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公开(公告)号：CN104854465B
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201380064280.6
申请日：2013-12-20
申请人： 高通股份有限公司
发明人： 郭旭
IPC分类号： H04L9/32
CPC分类号： G06F21/10 , G01R31/28 , G01R31/3004 , G01R31/31725 , G06F21/12 , G06F21/121 , G06F21/70 , G06F21/71 , G06F21/73 , G06F21/76 , G06F21/86 , H04L9/3278
摘要： 本发明提供一种用于产生唯一识别符的方法和设备。在用于一或多个电路的一或多个数据相依性电路路径上执行一或多个测试。随后在用于所述一或多个电路的所述一或多个数据相依性电路路径上重复所述一或多个测试，同时调整用于所述一或多个电路中的每一者的操作频率和/或操作电压。针对所述一或多个数据相依性电路路径中的每一者确定阈值频率和/或阈值电压。随后可基于针对所述一或多个数据相依性电路路径确定的多个所述阈值频率和/或阈值电压而产生识别符。
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公开(公告)号：CN101996912B
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201010003185.3
申请日：2010-01-14
申请人： 台湾积体电路制造股份有限公司
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R31/2831
摘要： 本发明涉及一种晶圆级测试方法、半导体装置测试系统及其方法，该晶圆级测试方法包含下列步骤：提供具有集成电路的晶圆。施加信号使集成电路作动，信号包含增加步级或减少步级，且增加步级或减少步级的范围介于第一位准和第二位准之间。在施加信号后，判定集成电路是否遵守测试准则。
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公开(公告)号：CN101470653B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200710203527.4
申请日：2007-12-28
申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
发明人： 熊金良
IPC分类号： G06F11/24 , G01R31/3173 , G01R19/00
CPC分类号： G06F11/24 , G01R31/3004 , G01R31/31924
摘要： 一种电压裕度测试装置，包括一控制电路、三裕度测试电路、三信号产生电路及一连接待测主板的连接器，三裕度测试电路分别包括一直流可调电源及一控制开关，三直流可调电源通过三控制开关与连接器相连，第一信号产生电路的输入端与第三直流可调电源相连，第二信号产生电路的输入端与第二裕度测试电路及第一信号产生电路相连，第三信号产生电路的输入端与第三裕度测试电路相连，三个信号产生电路的输出端接至连接器，控制电路的输入端与电源开机信号引脚相连，输出端与三裕度测试电路相连，控制电路通过电源开机信号引脚接收到电源开机信号，驱使三控制开关导通，使直流可调电源供电给连接器。所述电压裕度测试装置可方便、快捷地测出主板的电压裕度。
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公开(公告)号：CN101064657B
公开(公告)日：2011-10-12
申请号：CN200710096628.6
申请日：2007-04-19
申请人： 西门子公司
IPC分类号： H04L12/40 , H04L29/02 , G05B19/048
CPC分类号： G05B19/41855 , G01R31/3004 , G01R31/31717 , G05B2219/31138 , H04L12/10 , Y02P90/185
摘要： 本发明公开了一种在通信网络中应用的分路元件(T1，T2)，其中在两个按照本发明构成的分路元件(T1，T2)协调作用时可以借助检查电流(I)识别出在两个分路元件(T1、T2)之间延伸的、具有电流输入导线(SZ)和电流反馈导线(SR)的通信介质、尤其是线路(H)中已消除的故障，该检查电流通过优选设置在每个分路元件中的馈入检查装置(PE)馈入，并由同样优选设置在每个分路元件(T1、T2)中的终端检查装置(PA)检测，其中每个终端检查装置(PA)在检测检查电流(I)时实施为抑制与相应的分路元件(T1、T2)对应的总线终端(BT)。
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公开(公告)号：CN1898574B
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN200480038530.X
申请日：2004-12-20
申请人： NXP股份有限公司
发明人： 约翰内斯·德维尔德 , 乔斯·D.·J.·皮内达德格余维兹 , 弗朗西斯库斯·G.·M.·德荣 , 约瑟夫斯·A.·赫伊斯肯 , 汉斯·M.·B.·贝维 , 吉姆·潘勒
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R15/20 , G11C11/16 , G11C11/1673 , G11C11/1675
摘要： 一种用于无接触地检测电流的传感器，具有传感器元件和检测电路，传感器元件具有磁性隧道结(MTJ)，该传感器元件具有随着磁场变化的电阻，检测电路被设置来检测流过隧道结的隧道电流。该传感器元件可以与存储元件共享MTJ叠置体。而且，其可以提供与下一代CMOS工艺，包括MRAM技术的容易集成，更紧凑，并且使用较少的功率。给出了提高传感器灵敏度的方案，如提供磁通集中器，和利用相同电流产生更高的磁场的方案，如形成L形导体元件。更高的灵敏度使得能够使用更少的后处理，以节省用于例如移动设备的应用的功率。应用包括电流传感器、内置电流传感器、以及IDDQ和IDDT测试，甚至用于下一代CMOS工艺。
