公开(公告)号：CN109100635B

公开(公告)日：2021-06-29

申请号：CN201810756556.1

申请日：2018-07-11

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司 ,  国家电网有限公司 ,  国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院

Inventor： 原义栋 ,  赵毅强 ,  辛睿山 ,  叶茂 ,  张海峰

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/317

Abstract: 本发明公开了一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法。该电路包括随机数产生电路和信号比对电路。随机数产生电路用于产生随机数序列，每一路随机数均通过两个传输通道进行传输，所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线；信号比对电路对所述两个传输通道输出至所述信号比对电路的随机数信号进行比对，当比对失败的次数超过一定数值，则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。所述对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法能够准确地检测多通道金属屏蔽布线层是否受到攻击，避免走线内信号干扰造成的误判。

公开(公告)号：CN109100635A

公开(公告)日：2018-12-28

申请号：CN201810756556.1

申请日：2018-07-11

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 ,  国网信息通信产业集团有限公司 ,  国家电网有限公司 ,  国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院

Inventor： 原义栋 ,  赵毅强 ,  辛睿山 ,  叶茂 ,  张海峰

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/317

Abstract: 本发明公开了一种对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法。该电路包括随机数产生电路和信号比对电路。随机数产生电路用于产生随机数序列，每一路随机数均通过两个传输通道进行传输，所述两个传输通道分别为所述多通道金属屏蔽布线层和所述芯片的下层金属线；信号比对电路对所述两个传输通道输出至所述信号比对电路的随机数信号进行比对，当比对失败的次数超过一定数值，则认为该芯片的多通道金属屏蔽布线层受到攻击并产生报警信号。所述对多通道金属屏蔽布线层进行完整性检测的电路及方法能够准确地检测多通道金属屏蔽布线层是否受到攻击，避免走线内信号干扰造成的误判。