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公开(公告)号：CN117639913A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311458137.7
申请日：2023-11-05
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： H04B10/075 , H04B10/25
摘要： 本申请实施例提供了一种基于线性光采样的超短脉冲光信号采样方法及系统。将超短脉冲光信号通过色散光纤，使超短脉冲光信号发生展宽，生成展宽脉冲光信号；将展宽脉冲光信号和采样脉冲信号输入光学混频器；将光学混频器的输出接入两个光电探测器，经由两个光电探测器生成第一电信号和第二电信号；将第一电信号和第二电信号输入模数转换器，生成数字信号；对数字信号进行峰值提取，并将数字信号恢复为原始的超短脉冲光信号。上述方案通过将待测超短脉冲光信号经过色散光纤，产生较大展宽，对展宽脉冲光信号进行采集，通过数字信号处理技术进行复原，恢复原始的超短脉冲光信号。由此，实现了有效采样，降低模数转换器的带宽，减少系统成本。
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公开(公告)号：CN113552157A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202010353316.4
申请日：2020-04-23
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2204
摘要： 本申请提供一种X射线荧光光谱仪及其样品杯防护件，该样品杯防护件，用于放置样品杯，包括：主体，所述主体设有支撑壁，所述支撑壁设有贯通的开口，所述支撑壁的顶面设有环绕所述开口设置的若干凸台，若干所述凸台的顶端面共面；第一薄膜，所述第一薄膜固定在所述支撑壁的底面上并由底侧封住所述开口。本申请X射线荧光光谱仪的样品杯防护件，通过凸台的设置使第一薄膜与样品杯之间形成开放空间，可供由样品杯渗出的易挥发液体进行挥发，减小对第一薄膜的污染，无需频繁地更换第一薄膜，减少了操作员的工作量，同时也降低了检测成本。
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公开(公告)号：CN105510369B
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201510970857.0
申请日：2015-12-22
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明涉及X射线荧光检测技术领域，具体公开了一种高精度水泥行业专用X射线荧光能谱仪，包括X光管、衍射晶体、样品台、探测器，所述衍射晶体为采用Ge(111)晶体制备的全聚焦双曲面弯晶；所述X光管采用的靶材为Ag靶材；衍射晶体将X光管原级谱中的Ag:La线单色化并聚焦于样品检测面，用于激发样品中难以激发的轻元素。同时X光管原级谱激发Ge的荧光射线，Ge：Ka和Ge：Kb，用于激发样品中易于激发的重元素。探测器的连续背景极低，使能够精确的对水泥生产过程中的各种原料进行精确的全元素分析。
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公开(公告)号：CN105115999B
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201510567341.1
申请日：2015-09-08
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明实施例公开了一种高灵敏度单色激发多元素X射线荧光光谱仪，其中，包括X射线发生器、探测器和等焦距设置的2个或2个以上双曲面弯晶，所述X射线发生器发射的X光经2个或2个以上双曲面弯晶晶体聚焦后得到2个或2个以上不同能量的单色X射线，所述2个或2个以上不同能量的X射线入射于待测样品，然后用探测器检测。本发明采用2个或2个以上双曲面弯晶得到2个或2个以上能量的单色X射线入射样品，采用高分辨率高效率的SDD探测器得到高分辨率能谱，元素检出限相对很低，实现了全元素(Na以上)高精度分析。
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公开(公告)号：CN117949481A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202211279848.3
申请日：2022-10-19
申请人： 北京安科慧生科技有限公司 , 北京邮电大学 , 广东工业大学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2202
摘要： 本发明提供一种碳化硅中物质含量的测定方法，包括以下步骤：步骤1.去除碳化硅样品中的游离碳并测定游离碳的含量；步骤2.将剩余的碳化硅样品进行压片处理，使用X射线荧光光谱仪测定样品中碳、铁、铝、钙、镁、氧、硅元素的含量；步骤3.依据碳含量计算碳化硅含量；依据铁、铝、钙、镁的含量分别计算三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁的含量；步骤4.依据氧元素的含量与三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁中的氧含量之和的差值计算二氧化硅的含量；步骤5.依据硅元素含量与二氧化硅中的硅含量的差值计算游离硅的含量。本发明碳化硅中物质含量的测定方法，能够简便快速测出碳化硅中的物质含量，且无需使用强酸强碱试剂。
