-
公开(公告)号：CN116052750A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202310182421.X
申请日：2023-02-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种面向长时间存储的闪存可靠性测试、预测方法。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性测试方法，基于3D NAND闪存可靠性机制设计能够更好地模拟闪存芯片在长时间存储场景下的可靠性下降过程，考虑自修复效应与阈值电压抖动对测试结果的影响，由于闪存芯片在短时间内错误数的波动较大，因此将其静置预设时间，从而提高测试结果的精度，使测试结果更贴近芯片的实际可靠性。本发明提供的面向长时间存储的闪存可靠性预测方法，以相同制造工艺为基准，在制造工艺相同的多个不同型号芯片测试数据的基础上建立可靠性预测模型，模型具有更好的泛化能力，从而实现对相同制造工艺下的闪存芯片的可靠性预测。
-
公开(公告)号：CN112309480A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202011085252.0
申请日：2020-10-12
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种闪存储装置的失效预警装置及失效预警方法，属于闪存可靠性保障技术领域，包括：特征量获取模块和失效判断模块；特征量获取模块，用于测量目标单元的特征量并发送至失效判断模块；目标单元为闪存存储装置中需要进行质量度量的单元，特征量的变化能够体现闪存存储装置的可靠性变化，且特征量包括编程/擦除操作次数和错误率之外的至少一种参数；失效判断模块，用于判断特征量获取模块测量得到的特征量是否满足预设的失效预警条件，若满足，则判定闪存存储装置存在失效的可能并发出预警信息。本发明能够准确地对闪存存储装置进行失效预警，同时不会影响闪存存储装置的性能。
-
公开(公告)号：CN119883143A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510382878.4
申请日：2025-03-28
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于可靠性感知的闪存操作策略优化方法和闪存系统，属于芯片存储技术领域，所述方法通过获取当前存储单元的特征参数，以确定当前存储单元的可靠性等级及其对应的失效可能性，可以对影响存储单元可靠性的因素进行感知进而确定对应级别的智能体；所选智能体根据当前的状态‑动作价值函数和存储单元的特征参数生成对应操作策略，能够在存储过程中依据存储单元错误特征实时调整操作容错策略，从而通过较低的开销适应不同应用场景下闪存芯片的可靠性变化，预防数据失效保障数据存储可靠性；本次任务执行后还确定下次任务执行时的初始化状态‑动作价值函数以优化整个芯片在生命周期的闪存操作，在提升闪存可靠性的同时延长芯片寿命。
-
公开(公告)号：CN110837477B
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN201910950724.5
申请日：2019-10-08
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F12/02
Abstract: 本发明公开一种基于寿命预测的存储系统损耗均衡方法及装置，包括：对存储系统的各个存储单元进行寿命预测，预测得到各个存储单元的剩余使用次数；当存储单元进行一次读或写操作后，其剩余使用次数减1；确定各个单元的剩余使用次数中的最大值和最小值，将最大值减最小值得到最大差值；若剩余使用次数的最大差值大于预设损耗均衡阈值，则将剩余使用次数最大值对应存储单元中的数据拷贝到剩余使用次数最小值对应的存储单元；并将剩余使用次数最大值对应存储单元中的数据擦除，并将该剩余使用次数最大值对应存储单元用于热数据存储，对存储系统进行损耗均衡。本发明真实反映存储单元可使用状态，提高存储单元后期的利用率，延长存储系统的使用寿命。
-
公开(公告)号：CN110580932A
公开(公告)日：2019-12-17
申请号：CN201910807106.5
申请日：2019-08-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G11C16/34
Abstract: 本发明公开了一种应用于损耗均衡的存储单元质量度量方法，包括以下步骤：S1、根据实际存储系统的测量能力，从存储单元的特征集合中选取多个特征值作为存储单元质量度量特征；S2、根据存储单元质量度量特征和预训练的存储单元质量度量模型，计算得到存储单元质量度量结果。本发明考虑到存储单元不同时期的损耗程度差异，采用操作时间、阈值电压分布等多个能够更加准确反映存储单元当前可靠性状态的度量特征，并建立了一种准确的应用于损耗均衡的存储单元质量度量模型，能够大幅提高质量度量结果的准确度，从而提高存储系统损耗均衡执行效率并延长存储系统的使用寿命。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110580932B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201910807106.5
申请日：2019-08-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G11C16/34
Abstract: 本发明公开了一种应用于损耗均衡的存储单元质量度量方法，包括以下步骤：S1、根据实际存储系统的测量能力，从存储单元的特征集合中选取多个特征值作为存储单元质量度量特征；S2、根据存储单元质量度量特征和预训练的存储单元质量度量模型，计算得到存储单元质量度量结果。本发明考虑到存储单元不同时期的损耗程度差异，采用操作时间、阈值电压分布等多个能够更加准确反映存储单元当前可靠性状态的度量特征，并建立了一种准确的应用于损耗均衡的存储单元质量度量模型，能够大幅提高质量度量结果的准确度，从而提高存储系统损耗均衡执行效率并延长存储系统的使用寿命。
-
公开(公告)号：CN109815534B
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201811544548.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 武汉忆数存储技术有限公司 , 华中科技大学
IPC: G06F30/39 , G06F119/04
Abstract: 本发明涉及一种基于决策树算法的闪存寿命预测方法及系统，测量闪存的一种特征量或几种特征量的组合，对所有特征量或组合中部分特征量进行数学运算，将运算结果或测量结果或运算结果和测量结果的组合输入到决策树算法中，由决策树算法计算得到闪存寿命的预测值。本发明具有在相对短的时间内能够对大型数据源做出可行且效果良好的结果的优点。
-
公开(公告)号：CN109817267A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201811545446.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 武汉忆数存储技术有限公司 , 华中科技大学
Abstract: 本发明涉及一种基于深度学习的闪存寿命预测方法、系统及计算机可读存取介质。本发明测量闪存的一种特征量或几种特征量的组合，对所有特征量或组合部分特征量进行数学运算，将运算结果或测量结果或运算结果和测量结果的组合输入到深度学习模型中，通过合适的模型计算得到闪存寿命的预测值。深度学习的方法通过卷积神经网络更加接近真实的神经元，使用权值共享网络结构减少了训练参数和计算复杂度，提高了泛化性能，循环卷积神经网络还能处理序列数据，更好的预测闪存寿命。
-
公开(公告)号：CN109815534A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201811544548.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 武汉忆数存储技术有限公司 , 华中科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明涉及一种基于决策树算法的闪存寿命预测方法及装置，测量闪存的一种特征量或几种特征量的组合，对所有特征量或组合中部分特征量进行数学运算，将运算结果或测量结果或运算结果和测量结果的组合输入到决策树算法中，由决策树算法计算得到闪存寿命的预测值。本发明具有在相对短的时间内能够对大型数据源做出可行且效果良好的结果的优点。
-
公开(公告)号：CN109817267B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201811545446.7
申请日：2018-12-17
Applicant: 武汉忆数存储技术有限公司 , 华中科技大学
Abstract: 本发明涉及一种基于深度学习的闪存寿命预测方法、系统及计算机可读存取介质。本发明测量闪存的一种特征量或几种特征量的组合，对所有特征量或组合部分特征量进行数学运算，将运算结果或测量结果或运算结果和测量结果的组合输入到深度学习模型中，通过合适的模型计算得到闪存寿命的预测值。深度学习的方法通过卷积神经网络更加接近真实的神经元，使用权值共享网络结构减少了训练参数和计算复杂度，提高了泛化性能，循环卷积神经网络还能处理序列数据，更好的预测闪存寿命。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
14
records
(took 0.014 seconds)
