用于ADC芯片的测试设备及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114325301A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202111368082.1

    申请日:2021-11-18

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明实施例提供一种用于ADC芯片的测试设备及方法,属于芯片测试技术领域。所述设备包括:电源变换模块、运算放大器、以及ATE,所述电源变换模块用于将所述ATE的DPS模块输出的单电源电压变换成满足所述运算放大器的驱动电源需求的双电源电压;所述运算放大器用于对所述ATE输出的第一测试信号进行放大以生成第二测试信号,所述第二测试信号满足被测ADC芯片的输入幅度需求;所述被测ADC芯片对所述第二测试信号进行模数转换并将模数转换后的信号输入至所述ATE;以及所述ATE用于基于所述模数转换后的信号获得并输出所述被测ADC芯片的测试参数。所述技术方案能够实现要求高摆幅输入的ADC芯片的测试。另外,具有成本低、体积小、易于编程控制等优点。

    图像传感器封装方法、辅助模具及图像传感器

    公开(公告)号:CN111969000B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN202011142445.5

    申请日:2020-10-23

    摘要: 本发明提供一种图像传感器封装方法、辅助模具及图像传感器。所述方法包括:将图像传感器裸芯片贴装在临时载板上;使用键合线键合图像传感器裸芯片的焊盘与临时载板上的金属线路层;使用辅助模具压紧图像传感器裸芯片,使得图像传感器裸芯片的感光区域位于第一空间,图像传感器裸芯片的焊盘以及金属线路层位于第二空间,第一空间与第二空间互不连通;向第二空间填充塑封料,实现塑封成型;脱开所述辅助模具,形成图像传感器塑封体;去除图像传感器塑封体底部的临时载板;将滤光玻璃贴装在塑封体上表面,得到封装好的图像传感器。提供一种键合线埋入封装体内的小外形、高可靠性、防溢料和小翘曲的图像传感器封装方法。

    图像传感器封装方法、辅助模具及图像传感器

    公开(公告)号:CN111969000A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202011142445.5

    申请日:2020-10-23

    摘要: 本发明提供一种图像传感器封装方法、辅助模具及图像传感器。所述方法包括:将图像传感器裸芯片贴装在临时载板上;使用键合线键合图像传感器裸芯片的焊盘与临时载板上的金属线路层;使用辅助模具压紧图像传感器裸芯片,使得图像传感器裸芯片的感光区域位于第一空间,图像传感器裸芯片的焊盘以及金属线路层位于第二空间,第一空间与第二空间互不连通;向第二空间填充塑封料,实现塑封成型;脱开所述辅助模具,形成图像传感器塑封体;去除图像传感器塑封体底部的临时载板;将滤光玻璃贴装在塑封体上表面,得到封装好的图像传感器。提供一种键合线埋入封装体内的小外形、高可靠性、防溢料和小翘曲的图像传感器封装方法。

    压焊设备追溯方法、装置、介质及芯片产品

    公开(公告)号:CN117314457A

    公开(公告)日:2023-12-29

    申请号:CN202311047667.2

    申请日:2023-08-18

    摘要: 本发明实施例提供一种压焊设备追溯方法、装置、介质及芯片产品,属于芯片封测领域。所述压焊设备追溯方法包括:获取芯片产品的压焊标记特征,该压焊标记特征是相应压焊设备在压焊工序中加工形成于所述芯片产品的引线框架内部、且用于示出该压焊设备的唯一设备编号的标记;以及基于所获取的压焊标记特征,确定加工相应芯片产品的压焊设备的设备编号,以实现压焊设备追溯。本发明实施例通过在压焊工序中形成于引线框架内部的独特的压焊标记特征,无论针对框架状态还是单颗状态的质量异常芯片产品,都能快速、准确地锁定对应生产加工的压焊设备。