二夹紧装置，所述绞合旋转盘以所述金属丝线长度方向为轴旋转将金属丝线绞合。本发明提供的金属丝线绞合装置主要用在小型的金属丝线绞合中，尤其是实验室或测试过程需要用到的金属丝线绞合中。
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公开(公告)号：CN104898342A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201510335191.1
申请日：2015-06-16
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1362 , G02F1/1343
CPC分类号： H01L22/34 , G02F1/1309 , G02F1/133345 , G02F1/13439 , G02F1/1368 , G02F2001/136254 , G02F2201/121 , G02F2201/123 , G02F2201/124 , G02F2201/50 , H01L27/124 , H01L27/1259 , G02F1/1362 , G02F1/134309 , G02F2001/134318
摘要： 本发明提供了一种阵列基板母板及其制作方法，该阵列基板母板包括多个显示区域以及任意相邻两个所述显示区域之间的非显示区域，所述显示区域上设置有用于显示的第一像素单元，所述非显示区域上设置有第二像素单元，所述第二像素单元用于测试所述阵列基板母板上的薄膜晶体管特性。本发明提供的阵列基板母板，在相邻两个显示区域之间的非显示区域设置第二像素单元，通过第二像素单元可以测试该区域上的薄膜晶体管特性，从而能够反映出显示区域上的薄膜晶体管特性，有利于及时发现阵列基板母板上的薄膜晶体管不良，避免后续出现大量不良品，节约材料，并且有利于产品的研发。
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公开(公告)号：CN113597664B
公开(公告)日：2024-08-20
申请号：CN202080000026.X
申请日：2020-01-14
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L21/66 , G01N21/956
摘要： 一种确定导致基板不良的原因的方法，包括：获取基板的生产过程数据(S201)，所述生产过程数据包括基板的生产履历数据以及至少两个生产设备参数的参数数据；根据所述基板的类型，获取与所述基板的类型对应的所述至少两个生产设备参数的参数数据参考范围(S202)；基于所获取的至少两个生产设备参数的参数数据、以及所述至少两个生产设备参数的参数数据参考范围，确定所述至少两个生产设备参数中偏离其参数数据参考范围的不良生产设备参数(S203)。通过该方法，能够快速方便地进行导致基板不良的原因的定位。
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公开(公告)号：CN105589234B
公开(公告)日：2018-09-11
申请号：CN201610173568.2
申请日：2016-03-24
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明公开了一种面板的检测方法及其检测系统，该方法包括：对测试样品组进行高温信赖性测试，确定测试样品组中出现缺陷的面板；测试样品组为包括未切割的多个面板的标准面板组；将测试样品组进行拆解得到包含多个阵列基板的母板，根据阵列基板的TFT的栅极截止电压值，确定出现缺陷的面板中阵列基板的TFT的与栅极截止电压值对应的漏电流值；若确定的漏电流值与预先确定的标准关态电流值之间的差值小于或等于设定阈值，判断阵列基板的TFT合格；若否，则判断未合格。本发明实施例提供的方法可以在未将标准面板组制成模组之前，及时判断标准面板组中阵列基板的TFT是否合格，节约了工艺制程的时间，以及降低了成本。
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公开(公告)号：CN205539827U
公开(公告)日：2016-08-31
申请号：CN201620313483.5
申请日：2016-04-14
申请人： 北京京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： G02F1/1333
摘要： 本实用新型提供的显示模组，包括由上而下依次设置的显示面板、背光源膜材、导光板和背板。并且，还包括隔离层，该隔离层用于使显示面板的下表面与背光源膜材的上表面之间形成空隙。本实用新型提供的显示模组，其可以避免引发亮度降低、对比度偏低、甚至是各种按压不良等等的多种不良现象的发生，从而可以提升产品画面品质。
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公开(公告)号：CN115413349A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202180000618.6
申请日：2021-03-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京中祥英科技有限公司
IPC分类号： G06Q50/04 , G06F16/2458
摘要： 提供一种数据处理方法及装置、电子设备、存储介质、存储介质。该方法包括：获取产品样本集合；基于预设的降维算法对第二参数进行处理，获得产品样本集合的指定维度的组合特征；基于第一参数和指定维度的组合特征获取指定维度的组合特征中各维组合特征的影响分值；根据影响分值对各组合特征进行排序获得排序靠前的至少一个组合特征，将至少一个组合特征对应的原始参数作为引起产品不良的原因。
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公开(公告)号：CN118056189A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202280003212.8
申请日：2022-09-16
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京中祥英科技有限公司
IPC分类号： G06F11/34
摘要： 一种异常根因分析方法及装置，所述方法包括：获取目标产品对应的待处理产品数据；其中，所述待处理产品数据是根据第一预设参数对所述目标产品对应的生产数据和检测数据进行融合得到的；根据所述检测数据，确定所述待处理产品数据中的正常产品数据和异常产品数据；将所述正常产品数据和所述异常产品数据输入至第一根因分析模型中，得到所述目标产品的检测结果的第一影响因子信息，所述第一影响因子包括所述生产数据中的一个或多个，其中，所述第一根因分析模型指示树模型，保证确定产品的影响因子的准确性，并提高了确定效率。
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公开(公告)号：CN115943372A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202180001379.6
申请日：2021-05-31
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京中祥英科技有限公司
IPC分类号： G06F18/214
摘要： 一种数据处理方法，该方法包括：响应于用户在图形界面的输入操作，获取样本数据(S201)，该样本数据包括样本的特征数据和检测数据；基于样本数据，在图形界面显示样本分布图(S202)；获取用于划分正负样本的聚焦阈值，在图形界面的样本分布图中显示聚焦阈值标记，并基于聚焦阈值区分正负样本的数据显示效果(S203)；其中，聚焦阈值基于样本的检测数据确定；基于正负样本，确定样本异常的原因(S204)。
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