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公开(公告)号：CN103298258B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201310189983.3
申请日：2013-05-21
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H05K1/18
CPC分类号： H01F27/2804 , H01F5/00 , H01F17/0013 , H01F17/06 , H01F2027/2809 , H02M3/06 , H02M3/158 , H02M3/1588 , H05K1/0218 , H05K1/0298 , H05K1/115 , H05K1/165 , H05K1/18 , H05K3/429 , H05K7/02 , H05K2201/086 , H05K2201/10015 , Y02B70/1466
摘要： 本发明适用于电路板技术领域，公开了一种电路板及具有该电路板的电源转换装置。上述电路板包括基板和磁芯，所述磁芯埋设于所述基板，所述基板上设置有至少一匝绕设于所述磁芯的绕线导体，每匝所述绕线导体包括分设于所述磁芯两侧的第一端面导电体和第二端面导电体，每匝所述绕线导体还包括自所述磁芯内侧穿过所述磁芯的第一侧面导电体和自所述磁芯外侧穿过所述磁芯的第二侧面导电体。所述电源转换装置包括上述的电路板。本发明所提供的电路板及具有该电路板的电源转换装置，其将磁芯埋入并结合不同的磁芯绕制方式可以减少基板的使用面积，可以灵活利用基板导电层的布线空间，达到较大的感量，并节省物料降低电源转换装置的制作成本。
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公开(公告)号：CN104079164B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201410307861.4
申请日：2014-06-30
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H02M1/44
摘要： 本发明实施例公开了一种有源EMI滤波器及电源管理装置，其中有源EMI滤波器可包括辅助源电路、电流采样电路、电压‑电流变换电路、偏置电路和电流注入电路，其中辅助源电路对从电源线上获取的电压信号进行稳压处理，并将稳压处理后的电压信号输出给其他电路供电，共模噪声电流依次流经电流采样电路、电压‑电流变换电路和电流注入电路，最后注入到保护地，偏置电路可根据电压‑电流变换电路输出的电流信号对电压‑电流变换电路的输入信号进行补偿，为电压‑电流变换电路提供正确的静态工作点。实施本发明实施例，可防止有源EMI滤波器产生失真，提高有源EMI滤波器的性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN104079164A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410307861.4
申请日：2014-06-30
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H02M1/44
摘要： 本发明实施例公开了一种有源EMI滤波器及电源管理装置，其中有源EMI滤波器可包括辅助源电路、电流采样电路、电压-电流变换电路、偏置电路和电流注入电路，其中辅助源电路对从电源线上获取的电压信号进行稳压处理，并将稳压处理后的电压信号输出给其他电路供电，共模噪声电流依次流经电流采样电路、电压-电流变换电路和电流注入电路，最后注入到保护地，偏置电路可根据电压-电流变换电路输出的电流信号对电压-电流变换电路的输入信号进行补偿，为电压-电流变换电路提供正确的静态工作点。实施本发明实施例，可防止有源EMI滤波器产生失真，提高有源EMI滤波器的性能和可靠性。
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公开(公告)号：CN104637659A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510072568.9
申请日：2015-02-11
申请人： 华为技术有限公司
摘要： 本发明提供了一种耦合电感和交错并联直流变换器，该耦合电感包括：磁芯，包括第一端部单元、第二端部单元和低导磁体，第一端部单元包括第一基底和从该第一基底凸出的M个第一磁柱，M为大于或等于2的整数，第二端部单元包括第二基底和从该第二基底凸出的与该M个第一磁柱一一对应的M个第二磁柱，M个第一磁柱与M个第二磁柱通过低导磁体连接成M个组合磁柱，第一端部单元还包括从第一基底凸出的至少一个第一外置磁柱，至少一个第一外置磁柱中的每个第一外置磁柱与第二端部单元之间具有间隙，至少一个第一外置磁柱位于M个第一磁柱的外侧；M个绕组，分别设置在M个组合磁柱上且每个绕组的绕制方向相同。本发明实施例能够支持电源高密小型化。
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公开(公告)号：CN103298258A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310189983.3
申请日：2013-05-21
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： H05K1/18
