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公开(公告)号：CN113820649B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202111010099.X
申请日：2021-08-31
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网北京市电力公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电能表固件的寿命可靠性测试方法和装置。其中，该电能表固件的寿命可靠性测试方法包括：对电能表的万年历时间相关功能进行遍历加速；在遍历加速的情况下，对电能表的与时间相关的功能数据进行功能准确性验证，以生成验证的结果；以及根据验证的结果判断电能表的时间同步运行功能是否存在异常。本发明利用软件侵入式加速逻辑运行，通过电能表内置的时间计时加速程序对电能表万年历时间相关功能进行遍历加速，然后再由内置的监控程序对电能表既定时间相关功能进行功能准确性验证。从而，可以对电能表软件开发过程中遗留的长周期隐藏bug缺陷进行有效识别和验证。
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公开(公告)号：CN117330868A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311285283.4
申请日：2023-09-28
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司 , 国网河北省电力有限公司营销服务中心 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电子设备抗电磁干扰能力测试系统和方法，系统包括：干扰信号发生装置；电波暗室，包括发射天线，发射天线与干扰信号发生装置连接，电波暗室用于放置被干扰电子设备，且被干扰电子设备置于发射天线的近场范围内；控制装置，用于控制干扰信号发生装置发出干扰信号至发射天线，以使发射天线向被干扰电子设备提供超过预设强度的电磁场，以及获取被干扰电子设备的测试信息，并根据测试信息得到被干扰电子设备的抗电磁干扰能力。该系统可产生超过预设强度的电磁场，对置于发射天线近场范围的电子设备进行干扰，检测被干扰电子设备的抗电磁干扰能力。
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公开(公告)号：CN117147980A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311267118.6
申请日：2023-09-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种电磁场监测装置、监测方法、电磁传感器芯片和电子设备，装置包括：天线、多个检波电路、模数转换电路、控制电路和存储器；其中，多个检波电路，用于对天线接收到的多个不同频段的电磁波信号进行检波；模数转换电路，与多个检波电路分别连接，用于对多个检波电路检波后输出的信号进行模数转换，得到采集信号；控制电路，与存储器和模数转换电路分别连接，用于根据采集信号确定天线是否接收到电磁波干扰信号，并在确定天线接收到电磁波干扰信号时，触发装置进入监测模式，根据采集信号对电磁干扰功率水平进行判断，以及根据判断结果生成干扰事件，并将干扰事件存储至存储器。该装置易于实现且成本较低，具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN113569231B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202111138668.9
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F21/52
Abstract: 本发明涉及安全技术领域，其实施例提供一种多进程的MPU保护方法、装置及电子设备。其中多进程的MPU保护方法基于MPU，该保护方法包括：当系统启动应用程序时，为所述应用程序创建对应的轻量级进程，并为所述轻量级进程分配存储空间；基于所述应用程序的执行参数确定MPU保护参数，并写入所述存储空间；当所述轻量级进程下的线程被所述系统调度时，通过所述轻量级进程从所述存储空间获取MPU保护参数，以启动对所述线程的MPU保护。同时还提供了一种对应的装置和电子设备。本发明提供的实施方式提升了实时操作系统中进程的安全性。
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公开(公告)号：CN118132404A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410576360.X
申请日：2024-05-10
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本发明提供一种内存泄漏检测方法、装置和电子设备，属于计算机技术领域。方法包括：控制多个资源使用线程执行第一轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第一内存检测，得到第一内存检测值；重复执行以下步骤，直至达到设定时间阈值：控制多个资源使用线程执行第二轮转切换；控制内存泄漏检测线程进行第二内存检测，得到第二内存检测值；基于第一内存检测值和第二内存检测值的对比结果，确定内存泄漏检测结果。通过重复对比多个资源使用线程经过轮转切换后的内存检测值进行内存泄漏检测，由于多个资源使用线程通过短时间片切换来循环获取资源和释放资源，本发明能够在短时间内精准检测到每个时间点可能产生的内存泄漏。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113569231A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202111138668.9
