异质键合晶片的制备方法和应用

    公开(公告)号:CN1688014A

    公开(公告)日:2005-10-26

    申请号:CN200510025732.7

    申请日:2005-05-11

    IPC分类号: H01L21/00 H01L31/18

    CPC分类号: Y02P70/521

    摘要: 一种异质键合晶片的制备方法和应用,属光电子器材集成和应用的技术领域。低温直接键合的两片异质材料分别是制备有ROIC的硅晶片和制备有IP薄膜的GaAs晶片,先按照0.25μmULSI中的铜互连的化学机械平坦化工艺,使所述的硅晶片表面光滑、平整、清洁;接着,在低温下,使表面同样光滑、平整、清洁的所述的GaAs晶片与所述的硅晶片对位、预键合、低温热处理,至所述的两个异质晶片直接键合在一起,得到异质键合物;然后减薄异质键合物GaAs的厚度至20~30μm;再用ICP高密度反应离子选择刻蚀剩余的GaAs至终止层;最后用湿法蚀去终止层,得到产品,异质键合晶片。异质键合晶片可用来制作低价格的IP-ROIC的IRFPA。本发明具有制造成本低、产品超高机械强度高、可靠性好等优点。

    异质键合晶片的制备方法和应用

    公开(公告)号:CN100345248C

    公开(公告)日:2007-10-24

    申请号:CN200510025732.7

    申请日:2005-05-11

    IPC分类号: H01L21/00 H01L31/18

    CPC分类号: Y02P70/521

    摘要: 一种异质键合晶片的制备方法和应用,属光电子器材集成和应用的技术领域。低温直接键合的两片异质材料分别是制备有ROIC的硅晶片和制备有IP薄膜的GaAs晶片,先按照0.25μm ULSI中的铜互连的化学机械平坦化工艺,使所述的硅晶片表面光滑、平整、清洁;接着,在低温下,使表面同样光滑、平整、清洁的所述的GaAs晶片与所述的硅晶片对位、预键合、低温热处理,至所述的两个异质晶片直接键合在一起,得到异质键合物;然后减薄异质键合物GaAs的厚度至20~30μm;再用ICP高密度反应离子选择刻蚀剩余的GaAs至终止层;最后用湿法蚀去终止层,得到产品,异质键合晶片。异质键合晶片可用来制作低价格的IP-ROIC的IRFPA。本发明具有制造成本低、产品超高机械强度高、可靠性好等优点。