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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101334264B
公开(公告)日：2010-06-02
申请号：CN200810048525.7
申请日：2008-07-25
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种激光焊接中狭窄对接焊缝的测量方法及装置，它将二维和三维视觉信息进行有机融合，通过对CCD相机和二个激光平面进行标定，利用含有三条激光条纹的焊缝图像，在同一测量位置获取焊缝中心的三维位置、法矢及焊缝宽度信息。装置包括：远心镜头、CCD相机、图像采集卡、带通滤光片、计算机，各线光源激光器投射出会聚的三个激光平面，各激光平面在与CCD相机主光轴垂直的平面上相交所形成的激光条纹基本平行。第一、第三线光源激光器对称地安装在CCD相机的左右两侧，与CCD相机的主光轴成15～60°角；第二线光源激光器对称安装在CCD相机的前侧或后侧，与CCD相机的主光轴成10～30°角；该装置结构简单，测量信息丰富。
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公开(公告)号：CN101334264A
公开(公告)日：2008-12-31
申请号：CN200810048525.7
申请日：2008-07-25
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种激光焊接中狭窄对接焊缝的测量方法及装置，它将二维和三维视觉信息进行有机融合，通过对CCD相机和二个激光平面进行标定，利用含有三条激光条纹的焊缝图像，在同一测量位置获取焊缝中心的三维位置、法矢及焊缝宽度信息。装置包括：远心镜头、CCD相机、图像采集卡、带通滤光片、计算机，各线光源激光器投射出会聚的三个激光平面，各激光平面在与CCD相机主光轴垂直的平面上相交所形成的激光条纹基本平行。第一、第三线光源激光器对称地安装在CCD相机的左右两侧，与CCD相机的主光轴成15～60°角；第二线光源激光器对称安装在CCD相机的前侧或后侧，与CCD相机的主光轴成10～30°角。该装置结构简单，测量信息丰富。
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公开(公告)号：CN100394140C
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200610019953.8
申请日：2006-08-09
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种位置检测信号的细分装置，包括线光源激光器、光靶、CCD、信号处理器和二个光学扫描振镜；二个振镜的转动轴在同一平面内平行放置，其反射面相对放置，各自初始位置的法线方向与两光学扫描振镜转动轴所在平面成45°角；线光源激光器的线状激光束垂直于两个扫描振镜的转动轴所在平面，线状激光束射向振镜的反射面且通过其转动轴线；光靶位于与两振镜的转动轴线所在平面平行的平面内，CCD位于线状激光束射向光靶后的出射方向上，并与两个振镜的转动轴所在平面平行；信号处理器与CCD相连，用于获取CCD的信号并进行数据处理。本发明结合四倍频细分电路，可以实现对一个周期内的位置检测信号的高倍细分，从而提高位置检测装置的分辨力和测量精度。
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公开(公告)号：CN1904546A
公开(公告)日：2007-01-31
申请号：CN200610019953.8
申请日：2006-08-09
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种位置检测信号的细分装置，包括线光源激光器、光靶、CCD、信号处理器和二个光学扫描振镜；二个振镜的转动轴在同一平面内平行放置，其反射面相对放置，法线方向与两光学扫描振镜转动轴所在平面成45°角；线光源激光器的线状出射激光束垂直于两个扫描振镜的旋转轴所在平面，线状激光束射向振镜的反射面且通过其旋转轴线；光靶位于与两振镜的旋转轴线所在平面平行的平面内，CCD位于光靶的另一侧，并与两个振镜的旋转轴所在平面平行；信号处理器与CCD相连，用于获取CCD的信号并进行数据处理。本发明结合四倍频细分电路，可以实现对一个周期内的位置检测信号的高倍细分，从而提高位置检测装置的分辨力和测量精度。
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公开(公告)号：CN200982865Y
公开(公告)日：2007-11-28
申请号：CN200620163364.2
申请日：2006-12-01
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本实用新型公开了一种位置检测信号的细分装置，包括线光源激光器、光靶、CCD、信号处理器和二个光学扫描振镜；二个振镜的转动轴在同一平面内平行放置，其反射面相对放置，法线方向与两光学扫描振镜转动轴所在平面成45°角；线光源激光器的线状出射激光束垂直于两个扫描振镜的旋转轴所在平面，线状激光束射向振镜的反射面且通过其旋转轴线；光靶位于与两振镜的旋转轴线所在平面平行的平面内，CCD位于光靶的另一侧，并与两个振镜的旋转轴所在平面平行；信号处理器与CCD相连，用于获取CCD的信号并进行数据处理。本实用新型结合四倍频细分电路，可以实现对一个周期内的位置检测信号的高倍细分，从而提高位置检测装置的分辨力和测量精度。
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