一种测厚仪及其辅助定位装置

    公开(公告)号:CN117109493B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311369545.5

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及射线测厚技术领域,具体涉及一种测厚仪及其辅助定位装置,一方面,通过设置错位的导向辊和检测辊,使得带状工件在输送时能够被张紧,并在该张紧作用下展平带状工件上的变形褶皱,使得工件能够以正确的位置关系进行检测;另一方面,通过设置多个检测区域,使X射线发射器和X射线探测器能够沿检测辊轴向移动并对多个检测区域处的工件厚度进行检测,增强了检测的准确性。

    一种高精度X射线测试方法

    公开(公告)号:CN117109492B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311369307.4

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及射线测厚技术领域,具体提供了一种高精度X射线测试方法,通过获取工件长度S、工件设计厚度T、工件吸收系数μ和测量精度参数P,并获取反射层间距H和反射次数N;将工件放置于两个相互平行的反射层之间,两个反射层之间的间距为H;发射器以倾斜角度θ2向工件发射射线强度为E0的X射线,通过探测器接收X射线并获取接收时的接收强度E1,其中,θ2=arctanP/H);计算工件的测试平均厚度D=‑(LnE1‑LnE0/μN)*cosθ2。通过发射一次X射线,使得X射线在两个反射层之间进行多次反射并穿过工件多次,最终求得工件的平均厚度,提高了工件厚度的测定效率。

    一种X射线测厚仪校准支架

    公开(公告)号:CN117109491B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311369241.9

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及厚度检测技术领域,具体涉及一种X射线测厚仪校准支架,包括输送装置、检测箱、第一矫正单元、第二矫正单元和测量组件,在对钢带表面的镀层厚度进行检测时,输送装置将镀层后的钢带朝向预设方向输送,在输送钢带的过程中经过检测腔,第一矫正单元中的两个矫正部将钢带箱宽度方向的两侧进行牵引,将钢带宽度方向的褶皱进行矫正,第二感应杆能够检测到钢带沿长度方向的褶皱,第二矫正单元将钢带长度方向的褶皱进行校正,减少钢带在长度方向或宽度方向的褶皱对镀层厚度测量造成影响,从而提高对钢带镀层厚度测量的准确性。

    一种X射线测厚仪探头
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117109486B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311368851.7

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及测厚仪技术领域,具体涉及一种X射线测厚仪探头,X射线测厚仪探头包括探头主体、安装头和调节环,探头主体的一端设置有探头、另一端的外周壁上设置有多个弹条,弹条能够发生弹性形变并于形变前后具有相应的锁定状态和解锁状态,安装头上设置有安装孔,安装孔的内周壁上设置有数量和弹条相等且对应的滑槽,安装头的内部设置有插槽,调节环能够转动地插装在安装头内部且和安装孔同轴设置,调节环在转动前后具有相应的锁定位置和解锁位置,调节环处于锁定位置时,连接槽和滑槽错位设置,弹条插装在插槽内部并和插槽摩擦锁定;调节环处于解锁位置时,连接槽和滑槽对应设置,弹条脱离插槽,从而保证探头主体的检修维护效率。

    一种钢板测厚数据优化采集方法

    公开(公告)号:CN117112981B

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311368950.5

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及厚度测量领域,具体涉及一种钢板测厚数据优化采集方法,采集待测钢板各测量位置的温度数据组成温度补偿矩阵,构建各元素的温度分布序列,拟合得到温度拟合曲线,结合各元素温度拟合曲线上的数据分布构建各元素单峰数据集的单峰特征序列;计算元素的各单峰数据集的单峰变异程度及密度一致性指标;结合各元素密度一致性指标的LOF值得到各元素的密度偏差率;进而获取各元素的密度代表比率矢量;根据各元素密度代表比率矢量得到各元素的温度补偿系数,基于此获取待测钢板各测量位置的优化钢板厚度,完成待测钢板测厚标数据采集的优化。从而结合温度补偿系数对钢板测厚数据进行优化,具有较高的钢板测厚数据精度。

    一种X射线金属镀层测厚仪

    公开(公告)号:CN117168372A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311368926.1

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及厚度检测技术领域,具体涉及一种X射线金属镀层测厚仪,其包括输送装置、检测箱、矫正辊、测量组件和检测单元,在对钢带表面的镀层厚度进行检测时,输送装置将镀层后的钢带朝向预设方向输送,在输送钢带的过程中经过检测腔,检测腔内部的矫正辊将褶皱的钢带进行矫正,检测单元能够检测钢带下方固定点距离钢带下表面的最小距离,即检测单元能够检测到钢带沿长度方向的褶皱,测量组件中的射线仪能够根据检测单元的数据进行改变射线角度,在保证射线仪的射线照射在钢带上的点不发生变化时,射线反弹后的角平分线始终与钢带在照射点上的切线垂直,确保射线反射过程中发生的荧光反射能够进入成像仪中,增加检测的准确性。

    一种X射线测厚仪校准支架

    公开(公告)号:CN117109491A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311369241.9

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及厚度检测技术领域,具体涉及一种X射线测厚仪校准支架,包括输送装置、检测箱、第一矫正单元、第二矫正单元和测量组件,在对钢带表面的镀层厚度进行检测时,输送装置将镀层后的钢带朝向预设方向输送,在输送钢带的过程中经过检测腔,第一矫正单元中的两个矫正部将钢带箱宽度方向的两侧进行牵引,将钢带宽度方向的褶皱进行矫正,第二感应杆能够检测到钢带沿长度方向的褶皱,第二矫正单元将钢带长度方向的褶皱进行校正,减少钢带在长度方向或宽度方向的褶皱对镀层厚度测量造成影响,从而提高对钢带镀层厚度测量的准确性。

    一种测厚数据滤波优化处理方法

    公开(公告)号:CN117112989B

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311369413.2

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及测量计算技术领域,提出了一种测厚数据滤波优化处理方法,包括:获取X射线测厚参数;根据X射线测厚参数获取每个时刻的测厚数据的随机噪声干扰误差和测厚随机噪声干扰误差序列,根据随机噪声干扰误差获取每个时刻位置处的测厚随机干扰最小影响区间;根据测厚随机干扰最小影响区间计算每个时刻位置处的测厚扰动因子,根据测厚扰动因子计算每个时刻位置处的测厚数据的干扰滤波权重,根据测厚数据的干扰滤波权重获取每个时刻位置处的测厚滤波数据,根据测厚滤波数据获取测厚滤波数据序列对测厚数据滤波优化。本发明有效地降低了X射线测厚过程中干扰噪声影响。

    一种测厚仪及其辅助测量装置

    公开(公告)号:CN117109489A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311369077.1

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明涉及射线测厚技术领域,具体涉及一种测厚仪及其辅助测量装置,通过设置多个检测区域,使X射线发射器和X射线探测器能够沿检测辊轴向移动并对多个检测区域处的工件厚度进行检测,增强了检测的准确性。并且设置有两组检测组件,两组检测组件的检测行程能够相互补充,以使带状工件的每一段均能够被检测到,能够避免系统性缺陷漏检的风险。

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