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公开(公告)号：CN119000766A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411097354.2
申请日：2024-08-12
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N23/2251 , G01N23/2206 , G06T3/4038 , G06T7/10 , G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种基于扫描电镜建立全细胞膜蛋白指纹图谱的方法，涉及生物化学技术领域，包括以下步骤：制作细胞爬片样品；将细胞爬片样品安装到扫描电镜SEM中，并安装二次电子探测器ETD和背散射电子探头BSED；获得全细胞轮廓图，获得良好成分衬度Au纳米颗粒标定的蛋白分布图；获得全细胞膜蛋白指纹图。本发明采用上述一种基于扫描电镜建立全细胞膜蛋白指纹图谱的方法，采用扫描电子显微镜SEM，以二次电子、背散射电子成像，以几个纳米的分辨率，获得由金纳米颗粒特异性标定的单细胞单分子水平成像，利用蒙太奇拼接图方法获得膜蛋白的全细胞成像，实现了膜蛋白聚合状态的原位单分子观察，包括单体、二聚体、多聚体，同时建立膜蛋白全细胞指纹图谱。
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公开(公告)号：CN113324836A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110589564.3
申请日：2021-05-28
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开一种在显微镜中原位变形微纳样品的减震装置及方法，属于显微镜配件及微纳米材料力学性能测量研究领域。包括支撑部、动力部、减震部和载网四部分。纳米材料悬置于两片载网之间，通过加热弯曲的双金属片拉伸或压缩载网，使纳米材料达到变形效果。本发明通过减震装置解决了双金属片技术原位拉伸纳米材料过程中力学稳定性差，样品容易在转移过程中断裂的问题，提高了样品制备的成功率。在实现对单根/多根纳米线轴向拉伸、压缩，以及其它微纳尺度样品变形的同时，可同时观察材料在变形过程中的结构演变。
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公开(公告)号：CN104634660B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201510058796.0
申请日：2015-02-04
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N3/08
Abstract: 透射电镜中原位双倾单轴拉伸纳米线、二维层状薄膜装置及方法，属于透射电镜配件及纳米材料原位力学性能测量研究领域。包括支撑部分、动力部分和载网三部分。支撑部分是金属环；驱动部分是热双金属片，双金属片一端固定在金属环上，另一端通过加热膨胀弯曲移动，产生驱动力；载网可搭载纳米材料，并粘附在双金属片的自由端，加热弯曲的双金属片拉伸载网，从而使纳米材料达到拉伸效果。该装置可以方便实现单根纳米线轴向拉伸、以及单层/多层二维薄膜的拉伸，解决了以往双金属片技术中纳米线和薄膜难以固定以及稳定性差的问题，并可同时观察材料在变形过程中的结构演变。
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公开(公告)号：CN113138125B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202110430040.X
申请日：2021-04-21
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了原位双倾单轴拉伸纳米线装置及其制作方法，涉及材料显微结构原位变形研究技术领域。金属环的内侧壁上设置有平台，两组金属片组平行间隔设置在金属环的内部，并且各组金属片组的一端均固定在平台上，各组金属片组的另一端均为自由端，每组金属片组均包括一个第一金属片以及一个第二金属片，并且第一金属片与第二金属片固定贴合，两组金属片组中的第一金属片相互靠近，并且第一金属片的热膨胀系数大于第二金属片的热膨胀系数，固定件包括两个固定底座以及将两个固定底座连接在一起的纳米线，固定件将两组金属片组的自由端连接在一起；从而解决了现有技术中纳米材料原位变形的过程中无法对其实现原子尺度稳定的观察的问题。
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公开(公告)号：CN110261221A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910430801.4
申请日：2019-05-22
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域，提供一种原位拉伸装置及其制备方法，所述的制备方法包括：在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行切割操作，得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品；对预拉伸样品进行减薄操作，以得到拉伸样品；第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧，拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧；第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构；本发明设计巧妙、操作便捷，实现了在MEMS力学芯片上直接制备拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构，可以有效防止拉伸样品在实验前出现变形或损坏的问题，提高了拉伸实验的成功率和检测结果的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110246735B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN201910417905.1
