公开(公告)号：CN108234039B

公开(公告)日：2021-06-08

申请号：CN201711267258.8

申请日：2017-12-05

申请人： 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

发明人： 李梦良 ,  魏星 ,  谢应辉 ,  乐立鹏

IPC分类号： H04B17/20

摘要： 一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统：初始化芯片中应答机基带处理部分；产生信息序列；将信息比特与P路伪随机序列进行扩频调制；对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制；将P路BPSK信号合路，得到的测试激励送应答机基带处理部分；将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出。本发明利用芯片内嵌电路来产生被测电路的输入激励和控制信号，输出监测信号判读简单，解决了直扩应答机基带处理器在封装后功能检测成本高、效率低、对测试人员能力要求高的问题，在不需要其他复杂测试设备和器件的情况下，可以快速完成对芯片功能的正确性检测。

公开(公告)号：CN108234039A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201711267258.8

申请日：2017-12-05

申请人： 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

发明人： 李梦良 ,  魏星 ,  谢应辉 ,  乐立鹏

IPC分类号： H04B17/20

摘要： 一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统：初始化芯片中应答机基带处理部分；产生信息序列；将信息比特与P路伪随机序列进行扩频调制；对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制；将P路BPSK信号合路，得到的测试激励送应答机基带处理部分；将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出。本发明利用芯片内嵌电路来产生被测电路的输入激励和控制信号，输出监测信号判读简单，解决了直扩应答机基带处理器在封装后功能检测成本高、效率低、对测试人员能力要求高的问题，在不需要其他复杂测试设备和器件的情况下，可以快速完成对芯片功能的正确性检测。