CPC分类号： H01F27/2804 , H01F5/00 , H01F17/0013 , H01F17/06 , H01F2027/2809 , H02M3/06 , H02M3/158 , H02M3/1588 , H05K1/0218 , H05K1/0298 , H05K1/115 , H05K1/165 , H05K1/18 , H05K3/429 , H05K7/02 , H05K2201/086 , H05K2201/10015 , Y02B70/1466
摘要： 本发明适用于电路板技术领域，公开了一种电路板及具有该电路板的电源转换装置。上述电路板包括基板和磁芯，所述磁芯埋设于所述基板，所述基板上设置有至少一匝绕设于所述磁芯的绕线导体，每匝所述绕线导体包括分设于所述磁芯两侧的第一端面导电体和第二端面导电体，每匝所述绕线导体还包括自所述磁芯内侧穿过所述磁芯的第一侧面导电体和自所述磁芯外侧穿过所述磁芯的第二侧面导电体。所述电源转换装置包括上述的电路板。本发明所提供的电路板及具有该电路板的电源转换装置，其将磁芯埋入并结合不同的磁芯绕制方式可以减少基板的使用面积，可以灵活利用基板导电层的布线空间，达到较大的感量，并节省物料降低电源转换装置的制作成本。
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公开(公告)号：CN101650408A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200810147367.0
申请日：2008-08-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 本发明实施例公开了一种检测集成电路负载在线功耗的方法、装置和设备，属于集成电路领域。方法包括：确定源节点和负载节点在电源平面的位置；获取源节点和负载节点的电压值；获取源节点和负载节点之间的直流电阻值以及负载节点之间的直流电阻值；根据电压值和直流电阻值，获取集成电路负载的功耗。装置包括：位置确定模块、电压获取模块、电阻获取模块和功耗检测模块。通过获取节点电压、节点之间的电阻，解决了硬件开发中不能分解获得每个IC芯片及模块在线工作状态下功耗的难题；可以准确评估芯片可靠性和温升；在新开发设备或设备优化中进行最优性价比设计，降低成本，提升可靠性，在电子设备(如通信、终端设备)中实现功耗的智能监控。
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公开(公告)号：CN101614785B
公开(公告)日：2012-02-29
申请号：CN200810068224.0
申请日：2008-06-27
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2812
摘要： 本发明实施例提出一种电路参数检测的方法包括以下步骤：测试电路选取待测电路中的至少两个节点；在待测电路处于通电工作状态时，测试电路测量得到所述节点的工作电压值；在待测电路处于断电状态时，测试电路给所述节点提供测试电流，在所述节点之间形成电连接通路，测试电路计算各节点的测试电流值和所述测试电压值；根据所述节点的各工作电压值、所述测试电流值、和所述测试电压值，计算得到待测电路处于通电正常工作状态时的工作电流值。本发明实施例通过提出的所述检测方法和使用上述方法的装置，避免了现有技术测试时破坏设备的电路物理结构和外观的缺陷，很好适用于芯片等电子器件在线工作状态电路参数的检测。
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公开(公告)号：CN101650408B
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN200810147367.0
申请日：2008-08-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 本发明实施例公开了一种检测集成电路负载在线功耗的方法、装置和设备，属于集成电路领域。方法包括：确定源节点和负载节点在电源平面的位置；获取源节点和负载节点的电压值；获取源节点和负载节点之间的直流电阻值以及负载节点之间的直流电阻值；根据电压值和直流电阻值，获取集成电路负载的功耗。装置包括：位置确定模块、电压获取模块、电阻获取模块和功耗检测模块。通过获取节点电压、节点之间的电阻，解决了硬件开发中不能分解获得每个IC芯片及模块在线工作状态下功耗的难题；可以准确评估芯片可靠性和温升；在新开发设备或设备优化中进行最优性价比设计，降低成本，提升可靠性，在电子设备(如通信、终端设备)中实现功耗的智能监控。
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公开(公告)号：CN101614785A
公开(公告)日：2009-12-30
申请号：CN200810068224.0
申请日：2008-06-27
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2812
摘要： 本发明实施例提出一种电路参数检测的方法包括以下步骤：测试电路选取待测电路中的至少两个节点；在待测电路处于通电工作状态时，测试电路测量得到所述节点的工作电压值；在待测电路处于断电状态时，测试电路给所述节点提供测试电流，在所述节点之间形成电连接通路，测试电路计算各节点的测试电流值和所述测试电压值；根据所述节点的各工作电压值、所述测试电流值、和所述测试电压值，计算得到待测电路处于通电正常工作状态时的工作电流值。本发明实施例通过提出的所述检测方法和使用上述方法的装置，避免了现有技术测试时破坏设备的电路物理结构和外观的缺陷，很好适用于芯片等电子器件在线工作状态电路参数的检测。
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