RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN114047385A

    公开(公告)日:2022-02-15

    申请号:CN202210034777.4

    申请日:2022-01-13

    IPC分类号: G01R27/02 G01R31/28 G06K17/00

    摘要: 本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备,其中方法包括:获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益;依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度,其中,多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片;根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度;根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度,获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此,能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度,从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

    RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN114047385B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202210034777.4

    申请日:2022-01-13

    IPC分类号: G01R27/02 G01R31/28 G06K17/00

    摘要: 本发明公开了一种RFID芯片阻抗及灵敏度的测试方法、装置及电子设备,其中方法包括:获取至少三个公版标签天线中每个公版标签天线的天线阻抗值和天线增益;依次获取多个芯片中每个芯片与至少三个公版标签天线相连后形成的至少三个标签中每个标签的标签灵敏度,其中,多个芯片包括待测芯片和至少一个与待测芯片同型号的芯片;根据标签灵敏度、天线阻抗值和天线增益获取多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度;根据多个芯片中每个芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度,获取待测芯片的芯片阻抗值和芯片灵敏度。由此,能够准确高效的测试出芯片的阻抗值和芯片灵敏度,从而有利于设计出性能更加优异的天线以及获得灵敏度更高的标签。

    故障注入方法、装置和电子设备
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118733369A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410755123.X

    申请日:2024-06-12

    IPC分类号: G06F11/263 G06F11/22

    摘要: 本发明提供一种故障注入方法、装置和电子设备,属于芯片技术领域。方法包括:获取待测芯片工作时能量曲线;对能量曲线进行信号处理,以筛选出待测芯片在能量曲线中的执行运算时间区间;基于待测芯片的输入数据与能量曲线的相关性,以及待测芯片输出数据与能量曲线的相关性,计算出执行运算时间区间中的关键时间点;获取待测芯片版图的功能区域分布图;基于功能区域分布图中待故障注入对象的故障防护类型,确定故障注入扫描方式;基于故障注入扫描方式进行故障注入扫描,基于扫描结果确定关键物理位置点。本发明基于时空双域的故障注入方法,从时间域和空间域分别进行关键时间点和关键物理位置点定位,提高故障注入精准度和故障注入攻击效率。

    一种低温漂低残余失调的霍尔传感器及实现方法

    公开(公告)号:CN118050668A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202410039025.6

    申请日:2024-01-10

    IPC分类号: G01R33/07 G01R33/00

    摘要: 本发明提出了一种具有灵敏度温漂补偿功能的低残余失调的霍尔磁传感器及信号调理电路和方法,属于磁传感器技术领域。包括四相动态旋转电流调制电路、前端电压放大电路、全差分相关双采样解调电路、低通滤波器、灵敏度温漂补偿电路、时钟产生电路。利用旋转电流电路输出相同极性的霍尔电压与不同极性的失调电压,后续通过电压积分放大电路和全差分相关双采样解调电路操作进行失调噪声消除,最后通过低通滤波器得到极低残余失调的霍尔信号。全差分相关双采样解调电路不仅可以抑制电路自身失调噪声,还可以接收灵敏度温漂补偿电路产生的电压信号和霍尔传感器输出端的霍尔电压信号,形成负反馈结构,使输出的霍尔电压具有很好的稳定性。

    芯片凸点加工方法、封装方法及芯片

    公开(公告)号:CN117198889A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310786486.5

    申请日:2023-06-29

    IPC分类号: H01L21/48 H01L21/60

    摘要: 本发明提供一种芯片凸点加工方法、封装方法及芯片,属于芯片技术领域。芯片凸点加工方法包括:准备待加工芯片晶圆,并在待加工芯片晶圆上确定多个凸点位置;根据各个凸点位置的需求,将多个凸点位置进行分组,得到多组凸点位置集;根据各个凸点位置的需求,分别对每一组凸点位置集进行凸点加工,得到多个凸点。通过对凸点位置进行分组,然后根据凸点位置的需求,对不同凸点位置分组进行独立曝光、电镀的加工方法,可以控制各类凸点的垂直高度,以保证加工得到的各个凸点的高度在水平面上一致,实现了不同高度凸点的加工。还可以实现特定高度差凸点的加工,以满足不同封装形式对凸点高度的需求,有利于提高封装的良率及可靠性。

    RFID标签
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220105710U

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202321675382.9

    申请日:2023-06-28

    IPC分类号: G06K19/077

    摘要: 本实用新型实施例提供一种RFID标签,属于射频标签技术领域。所述RFID标签包括:由下自上依次覆盖连接的基材层、芯片层、天线层和耐温层;每相邻两层之间通过耐温胶粘接固定;所述基材层、所述天线层和所述耐温层均为柔性层。本实用新型方案在传统标签上增加耐温层,并通过耐温胶进行各层固定。使得整个标签实现抗高温,以便于线缆在生产过程中,即使是高温状态下,标签也能封装在线缆保护层内部,避免了标签裸露在外容易被损坏的问题。进一步的,将耐温层、天线层和基材层均设置为柔性层,使得其能够完美贴合线缆轮廓,避免标签损坏。