一种碳化硅中物质含量的测定方法

    公开(公告)号:CN117949481A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202211279848.3

    申请日:2022-10-19

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2202

    摘要: 本发明提供一种碳化硅中物质含量的测定方法,包括以下步骤:步骤1.去除碳化硅样品中的游离碳并测定游离碳的含量;步骤2.将剩余的碳化硅样品进行压片处理,使用X射线荧光光谱仪测定样品中碳、铁、铝、钙、镁、氧、硅元素的含量;步骤3.依据碳含量计算碳化硅含量;依据铁、铝、钙、镁的含量分别计算三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁的含量;步骤4.依据氧元素的含量与三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙及氧化镁中的氧含量之和的差值计算二氧化硅的含量;步骤5.依据硅元素含量与二氧化硅中的硅含量的差值计算游离硅的含量。本发明碳化硅中物质含量的测定方法,能够简便快速测出碳化硅中的物质含量,且无需使用强酸强碱试剂。

    一种基于线性光采样的超短脉冲光信号采样方法及系统

    公开(公告)号:CN117639913A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311458137.7

    申请日:2023-11-05

    IPC分类号: H04B10/075 H04B10/25

    摘要: 本申请实施例提供了一种基于线性光采样的超短脉冲光信号采样方法及系统。将超短脉冲光信号通过色散光纤,使超短脉冲光信号发生展宽,生成展宽脉冲光信号;将展宽脉冲光信号和采样脉冲信号输入光学混频器;将光学混频器的输出接入两个光电探测器,经由两个光电探测器生成第一电信号和第二电信号;将第一电信号和第二电信号输入模数转换器,生成数字信号;对数字信号进行峰值提取,并将数字信号恢复为原始的超短脉冲光信号。上述方案通过将待测超短脉冲光信号经过色散光纤,产生较大展宽,对展宽脉冲光信号进行采集,通过数字信号处理技术进行复原,恢复原始的超短脉冲光信号。由此,实现了有效采样,降低模数转换器的带宽,减少系统成本。

    一种取样装置
    3.
    发明公开
    一种取样装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115684228A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202110860437.2

    申请日:2021-07-22

    摘要: 本申请涉及一种取样装置,其包括取放部件及旋转部件。取放部件包括两个夹持臂、两个伸缩杆、传动件及第一电机,两个所述夹持臂在水平面上并排设置,所述伸缩杆与相应所述夹持臂垂直连接,所述第一电机通过所述传动件驱动两个所述伸缩杆滑动,两个所述伸缩杆的滑动带动两个所述夹持臂相向或相背移动。旋转部件,设有驱动所述取放部件翻转的第二电机。本申请取样装置结构简单,制造成本低。

    X射线荧光分析仪及其侧向进样装置

    公开(公告)号:CN218239891U

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202222341341.8

    申请日:2022-09-04

    IPC分类号: G01N23/223 G01N23/2204

    摘要: 本实用新型提供一种X射线荧光分析仪及其侧向进样装置,该侧向进样装置包括:样品架,能够上下移动并设有托架;样品组,放置在托架上;定位件,位于样品架的一侧,定位件在样品组到达检测位置高度时托住样品组;抵推组件,位于样品架的相对一侧,样品架在其与样品组分离后的下移过程中推动抵推组件,抵推组件推动样品组横向移动。本实用新型X射线荧光分析仪及其侧向进样装置设有抵推组件,抵推组件在样品架的驱动下推动样品组横向移动,使其与分析仪的相关部件密封连接,实现对样品组的密封,以便进行充气或抽真空处理。同时该侧向进样装置操作方便,仅需下压样品架即可实现样品组的放样和密封两个动作,减少操作步骤,避免误操作。