-
公开(公告)号：CN111344611A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201880072865.5
申请日：2018-11-30
申请人： 凸版印刷株式会社
摘要： 提供显示体、带显示体的设备以及显示体的制造方法，该显示体能够根据观察条件而目视确认到互不相同的外观像，能够提高基于反射光或透射光的像的波长选择性，并且具有抗菌性。显示体具有周期性构造体，该周期性构造体是具有支撑部以及多个周期性要素的介电质，所述支撑部具有基准面，所述多个周期性要素在基准面以具有副波长周期的二维格栅状而排列，所述周期性要素是从基准面凸出的凸部或者相对于基准面凹陷的凹部。并且，显示体具有金属层，该金属层位于作为包含基准面中的将周期性要素包围的区域以及周期性要素的表面在内的面的周期性构造体的表面，具有追随周期性构造体的表面形状的形状，沿着作为多个所述周期性要素以二维格栅状排列的方向的第1方面的周期性要素之间的间隙距离，与沿着与第1方向相交叉的第2方向的所述周期性要素之间的间隙距离不同。
-
公开(公告)号：CN109328314A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201780039380.1
申请日：2017-06-23
申请人： 凸版印刷株式会社
IPC分类号： G02B5/18 , B32B3/30 , B32B15/08 , B42D25/328 , B42D25/373 , G02B5/20 , G02B5/28 , G09F19/12
摘要： 一种光学装置，具备：具有基准面的支持部；以及具备多个周期要素并作为电介质的周期结构体，其中所述多个周期要素在基准面上排列为具有亚波长周期的二维点阵状，并且是从基准面突出的凸部以及从基准面凹陷的凹部中的任一者。进一步地，光学装置具备位于周期结构体的表面、且具有跟随周期结构体的表面形状的形状的金属层，其中该周期结构体的表面是包括所述周期要素的表面以及基准面当中的包围周期要素的区域的面。
-
公开(公告)号：CN101978241B
公开(公告)日：2013-05-29
申请号：CN200980109275.6
申请日：2009-03-19
申请人： 凸版印刷株式会社
IPC分类号： G01B15/00 , G01N23/225 , H01J37/22 , H01L21/66
CPC分类号： G01B15/04 , G01B2210/56 , G01N23/00 , G06T7/0006 , G06T7/13 , G06T2207/10061 , G06T2207/10152 , G06T2207/30148 , G21K7/00 , H01J2237/221 , H01J2237/2611 , H01J2237/2809 , H01J2237/2817
摘要： 一种微细结构体检查方法，用于检查样品微细结构图案的侧壁角度，其特征在于，具有：在多个SEM条件下拍摄所述样品微细结构图案的SEM照片的工序；测定所述SEM照片中的所述样品微细结构图案的边缘部位的白色带宽度的工序；基于所述白色带宽度随着所述多个SEM条件间的变化产生的变化量，计算出所述样品微细结构图案的侧壁角度的工序。
-
公开(公告)号：CN117813513A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202280051722.2
申请日：2022-07-26
申请人： 凸版印刷株式会社
IPC分类号： G01N35/08 , B01D19/00 , B01J19/00 , B05D3/06 , B81B1/00 , B81C1/00 , B81C3/00 , G01N37/00 , G03F7/40
摘要： 本发明提供可以抑制形成流路的树脂层与覆盖材料的接合不良的发生及流路变形的微流路芯片、以及其制造方法。微流路芯片(1)具备：基板(10)；由树脂材料构成并设置在基板(10)上以形成流路的隔壁层(11)；以及设置在隔壁层(11)的与基板(10)相反侧的面上的覆盖层(12)，其中，隔壁层(11)的弹性模量为1MPa以上且10GPa以下的范围内。
-
公开(公告)号：CN101978241A
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200980109275.6
申请日：2009-03-19
申请人： 凸版印刷株式会社
IPC分类号： G01B15/00 , G01N23/225 , H01J37/22 , H01L21/66
CPC分类号： G01B15/04 , G01B2210/56 , G01N23/00 , G06T7/0006 , G06T7/13 , G06T2207/10061 , G06T2207/10152 , G06T2207/30148 , G21K7/00 , H01J2237/221 , H01J2237/2611 , H01J2237/2809 , H01J2237/2817
摘要： 一种微细结构体检查方法，用于检查样品微细结构图案的侧壁角度，其特征在于，具有：在多个SEM条件下拍摄所述样品微细结构图案的SEM照片的工序；测定所述SEM照片中的所述样品微细结构图案的边缘部位的白色带宽度的工序；基于所述白色带宽度随着所述多个SEM条件间的变化产生的变化量，计算出所述样品微细结构图案的侧壁角度的工序。
-
-
-
-
搜索结果
5 条记录 (耗时 0.031 秒)
