一种A位Pr掺杂BTO薄膜材料及其制备方法

    公开(公告)号:CN101434408A

    公开(公告)日:2009-05-20

    申请号:CN200810236931.6

    申请日:2008-12-19

    摘要: 本发明涉及信息存储薄膜材料领域,公开了一种A位Pr掺杂BTO薄膜材料,它是由镨、铋、钛和氧离子组成的,其组成分子式为Bi(4-11x/9)PrxTi3O12,x取值为0.3~0.9。该薄膜材料采用射频磁控溅射方法制备,具体为:将Bi(4-11x/9)PrxTi3O12靶材沉积在Pt/TiO2/SiO2/p-Si衬底上,抽至高真空,预溅射,通入氧气和氩气调节工作气压,再次溅射,最后快速退火,得到薄膜。本发明制得的薄膜为随机取向的多晶薄膜,薄膜表面光滑,晶粒尺寸均匀,具有低的漏电流和较好的电滞回线,可与现有CMOS工艺兼容。

    BiFeO3靶材及薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN101429642A

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN200810236683.5

    申请日:2008-12-05

    IPC分类号: C23C14/08 C23C14/35 C23C14/54

    摘要: 本发明提供了一种BiFeO3靶材的制备方法,对氧化铋Bi2O3和氧化铁Fe2O3的混合料依次进行研磨、球磨、预烧、再次球磨、造粒、筛选得到靶材,再对靶材进行排胶、烘烤、带压升温、保温和冷却。本发明还提供采用上述BiFeO3靶材制备薄膜的方法,选择Pt/TiO2/SiO2/p-Si衬底,使用射频磁控溅射法制备BiFeO3薄膜,最后对制得的BiFeO3薄膜作退火处理。本发明制备的靶材具有无杂相、平整致密的优点,采用该靶材制备的薄膜表面致密均匀,结晶性能较好,无杂相,漏电流小,电滞回线饱和,疲劳特性好,重复性好。