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公开(公告)号：CN109656067B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN201910087349.6
申请日：2019-01-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1345 , G09F9/33
摘要： 本发明提供一种显示基板、显示面板及显示装置，涉及显示技术领域，可降低扇出区不同长度的导线之间的电阻差异。该显示基板包括扇出区和位于扇出区内的扇出结构层；扇出区包括中间子区和两侧的侧子区；扇出结构层包括位于中间子区内的中间导线和位于侧子区内的多条扇出导线；中间导线及扇出导线均沿第一方向间隔排列，且扇出导线的长度均大于中间导线的长度；位于扇出区内的导电连接层，导电连接层包括至少一个导电组，至少有一条扇出导线对应有一个导电组；导电组包括至少一个导电条；扇出导线与对应的导电组中的导电条并联，以降低并联后的该条扇出导线与中间导线之间的电阻差值。用于显示基板及包括该显示基板的显示面板、显示装置的制备。
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公开(公告)号：CN109860420A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910092636.6
申请日：2019-01-30
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明提供一种封装膜层及其制备方法、封装结构，显示装置，涉及显示技术领域，采用该封装膜层可显著提高对电子器件的防水效果。该封装膜层包括：基体层；所述基体层包括：朝向待封装的电子器件的第一表面、与所述第一表面相对的第二表面；位于所述第二表面上的超疏水层，所述超疏水层包括：位于所述第二表面上的多个间隔设置的疏水微凸起。用于封装膜层的制备及对电子器件的封装。
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公开(公告)号：CN109656067A
公开(公告)日：2019-04-19
申请号：CN201910087349.6
申请日：2019-01-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1345 , G09F9/33
摘要： 本发明提供一种显示基板、显示面板及显示装置，涉及显示技术领域，可降低扇出区不同长度的导线之间的电阻差异。该显示基板包括扇出区和位于扇出区内的扇出结构层；扇出区包括中间子区和两侧的侧子区；扇出结构层包括位于中间子区内的中间导线和位于侧子区内的多条扇出导线；中间导线及扇出导线均沿第一方向间隔排列，且扇出导线的长度均大于中间导线的长度；位于扇出区内的导电连接层，导电连接层包括至少一个导电组，至少有一条扇出导线对应有一个导电组；导电组包括至少一个导电条；扇出导线与对应的导电组中的导电条并联，以降低并联后的该条扇出导线与中间导线之间的电阻差值。用于显示基板及包括该显示基板的显示面板、显示装置的制备。
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公开(公告)号：CN116169125A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310315228.9
申请日：2023-03-28
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
摘要： 本发明实施例公开一种阵列基板母板及其制备方法、测量方法和显示面板。在一具体实施方式中，所述阵列基板母板包括阵列排布的阵列基板、以及设置在阵列基板至少一侧边缘的测试区，所述测试区包括顺序排列的多个测试部、以及与所述多个测试部连接的至少一个测试端子组，其中所述多个测试部，包括设置在所述阵列基板母板的衬底上的金属部、覆盖所述金属部的绝缘层、覆盖所述绝缘层的导电层，所述导电层通过贯通所述绝缘层的过孔与所述金属部电连接，所述多个测试部通过所述导电层串行连接；所述测试端子组分别与所述多个测试部的两端连接，响应于加载的电信号测试所述多个测试部的电阻。
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公开(公告)号：CN109216379B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201811105708.8
申请日：2018-09-21
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L29/417 , H01L21/66
摘要： 本发明公开了一种母板及其检测方法，该母板，包括基板，位于所述基板上的多个显示区域，以及位于所述显示区域之间的非显示区域，所述显示区域包括用于控制像素显示的薄膜晶体管，包括：位于所述非显示区域的至少一个检测元件；通过在非显示区域内设置与有源层和源漏电极等同的检测元件，通过对非显示区域内的第一电极或第二电极与第三电极之间的接触电阻进行检测，从而反映薄膜晶体管内的源漏电极与有源层之间的界面的品质，实现对源漏电极与有源层之间的界面的品质的监控，从而提高显示面板的质量。
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公开(公告)号：CN109216379A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201811105708.8
申请日：2018-09-21
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L29/417 , H01L21/66
摘要： 本发明公开了一种母板及其检测方法，该母板，包括基板，位于所述基板上的多个显示区域，以及位于所述显示区域之间的非显示区域，所述显示区域包括用于控制像素显示的薄膜晶体管，包括：位于所述非显示区域的至少一个检测元件；通过在非显示区域内设置与有源层和源漏电极等同的检测元件，通过对非显示区域内的第一电极或第二电极与第三电极之间的接触电阻进行检测，从而反映薄膜晶体管内的源漏电极与有源层之间的界面的品质，实现对源漏电极与有源层之间的界面的品质的监控，从而提高显示面板的质量。
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公开(公告)号：CN109166507A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811296862.8
申请日：2018-11-01
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 重庆京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明公开了测试元件组、电学性能测试方法、阵列基板、显示装置。具体的，本发明提出了一种测试元件组，包括：设置在基板上的电性连接的多个薄膜晶体管以及多个测试接口，其中，至少两个所述薄膜晶体管的栅极与同一个所述测试接口相连。由此，在利用该测试元件组对阵列基板进行电学性能测试时，每次可对多个薄膜晶体管进行检测，进而检测一定数量薄膜晶体管的时间可以大大减小，提高了测试效率。
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