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公开(公告)号：CN111751703B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202010544552.4
申请日：2020-06-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种限位框设计的老炼试验用插座，包括：加强板、支架、插座上盖和塑料插座体；支架安装在加强板上；支架与插座上盖采用轴连接，插座上盖可绕连接轴转动打开，打开后的插座上盖与支架之间的夹角不小于90°；塑料插座体安装在加强板的中心位置处。本发明所述的限位框设计的老炼试验用插座的腔体部分采用组合方式，内部是简单结构的限位框，通过螺丝可以拆卸更换。根据外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路定制不同尺寸的限位框，保证每种外形公差的电路达到最佳适配效果，扩大了电路适配的范围，即使特别大的公差的电路，也有对应的限位框与其适配，同时保证了电路试验的安全性。
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公开(公告)号：CN117761420A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311532459.1
申请日：2023-11-16
Applicant: 北京微电子技术研究所 , 北京新润泰思特测控技术有限公司 , 北京时代民芯科技有限公司
Abstract: 本发明属于老化测试技术领域，具体涉及了一种系统级封装器件老化测试的系统及方法，旨在解决系统级封装器件老化测试结果不准确，存在偏差的问题。本发明包括：老化测试模块、温度控制模块、数据处理模块和系统控制模块；所述系统控制模块，用于根据外部输入的任务指令，发出控制信号，获取判断结果；所述老化测试模块，用于根据老化测试模块控制信号发出数字信号和/或模拟信号，获取待器件发出的测试反馈数据；所述温度控制模块，用于根据接收的温度控制模块控制信号和实时采集的待老化测试系统级封装器件环境温度；所述数据处理模块，用于基于测试反馈数据获得处理信息，判断系统运行状态和器件状态，保存判断结果并发送至系统控制模块。
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公开(公告)号：CN111751703A
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN202010544552.4
申请日：2020-06-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种限位框设计的老炼试验用插座，包括：加强板、支架、插座上盖和塑料插座体；支架安装在加强板上；支架与插座上盖采用轴连接，插座上盖可绕连接轴转动打开，打开后的插座上盖与支架之间的夹角不小于90°；塑料插座体安装在加强板的中心位置处。本发明所述的限位框设计的老炼试验用插座的腔体部分采用组合方式，内部是简单结构的限位框，通过螺丝可以拆卸更换。根据外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路定制不同尺寸的限位框，保证每种外形公差的电路达到最佳适配效果，扩大了电路适配的范围，即使特别大的公差的电路，也有对应的限位框与其适配，同时保证了电路试验的安全性。
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公开(公告)号：CN106680689B
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201610891851.9
申请日：2016-10-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种老炼试验用信号发生系统，包括：电源、时钟源、计数单元、转换单元、存储单元、锁存单元、驱动单元以及输出接口；其中，时钟源用于输出方波时钟脉冲信号；计数单元用于接收方波时钟脉冲信号，方波时钟信号脉冲的上升沿触发计数单元输出计数状态，使得计数单元输出地址数据信号；存储单元用于接收并存储所述地址数据信号；转换单元将所述激励向量文件转换为要求格式的激励向量文件；存储单元输出所需激励信号波形；锁存单元输出随激励信号波形而变化的第二激励信号波形；驱动单元用于接收所述第二激励信号波形并提供给所述老化器件。本发明解决由于老化箱功能限制而不能满足现有老化试验条件的问题。
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公开(公告)号：CN117826048A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311524545.8
申请日：2023-11-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明属于电子仪器领域，具体涉及一种老化箱故障诊断的方法、系统及设备，旨在解决目前市场上缺少老化箱信号检测和故障诊断的相关设备的问题。本发明包括：电源模块、电压电流检测模块、信号调理模块、波形发生模块、主控模块、显示模块和声光报警模块；在系统初始化阶段检测通过电压电流检测模块对各模块电压进行检测；对波形发生模块采集的待测老化箱数据并处理，获得波形参数，将波形参数发送至显示模块进行显示；当数据异常时，控制声光报警模块工作并通过串行通信接口将停止指令发送给待测老化箱；通过波形发生指令对波形发生模块进行控制，产生与显示模块的波形参数对应的波形。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107768861B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201710801983.2