申请日：2019-05-20
Applicant: 北京工业大学
IPC: H01J37/20 , G01N23/2005 , G01N1/28
Abstract: 本发明涉及材料显微实验设备技术领域，提供了一种转移微纳样品的结构及制备方法及使用方法，该结构包括载物板、挡板以及基体；载物板与挡板连接呈“L”型，载物板的一端与基体相连；载物板上沿靠近基体的方向依次为样品区、过渡区以及粘接区；样品区用于搭载待测材料块，粘接区用于与目标载体进行连接。本发明实施例提供的转移微纳样品的结构，可以避免样品转移过程中受到离子束辐照产生的轰击、注入和溅射损伤和粘接沉积时的污染；通过设置过渡区还可以避免切削和沉积时的溅射损伤和污染；由于样品区的形状可以根据待测材料块的形状进行设置，有利于基于MEMS芯片的透射电镜原位力学平台实现更多加载功能，应用到更广泛的材料领域。
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公开(公告)号：CN116678743A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310675436.X
申请日：2023-06-07
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明公开了一种在透射电子显微镜中，为纳米金属样品提供原子级原位等静压力学性能测试的装置及方法。本发明属于纳米材料显微结构原位测试及表征技术领域。本发明创新性地设计了一种新的等静压容器装置：采用微操作技术将纳米金属样品加载并封装在两个碳纳米锥中间，即可获得一种等静压容器。更重要的是，该设计还创新性地实现了金属样品在透射电子显微镜中的原位等静压力学性能测试：通过探针挤压碳纳米锥的侧壁，对等静压环境中的金属样品施加等静压力，从而实现金属样品在透射电子显微镜中的原位等静压力学性能测试，静压大小可控。
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公开(公告)号：CN113560754A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110891858.1
申请日：2021-08-04
Applicant: 北京工业大学
IPC: B23K28/00 , B23K103/18
Abstract: 本发明公开一种利用冷焊接制备不同夹角晶界的设计制造装置，包括支撑件，支撑件内设置有两弯曲件，两弯曲件相对设置，两弯曲件的一端均与支撑件固接，任一弯曲件远离支撑件的一端通过固定件固接有第一样品，另一弯曲件远离支撑件的一端通过固定件固接有第二样品，第一样品与第二样品对应设置；弯曲件包括热膨胀系数不同的第一金属片和第二金属片。本发明能够实现通过改变双金属片的夹角，控制第一样品和第二样品对接焊合时的角度，能够对冷焊接形成晶界的取向角进行设计；本发明装置最大限度保留聚焦离子束系统的加工视野，不影响样品对接尖端的原位原子尺度观察，同时，该装置也可以实现不同种类材料的对接焊合，制备异类材料晶界。
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公开(公告)号：CN104634660A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510058796.0
申请日：2015-02-04
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01N3/08
Abstract: 透射电镜中原位双倾单轴拉伸纳米线、二维层状薄膜装置及方法，属于透射电镜配件及纳米材料原位力学性能测量研究领域。包括支撑部分、动力部分和载网三部分。支撑部分是金属环；驱动部分是热双金属片，双金属片一端固定在金属环上，另一端通过加热膨胀弯曲移动，产生驱动力；载网可搭载纳米材料，并粘附在双金属片的自由端，加热弯曲的双金属片拉伸载网，从而使纳米材料达到拉伸效果。该装置可以方便实现单根纳米线轴向拉伸、以及单层/多层二维薄膜的拉伸，解决了以往双金属片技术中纳米线和薄膜难以固定以及稳定性差的问题，并可同时观察材料在变形过程中的结构演变。
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公开(公告)号：CN110261221B
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN201910430801.4
申请日：2019-05-22
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 本发明涉及纳米材料力学性能与显微结构原位表征技术领域，提供一种原位拉伸装置及其制备方法，所述的制备方法包括：在MEMS力学芯片上对搭载的板料进行切割操作，得到第一拉伸辅助件、第二拉伸辅助件和预拉伸样品；对预拉伸样品进行减薄操作，以得到拉伸样品；第一拉伸辅助件连接MEMS力学芯片的第一搭载侧，拉伸样品的两端分别连接第二拉伸辅助件与MEMS力学芯片的第二搭载侧；第一拉伸辅助件与第二拉伸辅助件相嵌套成勾套结构；本发明设计巧妙、操作便捷，实现了在MEMS力学芯片上直接制备拉伸样品和用于辅助拉伸的勾套结构，可以有效防(56)对比文件金钦华;王跃林;李铁;李昕欣;许钫钫.用于TEM原位拉伸实验的集成单晶硅纳米梁MEMS测试芯片研究.中国科学(E辑:技术科学).2009,(第05期),全文.
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