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公开(公告)号：CN100473998C
公开(公告)日：2009-04-01
申请号：CN200610063569.8
申请日：2006-11-09
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/3185 , G01R31/319 , G01R31/317 , G01R31/28 , H03L7/00 , G06F11/22 , G06F11/267
摘要： 本发明涉及一种自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，包括有扫描单元，用于在TCK频率下对扫描链路进行扫描并判断TCK频率是否可靠；调整单元，用于设置所述扫描单元的初始TCK频率并在设置的TCK频率不可靠时降低所述当前TCK频率；第一判断单元，用于判断所述调整单元设置的TCK频率是否低于预定的频率下限并在不低于预定频率下限时将TCK频率发送到扫描单元；第一输出单元，用于在降低后的TCK频率低于下限时输出测试失败信息；第二输出单元，用于在TCK频率可靠时输出测试成功信息。本发明避免了人工干预，提高了应用效率，增加了芯片测试的自动化程度；在生产中可以提高生产效率，降低人力投入和人工干预的时间成本。
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公开(公告)号：CN100370264C
公开(公告)日：2008-02-20
申请号：CN03150341.1
申请日：2003-07-28
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 一种自动识别电路板类型的方法，主要包括：使各电路板扫描链上所有器件进入旁路状态；根据各电路板上从扫描链移出数字“0”的个数来识别不同类型的电路板；使电路板扫描链上所有器件进入捕获指令状态，根据从扫描链移出各个边界扫描器件的指令捕获初始值的不同，来识别不同类型的电路板；或根据系统上电时移出的数据来匹配器件的ID代码，从而区分不同的电路板。使用本发明的方法，在边界扫描测试中，可以自动识别电路板类型，解决了需人工配置电路板位置的问题。
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公开(公告)号：CN1317639C
公开(公告)日：2007-05-23
申请号：CN200410097245.7
申请日：2004-11-18
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 李颖悟
摘要： 本发明有关一种升级产品中逻辑器件程序的方法，包括：在产品的主控板上嵌入一测试总线控制器(TBC)，与中央处理单元相连接；在产品的业务板上设置可寻址扫描端口(ASP)，业务板上的逻辑器件连接到可寻址扫描端口，所述测试总线控制器和可寻址扫描端口都连接到边界扫描系统总线上；通过中央处理单元调用逻辑器件升级程序，驱动测试总线控制器产生边界扫描信号流、通过边界扫描系统总线和可寻址扫描端口，将升级程序加载到待升级逻辑器件中。采用本发明方法能有效实现产品中逻辑的在线升级或远程升级。
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公开(公告)号：CN1912641A
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：CN200610111353.4
申请日：2006-08-24
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 李颖悟
摘要： 本发明提供一种单板在位检测方法，包括步骤：网管或测试终端向测试总线控制器TBC发送指令，驱动测试总线控制器TBC检测系统中单板是否在位；测试总线控制器TBC通过背板边界扫描测试系统总线发送广播消息；可寻址扫描端口ASP接收到所述广播消息后，回复响应消息；根据所述响应消息的内容判断单板是否在位。本发明还提供一种单板在位检测系统，包括设于主控板的TBC和设于业务板的ASP，通过背板上的JTAG总线实现通信；ASP根据TBC发送的广播信息回复响应消息，TBC根据该响应消息完成单板在位检测。实施本发明，利用应用普遍的边界扫描技术，实现单板的在位检测，减少背板总线数目，实现可靠的单板在位检测机制。
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公开(公告)号：CN1286282C
公开(公告)日：2006-11-22
申请号：CN02124157.0
申请日：2002-07-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H04B17/00
摘要： 本发明涉及一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法。一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法，其特征在于包括以下步骤：形成透明元件的特征文件，将特征文件加载到测试系统；将网表加载到测试系统；测试系统根据透明元件的特征信息，搜索网表，找到透明元件；将被透明元件隔离的网络合并。本发明主要提出了一种自动解决互连测试中电路、排阻和驱动芯片的问题的方法。通过对被测单板网表文件、器件列表文件的编译，自动获取被测单板上的电阻、排阻、驱动器等直通逻辑器件的信息，从而增加边界扫描互连测试的可测网络数，提高了单板互连测试的故障覆盖率。