申请日：2017-09-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H01R12/71 , H01R13/502 , H01R13/631
Abstract: 一种带有双排定位导槽的CQFP封装形式老化插座，插座上盖和插座下盖通过套有弹簧的连接轴连接。插座下盖包括插座下盖座体和四个浮动板，四个浮动板沿插座下盖座体中心对称布置，每个浮动板上均设置有一排插座导针和两排插座定位导槽，插座导针的数量、位置和电路芯片的引腿一一对应，两排插座定位导槽中的每个插座定位导槽对应一个插座导针，方便电路引腿放置到相应插座导针上面，避免发生错位现象。插座下盖和插座上盖通过扣紧部件扣紧。本发明由于采用双排定位导槽的方式，避免了引腿比较多，引线比较长，引腿间距为0.5mm的CQFP封装型式的电路在使用该类型插座时，电路引腿间短路造成失效的问题，提高了老化插座的可靠性。
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公开(公告)号：CN106680689A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201610891851.9
申请日：2016-10-12
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
CPC classification number: G01R31/2855 , G01R1/28
Abstract: 本发明公开了一种老炼试验用信号发生系统，包括：电源、时钟源、计数单元、转换单元、存储单元、锁存单元、驱动单元以及输出接口；其中，时钟源用于输出方波时钟脉冲信号；计数单元用于接收方波时钟脉冲信号，方波时钟信号脉冲的上升沿触发计数单元输出计数状态，使得计数单元输出地址数据信号；存储单元用于接收并存储所述地址数据信号；转换单元将所述激励向量文件转换为要求格式的激励向量文件；存储单元输出所需激励信号波形；锁存单元输出随激励信号波形而变化的第二激励信号波形；驱动单元用于接收所述第二激励信号波形并提供给所述老化器件。本发明解决由于老化箱功能限制而不能满足现有老化试验条件的问题。
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公开(公告)号：CN111896861B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202010663899.0
申请日：2020-07-10
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种弹性腔体的老炼试验用插座，包括插座上盖、插座底座，插座上盖和插座底座均呈方形，插座上盖和插座底座通过套有弹簧的连接轴连接。插座底座包括插座底座座体、连接轴和四个活动块，四个活动块沿插座底座座体中心对称，每个活动块内均设置有两排弹簧，活动块上设置活动块锁柱，可实现活动块的固定或松弛。插座底座和插座上盖通过扣紧部件扣紧。本发明由于采用四个活动块的方式，避免了外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路放置到老化插座时容易错位无法得到正常的老炼试验结果的问题，提高了老化插座的可靠性。
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公开(公告)号：CN110994223B
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201911108079.9
申请日：2019-11-13
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H01R12/70 , H01R12/71 , H01R13/512
Abstract: 本发明涉及一种用于开关电源类电路的老炼试验插座，属于老炼试验插座结构改进技术领域；包括插座下盖、插座上盖、PCB单元和电路模块；其中，插座下盖为水平放置的板状结构；PCB单元为板状结构；PCB单元固定安装在插座下盖的上表面；电路模块放置在PCB单元的上表面；插座上盖放置在PCB单元的上表面；且插座上盖实现对插座下盖的卡紧；对电路模块进行压紧，实现电路模块和PCB单元的电路连通；本发明解决了FP封装形式的开关电源类电路使用传统老炼试验插座时电路输出波形受到干扰和影响的问题。
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公开(公告)号：CN111896861A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN202010663899.0
申请日：2020-07-10
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种弹性腔体的老炼试验用插座，包括插座上盖、插座底座，插座上盖和插座底座均呈方形，插座上盖和插座底座通过套有弹簧的连接轴连接。插座底座包括插座底座座体、连接轴和四个活动块，四个活动块沿插座底座座体中心对称，每个活动块内均设置有两排弹簧，活动块上设置活动块锁柱，可实现活动块的固定或松弛。插座底座和插座上盖通过扣紧部件扣紧。本发明由于采用四个活动块的方式，避免了外形公差较大、底面PAD间距过小、LGA封装形式的电路放置到老化插座时容易错位无法得到正常的老炼试验结果的问题，提高了老化插座的可靠性。
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