公开(公告)号：CN107817386A

公开(公告)日：2018-03-20

申请号：CN201710830232.3

申请日：2017-09-15

申请人： 北方电子研究院安徽有限公司

发明人： 焦贵忠 ,  徐春叶 ,  孙丽丽 ,  田波 ,  秦盼

IPC分类号： G01R27/02

CPC分类号： G01R27/025

摘要： 本发明公开一种CCD晶圆绝缘电阻测试装置，包括探针台、矩阵开关模块、信号采样电路、信号放大与滤波电路、A/D转换电路、单片机、直流电源以及上位机；探针台用于承载待测CCD晶圆，探针台的探针卡用于连接待测CCD晶圆的引脚，矩阵开关模块通过探针卡与待测CCD晶圆的引脚相连；单片机控制矩阵开关模块中各个开关与待测CCD晶圆引脚通道之间的切换；直流电源作为激励施加在待测CCD晶圆引脚通道之间,矩阵开关模块依次连接信号采样电路、信号放大与滤波电路、A/D转换电路、单片机与上位机；单片机将收到的测试信号与设定值进行比较，判断测量通道间的绝缘特性；该测试装置能够对各种型号的CCD晶圆进行多通道间绝缘特性测试，成本低、具有很强的通用性。

公开(公告)号：CN109116216A

公开(公告)日：2019-01-01

申请号：CN201810940213.0

申请日：2018-08-17

申请人： 北方电子研究院安徽有限公司

发明人： 焦贵忠 ,  孙丽丽 ,  卜令旗 ,  田波 ,  李苏苏

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明公开一种运算放大器失调电压温漂测试装置，包括高低温试验箱，高低温试验箱内设有测试承载板，测试承载板的板面设有一组呈矩阵式分布的承载台，承载台用于放置待测试的运算放大器，测试承载板的板面中心设有测温模块；测试装置还包括矩阵开关、信号处理模块与上位机；上位机控制高低温试验箱的测试温度，并同步读取测温模块采集的温度数据；信号处理模块采集运算放大器的失调电压，并将失调电压数据发送给上位机；上位机根据读取的测试温度与失调电压计算运算放大器失调电压温漂系数；本发明解决了传统测试方法的失调电压温漂曲线线性度差，测试效率低，温度不准确，温漂曲线无法自动拟合的缺点。