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公开(公告)号：CN105258798B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201510759890.9
申请日：2015-11-10
Applicant: 华中科技大学 , 深圳华中科技大学研究院
Abstract: 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法，属于光学辐射定标测量仪器及方法，解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题，以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统，包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路，微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机，所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源，采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式，测量并绘制在300～900nm范围内的光电探测器光谱响应，实现高精度测量的同时，降低了设备成本和设计难度。
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公开(公告)号：CN105258798A
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201510759890.9
申请日：2015-11-10
Applicant: 华中科技大学 , 深圳华中科技大学研究院
Abstract: 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法，属于光学辐射定标测量仪器及方法，解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题，以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统，包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路，微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机，所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源，采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式，测量并绘制在300～900nm范围内的光电探测器光谱响应，实现高精度测量的同时，降低了设备成本和设计难度。
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公开(公告)号：CN114296155A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111460725.5
申请日：2021-12-02
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于双层介质超表面的宽谱光学变焦系统，属于光学器件领域，包括：第一介质超表面、第二介质超表面和平移机构；第一介质超表面和第二介质超表面平行设置，均包括多个彼此拼接的基础单元，基础单元包括基板和设置在基板上的介质柱，介质柱的横截面尺寸与其所处位置相关，介质柱为三段式结构，且中间段介质柱的折射率低于两端段介质柱的折射率，用于消除射入的宽谱入射光中的色差，宽谱入射光的波长范围为1310nm‑1550nm；第一介质超表面和第二介质超表面用于依次对宽谱入射光进行相位调制以聚焦，平移机构用于调节第一介质超表面和第二介质超表面之间的横向位移以调节聚焦焦距。实现宽谱范围入射光的变焦，并降低变焦系统的复杂度。
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公开(公告)号：CN111416661B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202010042513.4
申请日：2020-01-15
Applicant: 华中科技大学
IPC: H04B10/11 , H04B10/079
Abstract: 本发明属于无线通信领域，具体涉及一种用于空间光通信的光路对准方法，包括：分别调整待对准准直光路光斑和探测器探头端待扫描二维区域的位置，使得光斑投射在待扫描二维区域内；控制探头扫描二维区域，并在扫描过程中实时同步探测当前扫描点的光功率值以及将该光功率值与光通信功率阈值对比，当该光功率值或者包括该光功率值的连续相邻多个光功率值大于光通信功率阈值时，停止扫描，实现光路对准，否则继续扫描，直至达到扫描终止条件。本发明通过扫描方式实时获取扫描过程中各离散扫描点的光功率值，基于功率阈值实现光路对准，适用于各种不同类型光源光路，避免了现有光路对准方法需要CCD成像等带来的对准系统复杂、成本高、对准耗时等的问题。
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公开(公告)号：CN110161676B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201910470787.0
申请日：2019-05-31
