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公开(公告)号:CN101142023A
公开(公告)日:2008-03-12
申请号:CN200680008871.1
申请日:2006-03-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: B01J20/28014 , B01J20/281 , B01J2220/54 , B01L3/502753 , B01L2300/0681 , B01L2300/0838 , B01L2300/0877 , B81B1/00 , B81B2201/0214 , G01N30/6069 , G01N2030/524
Abstract: 一种具有与内部空间相连通的开口的结构,适合用于分离或者捕获从开口引入内部空间的物质。该结构包括具有带开口的内部空间的中空构件以及互相分离地放置在内部空间中的多个柱。该柱由包含无机氧化物的材料形成,并且在组成上不同于中空构件。
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公开(公告)号:CN1926424B
公开(公告)日:2010-05-05
申请号:CN200580006934.5
申请日:2005-03-02
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/05 , G01N21/554 , G01N21/645 , G01N21/66 , G01N2021/0346
Abstract: 一种检测设备包括:包括其性质会因为与靶标物质接触而发生改变的多个物体(105)的基板(103),用于使靶标物质与所述物体相接触的装置,以及用于根据在用光(102)照射所述物体时产生的光输出(106)检测因为在靶标物质与所述物体相接触时所导致的物体性能的变化的装置(101,107),其中所述多个物体位于照射光行进的方向上,并且该检测装置是一种用于根据在照射光时从所述多个物体输出的光的总和来检测性能变化的装置。
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公开(公告)号:CN1947016A
公开(公告)日:2007-04-11
申请号:CN200580013462.6
申请日:2005-04-22
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N33/543 , G01N33/553
CPC classification number: G01N33/58 , B01L3/5027
Abstract: 本发明涉及这样一种方法,即,在该方法中,磁性粒子被用作标记粒子,通过向由于生化反应保留的磁性粒子施加高频磁场并产生热量,检测与磁性粒子的数量对应的物理量的变化,并且在样品溶液中包含的材料被检测。诸如抗原的目标材料可容易地被定量检测。
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公开(公告)号:CN101142023B
公开(公告)日:2012-05-23
申请号:CN200680008871.1
申请日:2006-03-16
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: B01J20/28014 , B01J20/281 , B01J2220/54 , B01L3/502753 , B01L2300/0681 , B01L2300/0838 , B01L2300/0877 , B81B1/00 , B81B2201/0214 , G01N30/6069 , G01N2030/524
Abstract: 一种具有与内部空间相连通的开口的结构,适合用于分离或者捕获从开口引入内部空间的物质。该结构包括具有带开口的内部空间的中空构件以及互相分离地放置在内部空间中的多个柱。该柱由包含无机氧化物的材料形成,并且在组成上不同于中空构件,所述柱在两端直接连接到所述中空构件的上内壁和下内壁,或者所述中空构件的内部空间包括所述柱和三维网状多孔区域。
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公开(公告)号:CN1947016B
公开(公告)日:2012-04-25
申请号:CN200580013462.6
申请日:2005-04-22
Applicant: 佳能株式会社
IPC: G01N33/543 , G01N33/553
CPC classification number: G01N33/58 , B01L3/5027
Abstract: 本发明涉及这样一种方法,即,在该方法中,磁性粒子被用作标记粒子,通过向由于生化反应保留的磁性粒子施加高频磁场并产生热量,检测与磁性粒子的数量对应的物理量的变化,并且在样品溶液中包含的材料被检测。诸如抗原的目标材料可容易地被定量检测。
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公开(公告)号:CN1926424A
公开(公告)日:2007-03-07
申请号:CN200580006934.5
申请日:2005-03-02
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G01N21/05 , G01N21/554 , G01N21/645 , G01N21/66 , G01N2021/0346
Abstract: 一种检测设备包括:包括其性质会因为与靶标物质接触而发生改变的多个物体(105)的基板(103),用于使靶标物质与所述物体相接触的装置,以及用于根据在用光(102)照射所述物体时产生的光输出(106)检测因为在靶标物质与所述物体相接触时所导致的物体性能的变化的装置(101,107),其中所述多个物体位于照射光行进的方向上,并且该检测装置是一种用于根据在照射光时从所述多个物体输出的光的总和来检测性能变化的装置。
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