半导体功率器件以及变换器
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119921552A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510374449.2

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本申请提供了一种半导体功率器件以及变换器,该半导体功率器件包括:开关结构,包括至少两个可关断半导体器件以及至少两个驱动器,至少两个可关断半导体器件串联,驱动器与可关断半导体器件一一对应电连接,驱动器用于向开关结构中至少一个其他驱动器定时发送心跳信号,驱动器还用于至少在预定周期内未接收到其他驱动器的心跳信号的情况下,控制对应的可关断半导体器件保持导通状态;电压钳位电路,并联在至少两个可关断半导体器件的两端,电压钳位电路在剩余可关断半导体器件的耐压值小于电压钳位电路的动作电压的情况下,将开关结构中所有的剩余可关断半导体器件击穿,剩余可关断半导体器件为开关结构中未短路失效的可关断半导体器件。

    功率半导体封装结构及具有其的功率半导体器件

    公开(公告)号:CN119920772A

    公开(公告)日:2025-05-02

    申请号:CN202510374475.5

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种功率半导体封装结构及具有其的功率半导体器件,其中,功率半导体封装结构包括:半导体芯片;第一极电连接结构,设置在半导体芯片的第一侧;第二极电连接结构,设置在半导体芯片的第二侧,第二极电连接结构包括缓冲结构、极座以及液态金属介质,缓冲结构设置在半导体芯片与极座之间,缓冲结构与极座之间形成容纳空间,液态金属介质设置在容纳空间内,缓冲结构与极座之间密封连接以防止液态金属介质脱离容纳空间。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的功率半导体器件的压接封装难度大、成本高的问题。

    电流源型变换器及等效应用工况测试电路

    公开(公告)号:CN119891795A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510371498.0

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本公开涉及一种电流源型变换器及等效应用工况测试电路。该电流源型变换器包括:多电平变换单元、总交流端口以及总直流端口。多电平变换单元包括均具有第一端口、第二端口和第三端口的多电平变换器和主变换器。总直流端口具有第一端和第二端。其中,多电平变换器的第一端口连接主变换器的第一端口;多电平变换器的第二端口连接总直流端口的第一端;多电平变换器的第三端口连接总直流端口的第二端;主变换器的第二端口连接多电平变换器的第二端口和总直流端口的第一端;主变换器的第三端口连接总交流端口。本公开能够同时提升电流源的可编程性能和其桥臂电平效率,并降低实现难度。

    功率半导体器件的驱动电路及其控制方法

    公开(公告)号:CN119891709A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510374467.0

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本申请提供了一种功率半导体器件的驱动电路及其控制方法,该驱动电路至少包括第一电感换流模块,第一电感换流模块的两端分别用于与阴极和门极电连接,第一电感换流模块包括换流子模块、续流子模块以及定向子模块,换流子模块用于将功率半导体器件的电流由阴极换流至门极,换流子模块的第一端、续流子模块的第一端以及阴极电连接,续流子模块用于为换流子模块续流,换流子模块的第二端与续流子模块的第二端电连接,续流子模块的第三端与定向子模块的第一端电连接,定向子模块用于控制功率半导体器件的电流由门极流入续流子模块,定向子模块的第二端与门极电连接。该驱动电路解决了如何提升功率半导体器件的可靠性的技术问题。

    可关断晶闸管结温确定方法、装置、存储介质和电子设备

    公开(公告)号:CN119881583A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510374452.4

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本申请提供了一种可关断晶闸管结温确定方法、装置、存储介质和电子设备。该方法包括:确定表征可关断晶闸管的存储时间、工作电流以及工作结温之间关系的预定关系,存储时间为在关断过程中,由于可关断晶闸管的内部载流子存储效应使得可关断晶闸管延迟关断的时长,工作电流为在可关断晶闸管主动关断前流经可关断晶闸管的电流;获取可关断晶闸管的实际存储时间以及实际工作电流,实际存储时间为实际的存储时间,实际工作电流为实际的工作电流;根据实际存储时间、实际工作电流以及预定关系,确定可关断晶闸管的实际工作结温。本申请至少解决现有技术中可关断晶闸管器件的结温测量不准确,威胁系统和装备的安全稳定运行的问题。

