光谱校正方法及装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118500545A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410965432.X

    申请日:2024-07-18

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本申请提供了一种光谱校正方法及装置,该方法包括:获取标准光源在多个波长处的第一强度值和在探测器的多个像素点各自对应的强度组,每个强度组包括:各个所述波长处的第二强度值;从各个所述像素点的强度组中,确定中心像素点的强度组,应用各个所述波长处的第一强度值,对所述中心像素点的强度组进行强度校正,得到所述中心像素点对应的校正后的强度组;应用各个所述强度组进行归一化处理,得到归一化后的数组,根据所述校正后的强度组以及所述归一化后的数组,得到校正矩阵;获取所述探测器采集的待校正光谱,根据所述校正矩阵,完成所述待校正光谱的校正。本申请能够避免光谱失真的问题,提高校正后的光谱的可靠性。

    多样品光致发光测试装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114397285A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202210202518.8

    申请日:2022-03-02

    IPC分类号: G01N21/64 G01N21/01

    摘要: 本发明为一种多样品光致发光测试装置,该多样品光致发光测试装置包括营造测试所需环境氛围的温控腔,温控腔内设置有至少一个样品,温控腔的外部设置有至少两个光纤模组,一光纤模组用于发射激发光,另一光纤模组用于接收样品发出的信号光,两光纤模组分别与对应的聚焦透镜模组连接,两聚焦透镜模组分别设置于对应的位移台上,两位移台分别调节对应的聚焦透镜模组的位置,以使两聚焦透镜模组可分别透过温控腔上对应的光窗聚焦于样品的同一点上。本发明解决了对多个样品进行测试或者对同一样品上的不同测试点进行测试时,存在操作繁琐、测试效率低的技术问题。

    一种分层成像系统、方法和装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113237832A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110647634.6

    申请日:2021-06-10

    IPC分类号: G01N21/01 G01N21/64 G01N21/65

    摘要: 本发明实施例提供了一种分层成像系统、方法和装置,系统包括:显微物镜、支撑组件、驱动装置、成像镜组和成像仪;显微物镜、成像镜组和成像仪同轴安装于支撑组件;驱动装置驱动成像镜组沿成像镜组的轴线方向运动,使得成像镜组将接收到的反射光汇聚于成像仪依次生成待成像样品的不同高度的光谱图像,在无需移动样品的情况下对样品进行分层成像,成像过程中不受制于外部环境的影响,从而提高三维图像的精度。

    一种稳态瞬态并行测试光谱仪及测试方法

    公开(公告)号:CN118936638A

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202411009038.5

    申请日:2024-07-26

    摘要: 本发明涉及一种稳态瞬态并行测试光谱仪及测试方法,属于光谱测试设备技术领域,方法包括:设置光纤从显微荧光成像光路连接到第一光路导入狭缝或者第二光路导入狭缝;设置高重频脉冲激光器激发频率;控制电动XY位移台,逐点扫描被选定的样品测试区域;由反射光采集单元获取瞬态数据并保存至缓存;同时由透射光采集单元获取光谱数据并保存至缓存;重复上述步骤直至完成对样品测试区域所有点的扫描;获得瞬态荧光寿命衰减曲线或稳态光谱信息。本发明解决了现有光谱仪不能在同一时间对同一测试点同时进行瞬态和稳态测试问题,提高了测试效率,节约了一半的测试时间,最大限度减小了样品变性的可能性,排除了测试中发光过程的差异,实现了原位测试。

    光谱校正方法及装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN118500545B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410965432.X

    申请日:2024-07-18

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本申请提供了一种光谱校正方法及装置,该方法包括:获取标准光源在多个波长处的第一强度值和在探测器的多个像素点各自对应的强度组,每个强度组包括:各个所述波长处的第二强度值;从各个所述像素点的强度组中,确定中心像素点的强度组,应用各个所述波长处的第一强度值,对所述中心像素点的强度组进行强度校正,得到所述中心像素点对应的校正后的强度组;应用各个所述强度组进行归一化处理,得到归一化后的数组,根据所述校正后的强度组以及所述归一化后的数组,得到校正矩阵;获取所述探测器采集的待校正光谱,根据所述校正矩阵,完成所述待校正光谱的校正。本申请能够避免光谱失真的问题,提高校正后的光谱的可靠性。

    闪烁体性能测试装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116299651A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211695167.5

    申请日:2022-12-28

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本发明为一种闪烁体性能测试装置,该闪烁体性能测试装置包括:稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种;能旋转以调节角度的样品架;能移动以调节位置的移动台,所述移动台上设置有透镜组,所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连,所述集光光路的另一端连接有光检测元件;控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态,并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度,以形成不相同的测试光路。本发明可完成对于闪烁体样品多种性能的测试,具有集成度高、成本低、功能多样的优点。

    光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置

    公开(公告)号:CN113237549A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110603388.4

    申请日:2021-05-31

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本申请实施例提供一种光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置,所述方法包括;获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率;构建一斜弧面,并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作,其中,所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光谱打在探测器不同位置时的效率确定;本申请能够快速、准确和便捷的对光谱进行校正,以使当前波长打在探测器的不同像素上时其效率保持基本一致,最终使两次摄谱完美的拼接在一起。

    多样品光致发光测试装置

    公开(公告)号:CN216955725U

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202220448393.2

    申请日:2022-03-02

    IPC分类号: G01N21/64 G01N21/01

    摘要: 本实用新型为一种多样品光致发光测试装置,该多样品光致发光测试装置包括营造测试所需环境氛围的温控腔,温控腔内设置有至少一个样品,温控腔的外部设置有至少两个光纤模组,一光纤模组用于发射激发光,另一光纤模组用于接收样品发出的信号光,两光纤模组分别与对应的聚焦透镜模组连接,两聚焦透镜模组分别设置于对应的位移台上,两位移台分别调节对应的聚焦透镜模组的位置,以使两聚焦透镜模组可分别透过温控腔上对应的光窗聚焦于样品的同一点上。本实用新型解决了对多个样品进行测试或者对同一样品上的不同测试点进行测试时,存在操作繁琐、测试效率低的技术问题。

    闪烁体性能测试装置
    9.
    实用新型

    公开(公告)号:CN218896196U

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202223513510.8

    申请日:2022-12-28

    IPC分类号: G01T7/00

    摘要: 本实用新型为一种闪烁体性能测试装置,该闪烁体性能测试装置包括:稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种;能旋转以调节角度的样品架;能移动以调节位置的移动台,所述移动台上设置有透镜组,所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连,所述集光光路的另一端连接有光检测元件;控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态,并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度,以形成不相同的测试光路。本实用新型可完成对于闪烁体样品多种性能的测试,具有集成度高、成本低、功能多样的优点。

    光谱采集装置
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN214748445U

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202121197533.5

    申请日:2021-05-31

    IPC分类号: G01J3/28 G01J3/02

    摘要: 本申请实施例提供一种光谱采集装置,包括:装置主体、设置在所述装置主体内用于对待测光谱进行分光的光栅和用于对所述待测光谱进行聚光的成像镜,所述成像镜的成像镜射入光路或成像镜射出光路上设置有用于对所述待测光谱进行效率校正的校正装置;本申请能够快速、准确和便捷的对光谱进行校正,以使当前波长打在探测器的不同像素上时其效率保持基本一致,最终使两次摄谱完美的拼接在一起。