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公开(公告)号：CN1619705A
公开(公告)日：2005-05-25
申请号：CN200310115354.2
申请日：2003-11-19
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 李颖悟
摘要： 本发明有关于一种多端口存储器的测试方法，包括：(1)首先依次测试各个端口的外围互连线，如果外围互连线有故障，则进行故障诊断；如果外围互连线没有发现故障，则进行下列步骤；(2)通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试，如果存储器内部存储单元存在故障，则报告发生故障的地址；如果没有发现故障，则进行下列步骤；(3)依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试，如果地址译码器和输入/输出控制器有故障，则进行故障诊断；如果没有发现故障，则测试结束。本发明的测试方法完全覆盖了数据线、地址线、控制线、仲裁器、地址译码器和输入/输出控制器的常见故障，而且故障定位准确。
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公开(公告)号：CN1619325A
公开(公告)日：2005-05-25
申请号：CN200310115353.8
申请日：2003-11-19
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本发明涉及边界扫描测试器件及测试方法。一种边界扫描测试控制器，其特征在于包括：PCI从设备接口模块、存储器控制接口模块，边界扫描控制接口模块与存储器控制接口模块和PCI从设备接口模块通过数据线相连。一种边界扫描测试方法，包括：a.测试终端将测试数据存储到存储器中；b.将存储器中的数据输出到被测板的测试接口；c.将从被测板采样的数据保存到存储器中；d.判断待扫描数据是否输出完毕，如果是，进入步骤e；如果否，返回步骤b；e.测试终端从存储器中读取返回数据。本发明由于采用PCI接口进行数据传输，能适应于通用计算机；同时，采用本发明提供的设计方法测试信号速率高，有利于提高测试速度。
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公开(公告)号：CN1617262A
公开(公告)日：2005-05-18
申请号：CN200310113628.4
申请日：2003-11-13
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 一种对FLASH内部单元进行测试的方法，包括：将FLASH内部单元均匀分为n块，按地址升序依次为B0、B1、…、Bn－1，每一个块的大小为m，然后执行下列步骤：1)整片擦除；2)从B0到Bn－1，对每一块Bi依次进行地址判断、写入模值及判断模值；3)整片擦除；4)从Bn－1到B0，对每一块Bi依次进行地址判断、写入模值及判断模值；以上各步骤中，如果读到的数据与期望值不一致，则报告并记录相关错误信息。使用本发明的测试方法能有效提高测试的故障覆盖率。
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公开(公告)号：CN1464424A
公开(公告)日：2003-12-31
申请号：CN02122639.3
申请日：2002-06-18
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G06F17/00
摘要： 本发明涉及一种基于边界扫描的电路采样的逻辑分析方法，包括步骤在逻辑模块系统中设定需要进行采样的器件引脚和采样频率；系统根据设定的器件引脚和采样频率的信息结合被测电路板的扫描链的信息进行分析，得到扫描链的最少的串行移位次数；通过边界扫描总线控制器在需要进行采样的被测器件中装入采样指令；边界扫描总线控制器控制被测器件进入采样状态，将器件的被测引脚上的值采入扫描单元的寄存器中；控制被测器件执行移位操作，将采样得到的值通过边界扫描总线控制器送到计算机中进行分析和显示。本发明的方法由逻辑模块和边界扫描总线控制器执行。
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公开(公告)号：CN100507585C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200610111353.4
申请日：2006-08-24
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 李颖悟
摘要： 本发明提供一种单板在位检测方法，包括步骤：网管或测试终端向测试总线控制器TBC发送指令，驱动测试总线控制器TBC检测系统中单板是否在位；测试总线控制器TBC通过背板边界扫描测试系统总线发送广播消息；可寻址扫描端口ASP接收到所述广播消息后，回复响应消息；根据所述响应消息的内容判断单板是否在位。本发明还提供一种单板在位检测系统，包括设于主控板的TBC和设于业务板的ASP，通过背板上的JTAG总线实现通信；ASP根据TBC发送的广播信息回复响应消息，TBC根据该响应消息完成单板在位检测。实施本发明，利用应用普遍的边界扫描技术，实现单板的在位检测，减少背板总线数目，实现可靠的单板在位检测机制。
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