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公开(公告)号:CN116859682B
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202311111047.0
申请日:2023-08-31
申请人: 光科芯图(北京)科技有限公司
摘要: 本发明涉及光刻技术领域,具体涉及一种掩模的曝光标定装置及方法,应用于光刻机,装置包括光源、准直结构和标准掩模。其中,光源用于产生激光光束,形成标定光路;准直结构沿标定光路设置在光源和对应准直结构的成像位置之间,用于对激光光束进行准直以形成入射至成像位置的准直光束;其中,成像位置用于作为全息掩模的曝光位置;标准掩模对应于准直光束,在第一状态下以第一位姿设置在成像位置上,根据准直光束入射标准掩模之后产生的第一成像结果调节准直结构;其中,基于调节之后的准直结构,全息掩模在第二状态下以第一位姿在成像位置实现曝光,从而完成曝光标定。本发明通过标准掩模实现了曝光标定,从而确保了后续光刻曝光精准度。
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公开(公告)号:CN116859682A
公开(公告)日:2023-10-10
申请号:CN202311111047.0
申请日:2023-08-31
申请人: 光科芯图(北京)科技有限公司
摘要: 本发明涉及光刻技术领域,具体涉及一种掩模的曝光标定装置及方法,应用于光刻机,装置包括光源、准直结构和标准掩模。其中,光源用于产生激光光束,形成标定光路;准直结构沿标定光路设置在光源和对应准直结构的成像位置之间,用于对激光光束进行准直以形成入射至成像位置的准直光束;其中,成像位置用于作为全息掩模的曝光位置;标准掩模对应于准直光束,在第一状态下以第一位姿设置在成像位置上,根据准直光束入射标准掩模之后产生的第一成像结果调节准直结构;其中,基于调节之后的准直结构,全息掩模在第二状态下以第一位姿在成像位置实现曝光,从而完成曝光标定。本发明通过标准掩模实现了曝光标定,从而确保了后续光刻曝光精准度。
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