    半导体芯片的检测方法和半导体芯片的检测装置

    公开(公告)号:CN119880922A

    公开(公告)日:2025-04-25

    申请号:CN202510374464.7

    申请日:2025-03-27

    Abstract: 本申请提供了一种半导体芯片的检测方法和半导体芯片的检测装置,半导体芯片的表面具有多个阴极梳条,该方法包括:获取半导体芯片的表面结构的图像数据;利用图像处理技术,对图像数据进行分析,以识别各阴极梳条的位置,得到各阴极梳条对应的位置信息;根据各位置信息,控制探针移动,使得探针依次与各阴极梳条接触,以检测各阴极梳条是否存在缺陷。本申请解决了现有半导体芯片检测过程中,由于阴极梳条实际位置与预设位置存在误差,主要通过人工来校对探针与芯片中的阴极梳条的测试,导致测试效率低下且准确性较低的问题。

    换相失败概率信息的生成方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119787304A

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202411710842.6

    申请日:2024-11-27

    Abstract: 本申请涉及一种换相失败概率信息的生成方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括:获取交流电网的不同电气节点的故障信息、各节点信息、交流母线信息、以及交流电网的各结构信息的结构数据信息,并构建交流电网的电网结构模型;识别每个电气节点的故障信息对应的交流母线的各目标故障信息,并生成交流母线的仿真测试工况清单;识别每个电气节点的各故障信息的故障概率,并基于每个电气节点的各故障信息的故障概率,确定交流母线的各目标故障信息的故障概率;仿真交流母线的仿真测试工况清单,得到交流母线的换相记录信息,并上述信息,生成交流电网的目标换相失败概率信息。采用本方法能够提升识别的换相失败概率的精准度。

    电流源换流阀
    8.
    发明公开
    电流源换流阀 审中-实审

    公开(公告)号:CN119765968A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411694353.6

    申请日:2024-11-25

    Abstract: 本申请涉及一种电流源换流阀,在可控关断换流模块的每一相交流端与换流变压器的每一相出口端之间,分别对应设置有可控电容器组,各个可控电容器组的第二端分别连接。如此,在电流源换流阀运行过程中,可通过对可控电容器组的全桥可控电容子模块投切控制,为可控关断换流模块提供换相电压,此时对应的换相回路中不存在换流变压器漏感,可实现换流变压器的有功和无功独立调节。通过上述方案,可采用电压源来补偿无功,拓宽了电流源换流阀整体对交流电网的无功输出范围,极大提高换流阀的运行灵活性和可靠性。

    功率半导体器件均压电路及变换器

    公开(公告)号:CN119743000A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202411703039.X

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本申请涉及一种功率半导体器件均压电路及变换器,包括充放电电路、电阻、单向导电电路和电压箝位电路,电阻与单向导电电路并联,并联后的第一端连接功率半导体器件的第一功率端口,第二端连接充放电电路的第一端,充放电电路的第二端连接功率半导体器件的第二功率端口,电压箝位电路与充放电电路并联,单向导电电路的电流导通方向为从功率半导体器件的第一功率端口至充放电电路的第一端的方向。当第一功率端口电压相对第二功率端口电压正向上升时,发挥电容对高上升率电压的快速均压作用;负向下降时,通过降低支路阻抗实现动态均压,电压箝位电路可以在关断瞬态中限制过压功率半导体器件两端电压的进一步上升,提高了均压电路的工作可靠性。

    稳定性验证方法、系统、装置、控制器、介质和程序产品

    公开(公告)号:CN119667356A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202510177133.4

    申请日:2025-02-18

    Abstract: 本申请涉及一种稳定性验证方法、系统、装置、控制器、介质和程序产品。该方法包括:获取待验证的目标直流输电拓扑的类型;根据目标直流输电拓扑的类型,通过直流等效系统中的多个换流器搭建目标直流输电拓扑对应的目标等效子系统;直流等效系统中的多个换流器之间通过开关进行组合连接,用于搭建不同类型的直流输电拓扑对应的等效子系统;对目标等效子系统中各换流器进行模拟对拖试验,获取多个模拟电气参数;根据多个模拟电气参数,确定目标直流输电拓扑的稳定性验证结果。采用本方法能够更简便地对多种直流输电拓扑进行稳定性验证。

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