申请日：2021-09-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F21/52
Abstract: 本发明涉及安全技术领域，其实施例提供一种多进程的MPU保护方法、装置及电子设备。其中多进程的MPU保护方法基于MPU，该保护方法包括：当系统启动应用程序时，为所述应用程序创建对应的轻量级进程，并为所述轻量级进程分配存储空间；基于所述应用程序的执行参数确定MPU保护参数，并写入所述存储空间；当所述轻量级进程下的线程被所述系统调度时，通过所述轻量级进程从所述存储空间获取MPU保护参数，以启动对所述线程的MPU保护。同时还提供了一种对应的装置和电子设备。本发明提供的实施方式提升了实时操作系统中进程的安全性。
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公开(公告)号：CN111999538A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202010825404.X
申请日：2020-08-17
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种可实时测温的电能表，该电能表包括：主控板、端子座、若干个接线端子和温度传感器；其中，各接线端子沿端子座的长度方向并排设置，并且，接线端子部分设置在端子座内；各接线端子位于端子座外的裸露部间隔设置在主控板的一侧，并且，各裸露部与主控板相对的侧壁上均设有传感器安装孔；温度传感器与接线端子一一对应设置，各温度传感器的引线均插接在主控板，温度传感器远离引线的端部卡接在传感器安装孔内，温度传感器用以检测接线端子的实时温度。本发明通过温度传感器的引线插接在主控板上，温度传感器远离引线的端部卡接在传感器安装孔内，实现接线端子温度的检测，以对接线端子的温度骤变或长期高温工作记录或进行处理。
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公开(公告)号：CN115525293A
公开(公告)日：2022-12-27
申请号：CN202211250692.6
申请日：2022-10-12
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 中国电力科学研究院有限公司
Abstract: 本申请公开了一种智能电表的子程序资源配额管理方法、装置和系统。其中，该方法应用于上位机，包括：获取可执行子程序，其中，可执行子程序在开发时采用预设资源配额进行编写；确定目标资源配额，并在目标资源配额小于预设资源配额时，对可执行子程序进行更新；将更新后的可执行子程序下发至智能电表，以便智能电表根据目标资源配额加载并运行更新后的可执行子程序。该方法能够限定每个可执行子程序的资源配额，使多个可执行子程序可以协同工作，实现智能电表的多应用化。
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公开(公告)号：CN115098406A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210706000.8
申请日：2022-06-21
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 中国电力科学研究院有限公司
IPC: G06F12/02 , G06F9/4401 , G06F9/445
Abstract: 本发明公开了一种应用程序地址空间的管理方法、装置以及介质、终端设备，应用程序地址空间的管理方法包括：在终端设备上电后，读取预设的地址空间分区信息，其中，所述地址空间分区信息包括所述终端设备各应用程序对应分区的分区地址，且所有分区地址的起始地址相同；将各分区的分区地址映射到对应的物理地址，以在应用程序运行时通过相应的物理地址进行访问。该方法可实现应用程序运行时统一的访问地址，从而可降低操作系统维护的难度，提升代码的通用性，达到模块化编程的目的。
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公开(公告)号：CN113820649A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202111010099.X
申请日：2021-08-31
Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国网北京市电力公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电能表固件的寿命可靠性测试方法和装置。其中，该电能表固件的寿命可靠性测试方法包括：对电能表的万年历时间相关功能进行遍历加速；在遍历加速的情况下，对电能表的与时间相关的功能数据进行功能准确性验证，以生成验证的结果；以及根据验证的结果判断电能表的时间同步运行功能是否存在异常。本发明利用软件侵入式加速逻辑运行，通过电能表内置的时间计时加速程序对电能表万年历时间相关功能进行遍历加速，然后再由内置的监控程序对电能表既定时间相关功能进行功能准确性验证。从而，可以对电能表软件开发过程中遗留的长周期隐藏bug缺陷进行有效识别和验证。
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