反射型光掩模坯以及反射型光掩模

    公开(公告)号:CN112997116A

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN201980073304.1

    申请日:2019-11-01

    Abstract: 本发明提供具有良好的耐照射性,并且能够得到良好的转印性能的反射型光掩模坯以及反射型光掩模。反射型光掩模坯(10)在基板(1)的一个面上依次形成有反射入射光的反射层(2)、以及吸收入射光的吸收层(4)。吸收层(4)至少在最表层中含有:从锡、铟、碲的组中选择的第1材料,以及由从过渡金属、铋、硅的组中选择的1种或2种以上的材料构成的第2材料。第2材料的含量在同一层内大于20原子%且小于50原子%。

    反射型光掩模坯和反射型光掩模

    公开(公告)号:CN113906343A

    公开(公告)日:2022-01-07

    申请号:CN202080039794.6

    申请日:2020-05-28

    Abstract: 提供可以在抑制投影效应的同时提高掩模的寿命的反射型光掩模坯和反射型光掩模。反射型光掩模坯(10)具备:基板(1)、设置在基板(1)上并反射入射光的反射部(7)、以及设置在反射部(7)上并吸收入射光的低反射部(8)。低反射部(8)为至少2层以上的层叠结构。低反射部(8)的最表层(5)相对于EUV(Extreme UltraViolet:极端紫外线,波长13.5nm)光的折射率n为0.90以上、消光系数k为0.02以下。

    反射型光掩模坯以及反射型光掩模

    公开(公告)号:CN110785704A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201880042388.8

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 第一实施方式的反射型光掩模坯(10)具备:基板(1),在基板(1)上形成的反射层(2),以及在反射层(2)上形成的、包含膜厚为17nm以上且小于25.0nm的氧化锡膜的光吸收层(4)。由此,抑制或减轻以远紫外线为光源的图案转印用的反射型光掩模的投影效应,提高对半导体基板的转印性能,并且同时抑制因清洗而产生的图案倒塌。

    反射型光掩模及其制造方法

    公开(公告)号:CN105359255B

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201480038079.5

    申请日:2014-08-28

    Abstract: 反射型光掩模(10)具有基板(11);形成在该基板(11)上的多层反射膜(12),该多层反射膜反射平版印刷用的包含波长5nm以上15nm以下的光的曝光光;形成在该多层反射膜(12)上的吸收膜(14),该吸收膜吸收曝光光且同时形成有电路图案(15)或者电路图案形成预定区域;在电路图案(15)或者电路图案形成预定区域的外周侧,通过除去基板(11)上的多层反射膜(12)和吸收膜(14)的一部分而形成的遮光区域(B),该遮光区域遮蔽由多层反射膜(12)反射的曝光光的一部分;以及在该遮光区域(B)的露出的基板表面(11b)的一部分上以3000nm以下的间距形成的多个凸部(1),该多个凸部抑制曝光光所含的入射到遮光区域(B)的带外光的反射,所述带外光具有140nm以上800nm以下的波长。

    反射型光掩模坯以及反射型光掩模

    公开(公告)号:CN110785703A

    公开(公告)日:2020-02-11

    申请号:CN201880042350.0

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 第一实施方式的反射型光掩模坯(10)具备:基板(1)、在基板(1)上形成的反射层(2)、和在反射层(2)上形成的光吸收层(4)。光吸收层(4)包含氧(O)相对于锡(Sn)的原子数比(O/Sn)超过1.50且为2.0以下、并且膜厚为25nm以上45nm以下的氧化锡膜。由此,抑制或减轻以远紫外为光源的图案转印用的反射型光掩模的投影效应,提高对半导体基板的转印性能,同时提高光吸收层的耐清洗性。

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