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公开(公告)号：CN102713679A
公开(公告)日：2012-10-03
申请号：CN201180006593.7
申请日：2011-01-27
申请人： 佳能株式会社
摘要： 一种在不使用X射线的遮光掩模的情况下获取测试对象的微分相位对比度图像的X射线成像装置。所述装置包括X射线源、分离元件和闪烁器，所述分离元件被配置为对从X射线源发射的X射线进行空间分割，所述闪烁器被配置为当在所述分离元件处被分割的分割的X射线束入射在所述闪烁器上时发射光。所述装置还包括光透射限制单元和多个光检测器，所述光透射限制单元被配置为限制从所述闪烁器发射的光的透射量，每个所述光检测器被配置为检测透射通过所述光透射限制单元的光量。所述光透射限制单元被配置为使得在每个所述光检测器处检测到的光强度响应于所述X射线束的入射位置的改变而改变。
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公开(公告)号：CN102272860B
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201080004291.1
申请日：2010-01-15
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G21K1/06
CPC分类号： G21K1/06 , A61B6/484 , G21K2207/005
摘要： 可以获得考虑被检体的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像的尺寸减小的X射线成像装置和方法。测量被分离元件分离并且穿过被检体的X射线的位移。可通过使用具有根据X射线的入射位置连续改变的透过量的第一衰减元件测量位移。此时，使用被检体的X射线透过率，该X射线透过率是通过使用具有不根据X射线的入射位置而改变的透过量的第二衰减元件计算的。
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公开(公告)号：CN102639059A
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN201080054070.5
申请日：2010-11-29
申请人： 佳能株式会社
CPC分类号： G01N23/046 , A61B6/06 , A61B6/484 , G01N2223/419
摘要： X射线成像装置和X射线成像方法可减轻散射的X射线对于获得的图像的影响。通过使用分离元件和使X射线扫描速度与检测单元的图像获取速度同步化的曝光控制单元，计算检测物体的微分相位衬度图像或相位衬度图像。
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公开(公告)号：CN102458254A
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201080026082.7
申请日：2010-06-09
申请人： 佳能株式会社
CPC分类号： G01N23/04 , A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4233 , A61B6/484 , G21K1/06 , G21K2207/005
摘要： 本发明旨在提供与在WO2008/029107中公开的方法相比确保关于检测器的像素尺寸的X射线移动量的足够的检测范围的X射线成像装置等。本发明的X射线成像装置具有：在空间上线状分割X射线的分割元件；和屏蔽被分割元件分割并且通过被检体改变位置的X射线的一部分的屏蔽单元。所述屏蔽单元具有透过X射线的区域和具有屏蔽X射线的屏蔽元件的区域。透过X射线的区域和具有屏蔽元件的区域之间的分割线被配置为倾斜地布置以与线状分割的X射线相交。
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公开(公告)号：CN102272861A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080004293.0
申请日：2010-01-15
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G21K1/06
CPC分类号： G21K1/06 , A61B6/484 , G21K2207/005
摘要： 一种尺寸减小的X射线成像装置和方法，能够获得考虑被检物的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像。X射线在空间上被分离，并且，使用其中X射线的透过量根据X射线穿过被检物时的位移而连续变化的第一衰减元件。通过使用第一衰减元件和第二衰减元件来计算透过率，第二衰减元件关于X射线的透过量在X射线的位移方向上的变化量或变化特性与第一衰减元件不同。使用透过率来计算被检物的微分相位图像等。
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公开(公告)号：CN102272860A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080004291.1
申请日：2010-01-15
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G21K1/06
CPC分类号： G21K1/06 , A61B6/484 , G21K2207/005
摘要： 可以获得考虑被检体的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像的尺寸减小的X射线成像装置和方法。测量被分离元件分离并且穿过被检体的X射线的位移。可通过使用具有根据X射线的入射位置连续改变的透过量的第一衰减元件测量位移。此时，使用被检体的X射线透过率，该X射线透过率是通过使用具有不根据X射线的入射位置而改变的透过量的第二衰减元件计算的。
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公开(公告)号：CN102272861B
公开(公告)日：2014-07-30
申请号：CN201080004293.0
申请日：2010-01-15
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G21K1/06
CPC分类号： G21K1/06 , A61B6/484 , G21K2207/005
摘要： 一种尺寸减小的X射线成像装置和方法，能够获得考虑被检物的X射线吸收效果的微分相位图像或相位图像。X射线在空间上被分离，并且，使用其中X射线的透过量根据X射线穿过被检物时的位移而连续变化的第一衰减元件。通过使用第一衰减元件和第二衰减元件来计算透过率，第二衰减元件关于X射线的透过量在X射线的位移方向上的变化量或变化特性与第一衰减元件不同。使用透过率来计算被检物的微分相位图像等。
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公开(公告)号：CN102187207B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN200980141289.6
申请日：2009-10-19
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/484 , G01N2223/419 , G01T1/00 , G21K2207/005
摘要： 用于获得关于由被检体导致的X射线的相位偏移的信息的X射线成像装置包括：分离元件，用于将从X射线产生器单元发射的X射线在空间上分离成X射线束；衰减器单元，具有用于接收被分离元件分离的X射线束的衰减元件的布置；以及强度检测器单元，用于检测被衰减器单元衰减的X射线束的强度；并且衰减元件依赖于该元件上的X射线入射位置连续改变X射线的透射量。
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公开(公告)号：CN102472823A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201080032288.0
申请日：2010-07-23
申请人： 佳能株式会社
CPC分类号： G01T1/202 , G01N23/223 , G01N2223/076 , G01T1/1641
摘要： 提供X射线成像设备和用于X射线成像设备的X射线成像方法。X射线成像设备包括被配置为空间分离由X射线产生器单元产生的X射线的分离元件和包含布置于其中的多个第一闪烁体的闪烁体阵列，这里，使得分离的X射线入射到第一闪烁体上。第一闪烁体中的每一个被配置为根据X射线的入射位置改变由X射线引起的荧光的强度。X射线成像设备还包括被配置为检测从闪烁体阵列发射的荧光的强度的检测器。
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公开(公告)号：CN102187207A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200980141289.6
申请日：2009-10-19
申请人： 佳能株式会社
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/046 , A61B6/032 , A61B6/484 , G01N2223/419 , G01T1/00 , G21K2207/005
摘要： 用于获得关于由被检体导致的X射线的相位偏移的信息的X射线成像装置包括：分离元件，用于将从X射线产生器单元发射的X射线在空间上分离成X射线束；衰减器单元，具有用于接收被分离元件分离的X射线束的衰减元件的布置；以及强度检测器单元，用于检测被衰减器单元衰减的X射线束的强度；并且衰减元件依赖于该元件上的X射线入射位置连续改变X射线的透射量。
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