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公开(公告)号:CN112597077B
公开(公告)日:2023-11-21
申请号:CN202011459829.X
申请日:2020-12-11
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G06F13/12
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公开(公告)号:CN108318872A
公开(公告)日:2018-07-24
申请号:CN201711362923.1
申请日:2017-12-18
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G01S7/41
摘要: 高效数字式八脉冲对消器实现方法,涉及雷达数字信号处理领域;包括如下步骤:步骤(一)、将接收到的八路雷达回拨数据写入片外存储器,进行存储;步骤(二)、采用片内存储管理单元同时读取片外存储器中的八路雷达回拨数据;步骤(三)、确定片内存储管理单元读取的八路雷达回拨数据分别对应的加权系数;并将八路雷达回拨数据分别与对应的加权系数相乘;步骤(四)、将带有加权系数的发送至外部八脉冲对消运算器,实现对消运算;本发明节省了7×2Mb容量的片内SRAM存储器,极大降低了设计规模和功耗,提高了八脉冲对消运算效率。
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公开(公告)号:CN108053855A
公开(公告)日:2018-05-18
申请号:CN201711220592.8
申请日:2017-11-29
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G11C11/408
摘要: 本发明公开了一种基于SDRAM芯片的矩阵转置方法,提出了符合SDRAM芯片器件特性的读地址、写地址生成方法。对于采用SDRAM芯片作为大容量存储器件的矩阵转置应用来说,本发明原理简单,易于实现,数据连续输入输出时可以做到无缝对接,且无需进行刷新操作,转置效率可以达到100%。
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公开(公告)号:CN104579368A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410765064.0
申请日:2014-12-11
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: H03M13/15
摘要: 本发明介一种信道纠错码RS码解关键方程电路,对于纠错能力为t比特的RS码来说,采用改进的RiBM解关键方程电路求解关键方程,通过删除部分冗余运算,使得运算所需硬件资源比RiBM解关键方程电路大幅度减少,从而大大降低了电路规模,实现了RS码的高效译码。
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公开(公告)号:CN104579367A
公开(公告)日:2015-04-29
申请号:CN201410765054.7
申请日:2014-12-11
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: H03M13/15
摘要: 本发明一种信道纠错码RS码迭代译码解关键方程方法,其特点在于:对于纠错能力为t比特的RS码来说,采用改进的RiBM迭代译码方法求解关键方程,通过删除部分冗余运算,将RiBM迭代过程中的数据流位宽由3t+1压缩为2t+4,从而大大降低了运算量,提高了运算效率,实现了RS码的高效译码。
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公开(公告)号:CN111044887B
公开(公告)日:2022-05-13
申请号:CN201911252694.7
申请日:2019-12-09
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G01R31/3183 , G01R31/3187
摘要: 本发明公开了一种DDR2/3 PHY BIST命令通道测试向量生成方法,包括如下步骤:(1)选择LFSR结构,利用低频率时钟驱动LFSR结构产生伪随机数;(2)选择LFSR结构中移位寄存器值作为测试数据;(3)对测试数据进行编码,构造出最终测试向量。本发明结构简单易实现,生成的测试向量能够充分检验信道抗串扰和驱动能力,并且在满足测试需求的条件下减小了BIST运行频率,降低功耗。
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公开(公告)号:CN108234039B
公开(公告)日:2021-06-08
申请号:CN201711267258.8
申请日:2017-12-05
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: H04B17/20
摘要: 一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统:初始化芯片中应答机基带处理部分;产生信息序列;将信息比特与P路伪随机序列进行扩频调制;对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制;将P路BPSK信号合路,得到的测试激励送应答机基带处理部分;将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出。本发明利用芯片内嵌电路来产生被测电路的输入激励和控制信号,输出监测信号判读简单,解决了直扩应答机基带处理器在封装后功能检测成本高、效率低、对测试人员能力要求高的问题,在不需要其他复杂测试设备和器件的情况下,可以快速完成对芯片功能的正确性检测。
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公开(公告)号:CN112597726A
公开(公告)日:2021-04-02
申请号:CN202011488037.5
申请日:2020-12-16
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G06F30/337
摘要: 本发明涉及一种FFT芯片的优化方法,属于FFT芯片设计领域;步骤一、将2048点的FFT芯片分解成6级运算;每级运算都用到旋转因子步骤二、将旋转因子用三角函数表示为步骤三、将旋转因子三角函数中的角度元素用x表示,即步骤四、计算出x范围为0°‑45°时,cosx和‑sinx的全部值,通过计算旋转因子的全部值,将其存储在FFT芯片中的ROM中,即完成FFT芯片的优化;本发明通过改变FFT计算中的一个常量系数,即旋转因子的产生与存储,从而减少ROM中存储的数据,来提高器件的效率和减少占用的资源。
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公开(公告)号:CN111162799A
公开(公告)日:2020-05-15
申请号:CN201911378536.6
申请日:2019-12-27
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: H03M13/15
摘要: 本发明公开了一种抗辐射RS码译码电路,包括:伴随式计算模块,用于对接收到的码字R(x)进行计算,得到伴随多项式S(x);关键方程求解模块,用于对伴随多项式S(x)进行关键方程求解,得到错误位置多项式Λ(x)和错误值多项式ω(x);错误图案搜索模块,用于计算得到错误位置和错误位置对应的错误值;数据缓存模块,用于对接收到的码字R(x)进行缓存;纠错输出模块,用于读取数据缓存模块中缓存的码字R(x),根据错误图案搜索模块计算得到的错误位置和错误位置对应的错误值对读取的缓存的码字R(x)进行纠错,并输出码字C。本发明所述的抗辐射RS码译码电路,缩小了电路面积、降低了电路功耗,在提高电路性能的同时还增强了电路的可靠性。
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公开(公告)号:CN108234039A
公开(公告)日:2018-06-29
申请号:CN201711267258.8
申请日:2017-12-05
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: H04B17/20
摘要: 一种直扩应答机基带处理器片上功能自检测方法及系统:初始化芯片中应答机基带处理部分;产生信息序列;将信息比特与P路伪随机序列进行扩频调制;对扩频后的P路比特序列进行BPSK调制;将P路BPSK信号合路,得到的测试激励送应答机基带处理部分;将应答机基带处理部分解调出的P路二进制信息比特分别送P个测试输出管脚输出。本发明利用芯片内嵌电路来产生被测电路的输入激励和控制信号,输出监测信号判读简单,解决了直扩应答机基带处理器在封装后功能检测成本高、效率低、对测试人员能力要求高的问题,在不需要其他复杂测试设备和器件的情况下,可以快速完成对芯片功能的正确性检测。
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