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公开(公告)号：CN114860105A
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN202210470782.X
申请日：2022-04-28
申请人： 成都京东方光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
发明人： 郭文峰 , 李飞 , 王静 , 韩康 , 李成毅 , 罗云 , 杨广杰 , 苟宸 , 唐笑语 , 陈志龙 , 刘国彦 , 薛孝忠 , 曾杰 , 黄自强 , 胡太龙 , 路山 , 郜明浩 , 赵红豆 , 张凯 , 宋柯缙
摘要： 显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，所述显示面板包括显示区和围绕所述显示区的周边区，所述显示区设置有至少一个触控单元，所述周边区设置有裂纹检测走线和电源线，至少一个开关电路，不同的开关电路对应不同的触控单元，其中：裂纹检测走线包括第一节点，所述第一节点连接测试端；开关电路包括控制端、第一端和第二端，所述开关电路的控制端连接所述裂纹检测走线的第一节点外的节点，第一端连接对应的触控单元，第二端连接所述电源线；所述开关电路被配置为，在所述控制端的控制下，导通或关断所述第一端和第二端。本实施例提供的显示面板，利用触控单元进行裂纹检测，根据触控单元的信号是否正常即可定位裂纹位置，提高了裂纹定位效率。
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公开(公告)号：CN114530482A
公开(公告)日：2022-05-24
申请号：CN202210152344.9
申请日：2022-02-18
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
发明人： 李飞 , 王静 , 韩康 , 郭文峰 , 李成毅 , 罗云 , 杨广杰 , 朱春辉 , 苟宸 , 唐笑语 , 陈志龙 , 刘国彦 , 陈琦峰 , 薛孝忠 , 曾杰 , 黄自强 , 罗康 , 高隆重 , 胡太龙 , 张彤 , 王远航 , 宋柯缙
摘要： 本申请公开了一种显示面板及其制造方法、显示装置，属于显示技术领域。显示面板，包括：衬底、发光器件、第一无机层、第二无机层、第一辅助金属层和第二辅助金属层。由于第一辅助金属层和第二辅助金属层均是采用金属材料进行制备得到的。因此，在第一辅助金属层和第二辅助金属层搭接后，二者之间的连接的紧密性较好。如此，通过相互搭接的第一辅助金属层和第二辅助金属层可以提高位于第一辅助金属层和第二辅助金属层之间的第一无机层和第二无机层之间连接的紧密性。这样，非显示区内的第一无机层和第二无机之间都不容易出现膜层分离的现象，有效的降低了第一无机层和第二无机层出现膜层分离的概率，进而有效的提高了显示面板的良品率。
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公开(公告)号：CN109374724A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811308434.2
申请日：2018-11-05
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种电致发光器件的膜层分析方法，其中，电致发光器件包括：依次层叠的阳极层、电致发光材料层、以及含银阴极层。该膜层分析方法包括：提供具有离子溅射源和气体团簇离子源的质谱仪；利用离子溅射源从电致发光器件上剥离含银阴极层，得到暴露有电致发光材料层的分析样品；利用气体团簇离子源对暴露的电致发光材料层进行分析。通过离子溅射源对含银阴极层进行溅射剥离，其剥离过程稳定可控，能够有效且彻底地去除含银阴极层，避免了对电致发光材料层进行剥离。采用气体团簇离子源对暴露的电致发光材料层进行分析，不仅能够获得电致发光材料层的各膜层成分及位置，且不会对电致发光材料层造成损伤。
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公开(公告)号：CN117645054A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202410046564.2
申请日：2024-01-11
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
IPC分类号： B65D19/44 , B65D21/032 , B65D85/86
摘要： 本发明涉及显示技术领域，尤其涉及承载件及显示模组包装结构，用于增加承载件对显示模组的防护能力。本发明的实施例提供了一种承载件，承载件整体具有承载面和背面，承载件包括：容纳槽、周边部、多个第一挡墙部和多个第一限位部。容纳槽包括第一子槽；第一子槽用于承载显示模组的第一子部。周边部环绕容纳槽。多个第一挡墙部间隔排布，且与第一子槽相连接，相对于第一子槽的侧壁凸出，且相对于第一子槽的底壁凸出。多个第一限位部间隔排布；第一限位部与第一子槽，且相对于第一子槽的底壁凹陷；第一限位部与第一挡墙部相邻。第一挡墙部及第一限位部用于限制第一子部的移动。承载件及显示模组包装结构用于承载显示模组。
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公开(公告)号：CN113838872B
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202111131719.5
申请日：2021-09-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本文公开一种显示基板，包括：基底和设置在基底上IC芯片的顶角处的叠层结构；所述叠层结构包括：设置在基底上的复合绝缘层结构和设置在复合绝缘层结构上的缓冲结构；其中，IC芯片的顶角位于叠层结构的斜上方，叠层结构包括设置在IC芯片的顶角内部的第一区域和设置在IC芯片的顶角外部的第二区域；复合绝缘层结构包括隔离结构，隔离结构包括下陷于所述复合绝缘层结构上表面的多个凹槽；所述隔离结构中的一部分凹槽位于所述第一区域中，另一部分凹槽位于所述第二区域中；所述缓冲结构覆盖所述复合绝缘层结构的上表面并且延伸至所述凹槽的底部。本文提供的显示基板能够保护IC芯片顶角附近的膜层结构，防止金属走线发生断裂。