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公开(公告)号：CN101210950B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200610157994.3
申请日：2006-12-27
申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 , 鸿海精密工业股份有限公司
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R31/2839
摘要： 一种电子元件耐压测试设备包括波形发生单元、功率放大单元、变压单元、信号调节单元及检测模块。其中，波形发生单元包括时基电路及与所述时基电路相连的电阻、开关和多个电容，通过改变所述电阻及利用开关选择其中一电容来产生对应的振荡信号；功率放大单元用于将所述振荡信号功率放大，以得到功率放大信号；变压单元用于改变所述功率放大信号电压，以得到变压信号；信号调节单元用于隔离所述变压信号中的反向电压信号以得到测试信号；检测模块用于根据所述测试信号检测待测元件，以得到检测数据。
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公开(公告)号：CN101650408A
公开(公告)日：2010-02-17
申请号：CN200810147367.0
申请日：2008-08-12
申请人： 华为技术有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/3004
摘要： 本发明实施例公开了一种检测集成电路负载在线功耗的方法、装置和设备，属于集成电路领域。方法包括：确定源节点和负载节点在电源平面的位置；获取源节点和负载节点的电压值；获取源节点和负载节点之间的直流电阻值以及负载节点之间的直流电阻值；根据电压值和直流电阻值，获取集成电路负载的功耗。装置包括：位置确定模块、电压获取模块、电阻获取模块和功耗检测模块。通过获取节点电压、节点之间的电阻，解决了硬件开发中不能分解获得每个IC芯片及模块在线工作状态下功耗的难题；可以准确评估芯片可靠性和温升；在新开发设备或设备优化中进行最优性价比设计，降低成本，提升可靠性，在电子设备(如通信、终端设备)中实现功耗的智能监控。
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公开(公告)号：CN101488467A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200810185661.0
申请日：2008-12-19
申请人： (株)提尔爱
发明人： 全龙源
CPC分类号： H03K3/35613 , G01R31/3004
摘要： 本发明涉及高电压应力测试电路。一种高电压应力测试电路，包括：内部数据生成单元，其用于生成内部数据和反转内部数据；以及电平移位器，其用于接收内部数据和反转内部数据，并生成数字数据和反转数字数据。在正常模式下，内部数据和反转内部数据具有对应于输入数据的逻辑状态，而数字数据和反转数字数据具有对应于内部数据和反转内部数据的逻辑状态。在高电压应力测试模式下，内部数据和反转内部数据具有预定的逻辑状态，而与输入数据的逻辑状态无关；并且数字数据和反转数字数据具有预定的逻辑状态，而与内部数据的逻辑状态和反转内部数据的逻辑状态无关。
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公开(公告)号：CN1898574A
公开(公告)日：2007-01-17
申请号：CN200480038530.X
申请日：2004-12-20
申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人： 约翰内斯·德维尔德 , 乔斯·D.·J.·皮内达德格余维兹 , 弗朗西斯库斯·G.·M.·德荣 , 约瑟夫斯·A.·赫伊斯肯 , 汉斯·M.·B.·贝维 , 吉姆·潘勒
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R15/20 , G11C11/16 , G11C11/1673 , G11C11/1675
摘要： 一种用于无接触地检测电流的传感器，具有传感器元件和检测电路，传感器元件具有磁性隧道结(MTJ)，该传感器元件具有随着磁场变化的电阻，检测电路被设置来检测流过隧道结的隧道电流。该传感器元件可以与存储元件共享MTJ叠置体。而且，其可以提供与下一代CMOS工艺，包括MRAM技术的容易集成，更紧凑，并且使用较少的功率。给出了提高传感器灵敏度的方案，如提供磁通集中器，和利用相同电流产生更高的磁场的方案，如形成L形导体元件。更高的灵敏度使得能够使用更少的后处理，以节省用于例如移动设备的应用的功率。应用包括电流传感器、内置电流传感器、以及IDDQ和IDDT测试，甚至用于下一代CMOS工艺。
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公开(公告)号：CN1514491A
公开(公告)日：2004-07-21
申请号：CN200310121594.3
申请日：2003-12-29
申请人： 国际商业机器公司
IPC分类号： H01L27/02
CPC分类号： G01R31/3004 , G01R31/31721
摘要： 本发明提出了一种用于超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件。这种噪声监视器件制作在芯片上，用来测量芯片上的噪声。噪声监视系统包括多个分布在芯片上各个关键之处的片上噪声监视器件。用一噪声分析算法根据这些噪声监视器件采集的噪声数据分析噪声特性，而由一分层噪声监视系统将每个内核的噪声映射给片上系统。
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