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公开(公告)号:CN107393811A
公开(公告)日:2017-11-24
申请号:CN201710606944.7
申请日:2017-07-24
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
CPC分类号: H01L21/67126 , H01L21/02079
摘要: 本发明提供了一种银浆粘片陶瓷封装器件的取芯片方法,具体为:(1)、将银浆粘片陶瓷封装器件开封后装入玻璃烧杯中;(2)、往玻璃烧杯中加入可溶解银浆的有机溶剂,使银浆粘片陶瓷封装器件完全没入有机溶剂中;(3)、用玻璃盖盖住烧杯,保持有机溶剂处于低于其沸点的一定温度并持续一段时间,直至银浆粘片陶瓷封装器件上的银浆充分溶解;(4)、对其进行清洗,去除附着在其上的银浆;(5)、将陶瓷封装器件干燥处理。该方法有效降低以至消除了芯片表面沾污、芯片腐蚀及机械损伤的诱因,完整保留了芯片的物理结构和电性能,完整保留了封装;溶剂可重复使用,环境污染小,操作简单,降低了成本。
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公开(公告)号:CN107797049B
公开(公告)日:2021-09-28
申请号:CN201710927364.8
申请日:2017-09-28
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G01R31/311
摘要: 本发明提供了一种IC芯片背面观察样品及其制作方法,所述制作方法为:采用中空PCB板与垫板粘接;将管芯背面粘贴在PCB板中空处;将管芯PAD与PCB焊盘用金丝球焊方式相连;管芯表面及部分焊盘涂绝缘胶并固化;去掉垫板露出管芯背面。本发明完全消除了背面近红外光观察时管芯结构的遮挡因素,有效降低以至消除了管芯机械损伤的诱因,原材料易于获取,无污染,操作简单,成本低。
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公开(公告)号:CN107797049A
公开(公告)日:2018-03-13
申请号:CN201710927364.8
申请日:2017-09-28
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G01R31/311
CPC分类号: G01R31/311
摘要: 本发明提供了一种IC芯片背面观察样品及其制作方法,所述制作方法为:采用中空PCB板与垫板粘接;将管芯背面粘贴在PCB板中空处;将管芯PAD与PCB焊盘用金丝球焊方式相连;管芯表面及部分焊盘涂绝缘胶并固化;去掉垫板露出管芯背面。本发明完全消除了背面近红外光观察时管芯结构的遮挡因素,有效降低以至消除了管芯机械损伤的诱因,原材料易于获取,无污染,操作简单,成本低。
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公开(公告)号:CN107393811B
公开(公告)日:2019-07-23
申请号:CN201710606944.7
申请日:2017-07-24
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
摘要: 本发明提供了一种银浆粘片陶瓷封装器件的取芯片方法,具体为:(1)、将银浆粘片陶瓷封装器件开封后装入玻璃烧杯中;(2)、往玻璃烧杯中加入可溶解银浆的有机溶剂,使银浆粘片陶瓷封装器件完全没入有机溶剂中;(3)、用玻璃盖盖住烧杯,保持有机溶剂处于低于其沸点的一定温度并持续一段时间,直至银浆粘片陶瓷封装器件上的银浆充分溶解;(4)、对其进行清洗,去除附着在其上的银浆;(5)、将陶瓷封装器件干燥处理。该方法有效降低以至消除了芯片表面沾污、芯片腐蚀及机械损伤的诱因,完整保留了芯片的物理结构和电性能,完整保留了封装;溶剂可重复使用,环境污染小,操作简单,降低了成本。
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