-
公开(公告)号：CN111968768A
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN202010815827.3
申请日：2020-08-14
Applicant: 兰州大学 , 中国核动力研究设计院
Abstract: 本发明公开了一种基于主动中子空间强度分布的核燃料燃耗深度测量装置及其测量方法，测量装置包括紧凑型D-D中子源、D-D中子源外依次包裹的中子慢化体和γ屏蔽体、中子慢化体中设置的锥形中子准直孔道及与锥形中子准直孔道连接的热中子像探测器系统，锥形中子准直孔道设置于紧凑型D-D中子源上方一定距离处，用于获得准平行中子束。由于热中子与核燃料中不同元素的反应截面不一样，锥形中子准直孔道透射穿过核燃料元件样品的中子通量在空间上具有差异性，根据建立的热中子透射强度与燃料燃耗的响应模型，测得核燃料元件燃耗深度空间分布及平均燃耗。本发明属于新型的核燃料燃耗非破坏性分析技术，具有快速、准确、无损、良好空间分辨性的特点。
-
公开(公告)号：CN115266795A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210908933.5
申请日：2022-07-29
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2252 , G01N23/2204
Abstract: 本发明公开了一种强放射性燃料元件裂变气体产物扩散行为表征方法，包括放射性燃料试样电子探针装样、装样后测试以获得燃料元件的裂变气体元素的迁移扩散行为；装样过程包括样品台预处理：以样品卡座作为样品固定结构，在装样前将样品卡座固定在样品台上，并将样品卡座的高度调节至匹配电子探针极靴尺寸；装样：在屏蔽手套箱内将试样固定于样品卡座的凹口内，推入电镜舱室内抽真空，静置，即完成装样。本发明将装样过程的精细化操作集中在预备环节，而后续的装样通过屏蔽手套箱，且仅需压紧导电胶即可完成装样，避免长时间近距离接触放射性试样，极大的降低了人员所受放射性剂量。
-
公开(公告)号：CN112285141B
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202011131593.7
申请日：2020-10-21
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2251 , G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种辐照后反应堆结构材料SEM试样的制备方法，依次包括以下步骤：步骤1，取未经辐照的反应堆结构材进行加工获得预制试样，预制试样的尺寸大小和表观质量需满足SEM测试试样的要求；步骤2，将步骤1获得的预制试样置于闭合容器内，通过夹块夹持闭合容器，并装载到辐照装置内再入堆进行辐照考验；步骤3，辐照结束后，取出闭合容器中的辐照后试样并进行等离子清洗，即可用于SEM分析检测。本发明有效解决了现有辐照后反应堆结构材料SEM试样制备难度大、尺寸精度差、成品率低及不易批量化等问题；能避免夹块固定过程可能出现的试样受力不均、夹持点局部热导不均匀等问题，尤其适用于强放射性、小尺寸SEM试样的制备。
-
公开(公告)号：CN114509460A
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN202210151374.8
申请日：2022-02-18
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2202 , G01N1/32 , G01N1/34
Abstract: 本发明公开了一种中子辐照前锆合金扫描电镜试样预处理方法，先对试样进行磨抛再进行酸洗，所述磨抛依次包括粗抛和精抛，所述粗抛为试样在不同颗粒度的砂纸上由粗到细依次磨制，磨制方式为每更换一次砂纸时，将试样旋转90°与旧磨痕成垂直方向继续磨制，直到旧磨痕完全消失，且新磨痕均匀一致为止。本发明所述方法通过对试样表面进行磨抛和化学腐蚀(酸洗)，可最大程度的减小中子辐照注入面的粗糙度和应力层。此外，利用该方法制得的扫描电镜锆合金试样经中子辐照后可直接利用扫描电镜进行显微组织和成分分析，避免辐照后制氧的放射性威胁。
-
公开(公告)号：CN112926205B
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202110205918.X
申请日：2021-02-24
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G06F30/20 , G16C60/00 , G06F111/10
Abstract: 本发明公开了基于团簇动力学的锆基合金辐照损伤模拟方法及模型系统，涉及核材料辐照模拟技术领域，其技术方案要点是：基于团簇动力学、缺陷之间相互作用的物理机制和位错环生长问题建立团簇动力学模型；将获取的材料参数作为数值模拟参数输入至团簇动力学模型模拟计算得到点缺陷团簇的浓度与辐照剂量的依赖关系数据；对依赖关系数据进行数据处理后得到缺陷团簇数密度的剂量依赖关系、团簇中缺陷数量的分布信息以及固定剂量下缺陷团簇大小的分布信息。本发明提供的团簇动力学模型可以模拟中子辐照过程中点缺陷形成点缺陷团簇的过程，模拟不同辐照条件下缺陷结构的演化和缺陷团簇动力学，计算位错环的生长、空洞的生长、缺陷团簇的吸收演化过程等。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112285141A
公开(公告)日：2021-01-29
申请号：CN202011131593.7
