公开(公告)号：CN118500545A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410965432.X

申请日：2024-07-18

申请人： 北京卓立汉光分析仪器有限公司 ,  北京卓立汉光仪器有限公司

发明人： 石广立 ,  康建梅 ,  王冰 ,  董安宁 ,  王超

IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/02

摘要： 本申请提供了一种光谱校正方法及装置，该方法包括：获取标准光源在多个波长处的第一强度值和在探测器的多个像素点各自对应的强度组，每个强度组包括：各个所述波长处的第二强度值；从各个所述像素点的强度组中，确定中心像素点的强度组，应用各个所述波长处的第一强度值，对所述中心像素点的强度组进行强度校正，得到所述中心像素点对应的校正后的强度组；应用各个所述强度组进行归一化处理，得到归一化后的数组，根据所述校正后的强度组以及所述归一化后的数组，得到校正矩阵；获取所述探测器采集的待校正光谱，根据所述校正矩阵，完成所述待校正光谱的校正。本申请能够避免光谱失真的问题，提高校正后的光谱的可靠性。

公开(公告)号：CN118500545B

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410965432.X

申请日：2024-07-18

申请人： 北京卓立汉光分析仪器有限公司 ,  北京卓立汉光仪器有限公司

发明人： 石广立 ,  康建梅 ,  王冰 ,  董安宁 ,  王超

IPC分类号： G01J3/28 ,  G01J3/02

摘要： 本申请提供了一种光谱校正方法及装置，该方法包括：获取标准光源在多个波长处的第一强度值和在探测器的多个像素点各自对应的强度组，每个强度组包括：各个所述波长处的第二强度值；从各个所述像素点的强度组中，确定中心像素点的强度组，应用各个所述波长处的第一强度值，对所述中心像素点的强度组进行强度校正，得到所述中心像素点对应的校正后的强度组；应用各个所述强度组进行归一化处理，得到归一化后的数组，根据所述校正后的强度组以及所述归一化后的数组，得到校正矩阵；获取所述探测器采集的待校正光谱，根据所述校正矩阵，完成所述待校正光谱的校正。本申请能够避免光谱失真的问题，提高校正后的光谱的可靠性。