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公开(公告)号:CN119672457A
公开(公告)日:2025-03-21
申请号:CN202411511915.9
申请日:2024-10-28
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心
IPC: G06V10/774 , G06V10/764 , G06V20/10 , G06Q50/02 , G06V10/62
Abstract: 本发明提供一种果园样本的生成方法、装置、系统、设备及介质,该方法包括:获取时间序列遥感数据和年度植被像素数据;根据所述时间序列遥感数据确定树木制图指数和果园酚类物候指数;利用所述树木制图指数和所述果园酚类物候指数,在所述年度植被像素数据中确定果园位置分布信息;基于所述果园位置分布信息,确定果园样本。本发明解决了相关技术中针对大尺度果园制图任务中果园样本缺失的问题,充分发挥了遥感技术的优势,从而服务于任何时间与地点的大尺度果园空间分布制图,为使用监督分类实现大尺度、多年份果园制图提升了数据量和数据精确度。
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公开(公告)号:CN116402879A
公开(公告)日:2023-07-07
申请号:CN202310113058.6
申请日:2023-01-20
Applicant: 北京市农林科学院信息技术研究中心 , 浙江大学华南工业技术研究院 , 清远市智慧农业农村研究院
Abstract: 本发明提供一种玉米穗位高测量方法、装置、系统及存储介质,所述方法包括:获取目标区域内玉米植被的三维点云信息;对所述三维点云信息进行高度分层及体素化处理,确定各高度层包含点云信息的体素和各高度层的所有体素;基于各高度层所述包含点云信息的体素的数量和各高度层的所述所有体素的数量,确定各高度层的叶面积密度;基于各层的所述叶面积密度中最大值对应的高度层的高度,确定所述目标区域的玉米穗位高。本发明可以有效确定出目标区域的玉米穗位高,可以大幅提高玉米穗位高测量的效率,有效实现了玉米穗位高的高通量快速测量。
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