申请日：2020-10-21
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2251 , G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种辐照后反应堆结构材料SEM试样的制备方法，依次包括以下步骤：步骤1，取未经辐照的反应堆结构材进行加工获得预制试样，预制试样的尺寸大小和表观质量需满足SEM测试试样的要求；步骤2，将步骤1获得的预制试样置于闭合容器内，通过夹块夹持闭合容器，并装载到辐照装置内再入堆进行辐照考验；步骤3，辐照结束后，取出闭合容器中的辐照后试样并进行等离子清洗，即可用于SEM分析检测。本发明有效解决了现有辐照后反应堆结构材料SEM试样制备难度大、尺寸精度差、成品率低及不易批量化等问题；能避免夹块固定过程可能出现的试样受力不均、夹持点局部热导不均匀等问题，尤其适用于强放射性、小尺寸SEM试样的制备。
-
公开(公告)号：CN115266793B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202210908929.9
申请日：2022-07-29
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2251 , G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种辐照后UO2核燃料的亚晶界演变行为获取方法，所述的辐照后UO2试样具有高燃耗特征，通过大压力下的研磨获得微区断面，然后对UO2的微区断面的形貌特征进行表征观察以获取演变行为；所述获取UO2微区断面的方法为：在热室内对辐照后的UO2试样进行镶嵌、磨制、抛光处理；磨制过程为：分别在200目砂纸压力40N‑50N、600目砂纸压力35N‑45N、1200目砂纸压力30N‑40N三种状态下各磨制5min‑6min。本发明通过微区断面暴露亚晶界形貌，亚晶界的形貌特征未被掩盖，可以在大尺度范围下进行观察获得亚晶界的形成及演变行为特征。
-
公开(公告)号：CN114935410B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202210679252.6
申请日：2022-06-16
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01K7/04 , G01K1/14 , G21C17/00 , G21C17/112
Abstract: 本发明公开了一种适用于失水事故快速升温的温度测量方法，包括采用接触式测温装置对非接触式测温装置进行连续标定，拟合温度补偿曲线，修正非接触式测温装置在不同温度下的测温示数；开展模拟失水事故实验并输出根据温度补偿曲线修正后的测温示数；一种适用于失水事故快速升温的温度测量装置，包括实验底座、实验炉体、样品支架、非接触式测温仪、接触式测温传感器和控制系统，样品支架的下端与实验底座的贴合面固定连接，非接触式测温仪设置在实验炉体的上方，接触式测温传感器设置在样品支架上，且与试样贴合；本发明通过接触式测温传感器标定非接触式测温仪的测温示数，然后在进行模拟事故时，可以通过非接触式测温仪实现快速精准的测温。
-
公开(公告)号：CN115266795B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202210908933.5
申请日：2022-07-29
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N23/2252 , G01N23/2204
Abstract: 本发明公开了一种强放射性燃料元件裂变气体产物扩散行为表征方法，包括放射性燃料试样电子探针装样、装样后测试以获得燃料元件的裂变气体元素的迁移扩散行为；装样过程包括样品台预处理：以样品卡座作为样品固定结构，在装样前将样品卡座固定在样品台上，并将样品卡座的高度调节至匹配电子探针极靴尺寸；装样：在屏蔽手套箱内将试样固定于样品卡座的凹口内，推入电镜舱室内抽真空，静置，即完成装样。本发明将装样过程的精细化操作集中在预备环节，而后续的装样通过屏蔽手套箱，且仅需压紧导电胶即可完成装样，避免长时间近距离接触放射性试样，极大的降低了人员所受放射性剂量。
-
公开(公告)号：CN116718447A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310648050.X
申请日：2023-06-02
Applicant: 中国核动力研究设计院
IPC: G01N1/28 , G01N3/46 , G01N3/40 , G01N3/02 , G01N23/2251 , G01N23/2204 , G01N23/2202
Abstract: 一种微观分析及纳米力学测试样品的通用样品台及使用方法，包括纳米压痕样品台、精研一体机磨抛的固定卡台、电子探针和扫描电镜表征的固定台座；纳米压痕样品台底部开设有用于固定的圆柱形凸块，电子探针与扫描电镜固定座在靠近精研一体机磨抛固定卡台的一侧顶部设有圆柱形凹槽；精研一体机固定卡台在靠近与纳米压痕样品台的一侧顶部开设有圆柱形凹槽，且精研一体机固定卡在靠近电子探针与扫描电镜固定座的一侧底部设有与圆柱形凹槽相互配合的圆柱形凸块，电子探针与扫描电镜固定座顶部的一侧开设有用于与固定螺栓相适配的固定螺孔，精研一体机磨抛固定卡台顶部的一侧开设有用于与固定螺栓相适配的固定螺孔。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
67
records
(took 0.04 seconds)
