公开(公告)号：CN117269716A

公开(公告)日：2023-12-22

申请号：CN202310961952.9

申请日：2023-08-01

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司

发明人： 牛长胜 ,  解卫华 ,  姜帆 ,  白雪松 ,  付利莉 ,  王祥 ,  王文赫 ,  杜君 ,  孙韬 ,  丁娴 ,  聂睿 ,  王海宝

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明实施例提供一种基于MCU的磁传感芯片测试装置及测试方法，属于磁传感芯片测试技术领域。所述装置包括：MCU单元，以及与MCU单元连接的被测芯片多方向单元、芯片电源单元、控制单元和测量单元。所述装置增加了被测磁传感芯片的样本数量，能够为多颗被测磁传感芯片提供不同的测试方向，实现了磁传感芯片的多个不同方向的同时测试，减少了改变磁传感芯片方向的次数以及变换线圈方向的次数，同时减少了测试组件体积，提高了测试的效率和对磁传感芯片性能评估的完整性。