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公开(公告)号：CN114550628A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210172401.X
申请日：2022-02-24
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
发明人： 李飞 , 王静 , 韩康 , 郭文峰 , 李成毅 , 罗云 , 杨广杰 , 苟宸 , 唐笑语 , 陈志龙 , 刘国彦 , 陈琦峰 , 王远航 , 薛孝忠 , 曾杰 , 黄自强 , 胡太龙 , 朱春辉 , 宋柯缙 , 张彤
IPC分类号： G09G3/00 , G09G3/3208 , G01N27/00
摘要： 一种显示面板、显示装置及显示面板的裂纹检测方法，显示面板包括：显示区域及位于显示区域一侧的第二边框区域，显示区域包括多个检测显示单元组，每个检测显示单元组包括多个子像素；第二边框区域包括多个倒角区；显示面板包括至少两条第一裂纹检测线及多个检测单元，至少一条第一裂纹检测线穿过一个或两个倒角区，不同的第一裂纹检测线穿过的倒角区不同；第一裂纹检测线穿过一个倒角区的一端通过检测单元与一个检测显示单元组电连接，在检测单元的控制下，向检测显示单元组提供第一裂纹检测线在倒角区传输的第一检测信号，以便根据检测显示单元组的显示结果确定第一裂纹检测线穿过的倒角区是否存在裂纹，不同的倒角区对应不同的检测显示单元组。
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公开(公告)号：CN113838872A
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202111131719.5
申请日：2021-09-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本文公开一种显示基板，包括：基底和设置在基底上IC芯片的顶角处的叠层结构；所述叠层结构包括：设置在基底上的复合绝缘层结构和设置在复合绝缘层结构上的缓冲结构；其中，IC芯片的顶角位于叠层结构的斜上方，叠层结构包括设置在IC芯片的顶角内部的第一区域和设置在IC芯片的顶角外部的第二区域；复合绝缘层结构包括隔离结构，隔离结构包括下陷于所述复合绝缘层结构上表面的多个凹槽；所述隔离结构中的一部分凹槽位于所述第一区域中，另一部分凹槽位于所述第二区域中；所述缓冲结构覆盖所述复合绝缘层结构的上表面并且延伸至所述凹槽的底部。本文提供的显示基板能够保护IC芯片顶角附近的膜层结构，防止金属走线发生断裂。
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公开(公告)号：CN115421610A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202211037945.1
申请日：2022-08-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明涉及显示的技术领域，公开一种显示面板、显示装置及显示装置的检测系统，该显示面板，分为显示区和围绕所述显示区的非显示区，所述显示区包括沿第一方向排布的平面显示区和至少一个弧面显示区；所述显示面板包括：衬底；位于所述衬底一侧的显示功能层；位于所述显示功能层出光侧的触控结构层；第一检测线回路，所述第一检测线回路包括检测线路段和与所述检测线路段过孔连接的连接线路段，所述检测线路段位于相邻两个所述连接线路段之间，连接线路段设置在所述显示功能层内，所述连接线路段位于所述非显示区且围绕所述显示区设置，所述检测线路段位于所述触控结构层内，且位于弧面显示区。用于检测显示面板中进行性裂纹，提高检测精度。
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公开(公告)号：CN109374724B
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN201811308434.2
申请日：2018-11-05
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种电致发光器件的膜层分析方法，其中，电致发光器件包括：依次层叠的阳极层、电致发光材料层、以及含银阴极层。该膜层分析方法包括：提供具有离子溅射源和气体团簇离子源的质谱仪；利用离子溅射源从电致发光器件上剥离含银阴极层，得到暴露有电致发光材料层的分析样品；利用气体团簇离子源对暴露的电致发光材料层进行分析。通过离子溅射源对含银阴极层进行溅射剥离，其剥离过程稳定可控，能够有效且彻底地去除含银阴极层，避免了对电致发光材料层进行剥离。采用气体团簇离子源对暴露的电致发光材料层进行分析，不仅能够获得电致发光材料层的各膜层成分及位置，且不会对电致发光材料层造成损伤。
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公开(公告)号：CN109524574A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201811397023.5
申请日：2018-11-22
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 成都京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明提供了一种柔性显示面板测试样品及其制作方法、缺陷分析方法，属于显示技术领域。本发明的技术方案能够提高柔性OLED产品缺陷分析的精度。其中，柔性显示面板测试样品的制作方法，包括：在柔性显示面板的测试区域的薄膜封装层上形成厚度小于阈值的金属层；确定测试区域中缺陷所在位置，利用激光在所述金属层上形成对应所述缺陷的缺陷位置标记，所述缺陷在所述金属层上的正投影位于所述缺陷位置标记限定出的区域内。本发明的技术方案用于对柔性OLED产品进行缺陷分析。
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