公开(公告)号：CN116578157A

公开(公告)日：2023-08-11

申请号：CN202310511145.7

申请日：2023-05-08

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 张学磊 ,  杨旭浩 ,  孙云龙 ,  温立国 ,  刘雨峰 ,  李思琦 ,  平爱军

IPC分类号： G05F1/567

摘要： 本发明涉及芯片测试技术领域，其实施方式提供了一种BMS芯片基准电压的自修调系统、方法及电子设备。其中一种BMS芯片基准电压的自修调系统，包括：ATE测试机和测试芯片，所述测试芯片包括：基准电压模块、功率模块、电压采集电路、电压比较单元电路以及逻辑控制电路；所述基准电压模块用于根据电压输出指令、第一修调配置系数和第二修调配置系数输出对应的基准电压；所述逻辑控制电路用于根据所述比较结果调整所述第一修调配置系数和/或第二修调配置系数。本发明提供的实施方式能够实现自动标定，提升测试效率。

公开(公告)号：CN117214668A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311267046.5

申请日：2023-09-27

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 胡琦深 ,  张学磊 ,  杨旭浩 ,  孙昕 ,  孙云龙 ,  温立国

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明公开了一种芯片测试电路及芯片测试系统，其中，芯片测试电路包括：第一测试单元，被配置为在采用第一连接方式与待测芯片相连的情况下，对待测芯片的开关引脚线路上的输出电压和输出电流进行检测；第二测试单元，被配置为与待测芯片相连的情况下，对待测芯片的输出电压和输出电流进行检测；处理单元，处理单元的输入端分别与第一测试单元的输出端和第二测试单元的输出端相连，处理单元被配置为根据待测芯片的输入电压和输入电流、开关引脚线路上的输出电压和输出电流、以及待测芯片的输出电压和输出电流对待测芯片的转化效率进行测试。该芯片测试电路保证了转换效率的准确性，并且不需要在待测芯片内增加测试模块，降低了设计、制造成本。