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公开(公告)号：CN115099520B
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202210833664.0
申请日：2022-07-15
申请人： 兰州交通大学
IPC分类号： G06Q10/04 , G06F30/23 , G06F111/04 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
摘要： 本发明公开了压接型IGBT模块不同位置故障下芯片寿命预测方法，属于电力电子器件可靠性分析技术领域。方法包括建立压接型IGBT模块几何模型；设置不同材料的参数；根据各个物理场的耦合关系，考虑电学、热学、力学约束，设定压接型IGBT模块的仿真条件；仿真分析不同位置的芯片故障后对其他芯片应力及温度分布的影响；利用寿命预测模型，计算IGBT模块不同位置芯片故障时的寿命。本发明相较于现有技术中关注的在IGBT内部芯片正常运行时对于IGBT内部的温度场和应力场的建模和仿真，本发明结果对于压接型IGBT模块的可靠性分析具有重要的理论意义与重大的工程运行指导意义。
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公开(公告)号：CN115099113A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210832023.3
申请日：2022-07-15
申请人： 兰州交通大学
IPC分类号： G06F30/23 , G06F30/25 , G06F30/28 , G06F113/08 , G06F119/14
摘要： 本发明公开了一种高速铁路接触线‑车顶空间离子流场分布计算方法，属于高电压与绝缘技术领域，以解决高速铁路接触网离子流场研究空白的问题。方法基于有限元方法进行接触线‑车顶空间模型几何建模；对求解离子流场的控制方程进行描述；根据控制方程对接触线‑车顶模型进行边界条件的假设；对模型进行材料参数设置；对模型参数设定、物理场选择、网格划分及求解器设置；仿真计算得到接触线‑车顶空间离子流场的分布特性。本发明能够对不同气流速度下接触线附近的离子流场进行分析计算，结果可为车顶外绝缘设计优化、车顶电磁干扰分析等提供工程依据。
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公开(公告)号：CN115099113B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202210832023.3
申请日：2022-07-15
申请人： 兰州交通大学
IPC分类号： G06F30/23 , G06F30/25 , G06F30/28 , G06F113/08 , G06F119/14
摘要： 本发明公开了一种高速铁路接触线‑车顶空间离子流场分布计算方法，属于高电压与绝缘技术领域，以解决高速铁路接触网离子流场研究空白的问题。方法基于有限元方法进行接触线‑车顶空间模型几何建模；对求解离子流场的控制方程进行描述；根据控制方程对接触线‑车顶模型进行边界条件的假设；对模型进行材料参数设置；对模型参数设定、物理场选择、网格划分及求解器设置；仿真计算得到接触线‑车顶空间离子流场的分布特性。本发明能够对不同气流速度下接触线附近的离子流场进行分析计算，结果可为车顶外绝缘设计优化、车顶电磁干扰分析等提供工程依据。
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公开(公告)号：CN115270554A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210833357.2
申请日：2022-07-15
申请人： 兰州交通大学
IPC分类号： G06F30/23 , G06F30/28 , G06F30/17 , G06F113/08 , G06F119/08 , G06F119/14
摘要： 本发明公开了一种加速度对高铁车顶绝缘子流场影响的分析方法，属于高电压与绝缘技术领域。方法包括：基于有限元仿真进行高铁车顶绝缘子模型几何建模，以大气环境为流场，以高铁绝缘子为固体点，建立流场模型和固体运动模型，并设置高铁和绝缘子的几何参数；对绝缘子迎风面和背风面的不同位置进行编号并更新各固体点周围流场分布情况；使用有限元仿真方法对模型进行材料参数设置；使用有限元仿真方法对模型进行物理场设置、网格剖分及求解计算。本发明得出加速度情况下绝缘子表面压力与密度分布差异大于恒速情况下绝缘子表面压力与密度分布的结论，可用于探明高速列车启动和刹车时车顶绝缘子流场分布规律与车顶绝缘子闪络机理及高铁车顶流场设计。
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公开(公告)号：CN115935800A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211476536.1
申请日：2022-11-23
申请人： 国网宁夏电力有限公司电力科学研究院 , 兰州交通大学
IPC分类号： G06F30/27 , G06F30/28 , G06N3/0499 , G06N3/084 , G06Q50/26
摘要： 本发明公开一种高铁车顶绝缘子沿面闪络电压预测方法、介质及系统，包括：基于高铁车顶绝缘子正前方的气流参数的预设值，通过仿真实验获得绝缘子表面的气流参数的第一仿真值；基于气流参数的预设值和第一仿真值，通过风洞实验获得气流环境下绝缘子沿面闪络电压的实验值；采用气流参数的预设值，气流参数的第一仿真值，以及，闪络电压的实验值训练预测神经网络；基于绝缘子正前方的气流参数的实测值，通过仿真实验获得绝缘子表面的气流参数的第二仿真值；将绝缘子正前方的气流参数的实测值和表面的气流参数的第二仿真值输入训练后的预测神经网络，输出高铁车顶绝缘子沿面闪络电压的预测值。本发明可实现强气流下高铁车顶绝缘子沿面闪络电压的预测。
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公开(公告)号：CN115099520A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210833664.0
申请日：2022-07-15
申请人： 兰州交通大学
IPC分类号： G06Q10/04 , G06F30/23 , G06F111/04 , G06F119/02 , G06F119/08 , G06F119/14
摘要： 本发明公开了压接型IGBT模块不同位置故障下芯片寿命预测方法，属于电力电子器件可靠性分析技术领域。方法包括建立压接型IGBT模块几何模型；设置不同材料的参数；根据各个物理场的耦合关系，考虑电学、热学、力学约束，设定压接型IGBT模块的仿真条件；仿真分析不同位置的芯片故障后对其他芯片应力及温度分布的影响；利用寿命预测模型，计算IGBT模块不同位置芯片故障时的寿命。本发明相较于现有技术中关注的在IGBT内部芯片正常运行时对于IGBT内部的温度场和应力场的建模和仿真，本发明结果对于压接型IGBT模块的可靠性分析具有重要的理论意义与重大的工程运行指导意义。
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