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公开(公告)号：CN108802081A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201710285264.X
申请日：2017-04-27
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223
CPC分类号： G01N23/223
摘要： 本申请提供一种X射线荧光(XRF)光谱分析系统和方法，所述系统包括至少一个X射线光源(1)、至少一个探测器(4)和至少一个衍射光学部件(3)，所述衍射光学部件收集所述X射线光源发出的原级X射线，所述原级X射线经所述衍射光学部件衍射后得到单波长X射线，所述单波长X射线用以激发被测样品(5)中的被测元素发射荧光X射线，所述探测器收集并分析所述荧光X射线；所述探测器收集的光线中还包括，单波长X射线被被测样品散射而产生的散射线；所述原级X射线、所述单波长X射线和所述荧光X射线构成单波长偏振消光光路，使所述散射线偏振消光，用以降低或消除单波长X射线在被测样品中散射所引起的背景强度。
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公开(公告)号：CN105510369A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201510970857.0
申请日：2015-12-22
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明涉及X射线荧光检测技术领域，具体公开了一种高精度水泥行业专用X射线荧光能谱仪，包括X光管、衍射晶体、样品台、探测器，所述衍射晶体为采用Ge(111)晶体制备的全聚焦双曲面弯晶；所述X光管采用的靶材为Ag靶材；衍射晶体将X光管原级谱中的Ag:La线单色化并聚焦于样品检测面，用于激发样品中难以激发的轻元素。同时X光管原级谱激发Ge的荧光射线，Ge：Ka和Ge：Kb，用于激发样品中易于激发的重元素。探测器的连续背景极低，使能够精确的对水泥生产过程中的各种原料进行精确的全元素分析。
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公开(公告)号：CN113552158B
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202010353317.9
申请日：2020-04-23
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2204
摘要： 本申请提供一种X射线荧光光谱仪，包括机架及驱动架，机架上设有开口及盖合在开口上的样品盖。X射线荧光光谱仪还包括转臂及驱动片，转臂设有相对的第一端及第二端，第一端与样品盖连接，驱动片设置在驱动架上并设有导槽。驱动架沿机架朝第一方向滑动时，第二端进入导槽内并跟随驱动架移动，第一端被第二端带动而转动，并带动样品盖一起转动打开开口。本申请X射线荧光光谱仪通过设置转臂及驱动架，在驱动架移动的过程中可同时实现样品盖的开启和关闭，可简化结构并降低成本。
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公开(公告)号：CN117949483A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202211279958.X
申请日：2022-10-19
申请人： 北京安科慧生科技有限公司 , 北京邮电大学 , 广东工业大学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2202
摘要： 本发明提供一种三元锂中锂含量的测定方法，其包括以下步骤：步骤1.将三元锂粉末压制成压片样品；步骤2.使用X射线荧光光谱仪测定压片样品中氧、镍、钴、锰的含量；步骤3.依据镍的含量推导出三氧化二镍的含量，依据钴的含量推导出三氧化二钴的含量，依据锰的含量推导出三氧化二锰的含量；步骤4.依据氧元素的含量、三氧化二镍的氧含量、三氧化二钴的氧含量及三氧化二锰的氧含量，推导氧化锂中的氧含量，进而得到氧化锂中的锂含量。本发明能够简便快速测出三元锂中的锂含量。
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公开(公告)号：CN117949479A
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202211274160.6
申请日：2022-10-18
申请人： 北京安科慧生科技有限公司
IPC分类号： G01N23/2204 , G01N23/223
摘要： 本发明提供一种双向移动装置，包括固定面板、移动平台、滑动框、第一驱动装置及第二驱动装置，第一驱动装置驱动移动平台沿X方向移动，第二驱动装置驱动滑动框沿Y方向移动，且移动平台跟随滑动框沿Y方向移动。第一驱动装置包括第一电机、第一传动装置、联轴器、第一丝杆及第一螺母，第一电机及第一传动装置固定在固定面板上，第一丝杆与第一螺母螺纹连接，第一螺母固定至移动平台上。联轴器连接第一传动装置及第一丝杆，联轴器为可伸缩的万向联轴器，在第一丝杆跟随移动平台沿Y方向移动时，万向联轴器可以摆动及伸缩变形。本发明移动平台的第一驱动装置及第二驱动装置的电机及传动装置均可固定在固定面板上，无需叠置，可降低高度及空间占比。
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