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种基于双层介质超表面的光学变焦系统，包括：第一层介质超表面和第二层介质超表面，二者平行排列；两层介质超表面均由多个基础单元拼接构成，每个基础单元包括基板和设于基板上的圆柱介质柱，每层介质超表面的圆柱介质柱的直径与其距离介质超表面中心的距离和其角度存在映射关系；入射光入射依次经过两层介质超表面；两层介质超表面依次对入射光进行两次相位调制，实现对入射光的聚焦效果；当第一层介质超表面和第二层介质超表面的相对旋转角相对初始状态发生改变时，两层介质超表面对应的聚焦焦距发生改变，两层介质超表面对所述入射光的聚焦效果发生变化。本发明提供的变焦系统根据旋转角的大小实现变焦，且均可实现大范围变焦。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108375418B
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201810111548.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种基于介质超表面的紧凑光学测量仪，包括介质超表面和探测器阵列，探测器阵列位于介质超表面的焦距处；介质超表面包括多个基本模块，相邻的基本模块相互接触；每个基本模块独立工作以获取入射到该基本模块表面的待测光的偏振态；每个基本模块包括第一平面聚焦镜、第二平面聚焦镜、第三平面聚焦镜和第四平面聚焦镜，四块平面聚焦镜按照从左至右、从上自下的顺序构成“田”字形平面结构；这四个平面聚焦镜的焦距一致。本发明提供的紧凑光学测量仪可以探测入射光的偏振态和波前，在可见光波段损耗较小，在近红外到红外波段几乎没有损耗，极大降低了光损耗，提高了探测的灵敏度。
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公开(公告)号：CN101782666A
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN201010120798.5
申请日：2010-03-05
Applicant: 华中科技大学
IPC: G02B5/30
Abstract: 一种螺旋状金属线栅圆偏振器，属于光学器件，目的在于使其在可见光波段具有较宽的工作波长，且器件尺寸小、结构紧凑、易于集成。本发明的圆偏振器，在石英玻璃基板上沉积有N个均匀分布的螺旋状的铝金属线栅，金属线栅直径40-60纳米，螺旋状的螺旋周期数大于等于2周，螺旋状的金属线栅间距190-290纳米，螺旋周期间距150-400纳米，螺旋直径100纳米，N≥106。本发明能够工作在可见光光谱范围，工作波长范围可以达到580-730纳米，偏振消光比大于8.8∶1，偏振光透过率大于67％，且器件尺寸小、结构紧凑、易于集成，适用于偏振分光、彩色显示、激光技术等领域。
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公开(公告)号：CN117250769A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202311223703.6
申请日：2023-09-21
Applicant: 华中科技大学 , 国网江西省电力有限公司信息通信分公司
Abstract: 本发明公开了一种基于超表面的光束偏振分离与整形系统与方法，系统包括：单层介质，以及生长在所述单层介质前端的第一个超表面和后端的第二个超表面；两个超表面的介质柱的尺寸与其满足预设光束整形所需的相位分布和半波片功能存在映射关系；高斯光入射依次经过两个超表面；两个超表面依次对入射光进行两次相位调制，实现对入射光的分束整形效果；当第一个超表面和第二个超表面的相位分布满足要求时，基于超表面的光束偏振分离与整形系统对应的光束整形效果得以实现，对所述高斯入射光的聚焦形貌产生变化，同时其中一束光的偏振态产生改变，输出与另一束光的偏振态相同。本发明提供的光束整形系统根据预设聚焦形貌的大小实现整形。
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公开(公告)号：CN114460726A
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202210113862.X
申请日：2022-01-30
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于双层介质超表面的消色差光学变焦系统，属于光学器件技术领域。包括：第一层介质超表面和第二层介质超表面，所述第一层介质超表面和第二层介质超表面平行排列；所述第一层介质超表面和第二层介质超表面均由多个相位调控单元拼接构成，所述多个相位调控单元分别构成的所述第一层介质超表面和第二层介质超表面具有相反的螺旋形相位；宽谱入射光分别经过所述第一层介质超表面的螺旋形相位和第二层介质超表面的螺旋形相位同时进行波前相位调制后，输出的合成相位为球透镜相位，使得输出的不同波长的光聚焦在同一焦点处。本发明能够实现对宽谱入射光的无色差变焦，并且避免了额外工作空间的需求，集成度及成像质量高。
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公开(公告)号：CN106970255B
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201710344291.X
申请日：2017-05-16
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于少模光纤的温度应变补偿性光纤电流传感器，包括：激光器输出的光经过光纤耦合器分为第一束光和第二束光，第一束光经过光纤耦合器再次分为第三束光和第四束光，第三束光经过所述强度调制器形成连续探测光，经过模式调制器调制光纤中传播的空间模式，进入少模光纤；而第四束光经过由波形产生器控制的声光调制器形成泵浦光，经过模式调制器调制光纤中传输的空间模式，经过光纤环形器从相反的方向进入少模光纤；第二束光作为振荡光进入信号处理模块，提供相干检测，由输出单元得到测量的电流值。本发明通过消除温度和应变误差对光纤电流传感器的影响，提高电流的测量精度；对电流的测量能够满足标准0.2级精度。
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