一种新的数据传输中的信息隐藏方法、存储介质

    公开(公告)号:CN109120377B

    公开(公告)日:2020-11-27

    申请号:CN201810798704.6

    申请日:2018-07-19

    IPC分类号: H04L1/00 H04L9/08

    摘要: 本发明提供一种新的数据传输中的信息隐藏方法,包括以下步骤:获取码元个数为N的码字序列的误比特率分布,该误比特率分布标识码字序列中每个码元的误比特率;选择误比特率最大的前S个码元的位置并进行标记,同时标记其他N‑S个码元的位置;将需要隐藏的信息数据随机嵌入到N‑S个码元的位置范围内;将嵌入有隐藏信息数据的码字序列调制后送入信道进行传输;接收端对接收的码字序列进行译码后提取嵌入的隐藏信息数据。本发明的隐秘信息的嵌入避开了码字序列中的敏感位置,而是在其它位置上随机嵌入。而嵌入位置的范围,是由基于误比特率分布的方法来确定的。这种方法只需要对码在确定信噪比下进行仿真,获取误比特率分布即可。

    一种用于SDH时钟抖动测试的装置及方法

    公开(公告)号:CN105162543A

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201510506126.0

    申请日:2015-08-17

    IPC分类号: H04J3/06

    摘要: 本发明公开了一种用于SDH时钟抖动测试的装置及方法,包括电源模块、信号输入模块、光电转换模块、差分放大模块、时钟恢复模块、跟踪时钟恢复模块、抖动恢复模块、信号调理模块、A/D转换模块,FPGA抖动测试模块、PXI总线控制模块和上位机模块;首先,本发明采用FPGA抖动测试模块,避免了昂贵的测试仪器的使用,节省了SDH时钟抖动测试的成本;其次,本发明采用集成化的时钟恢复芯片ADN2812、差分放大器ADL5565和接口芯片PCI9054等,减小了测试电路的面积和复杂性,也减少了PLL电路的使用;最后,本发明采用上位机模块对FPGA抖动测试模块控制测试的方式,减少了模拟电路的使用,使SDH时钟抖动的测试结果更加的可靠。

    一种新的数据传输中的信息隐藏方法、存储介质

    公开(公告)号:CN109120377A

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201810798704.6

    申请日:2018-07-19

    IPC分类号: H04L1/00 H04L9/08

    摘要: 本发明提供一种新的数据传输中的信息隐藏方法,包括以下步骤:获取码元个数为N的码字序列的误比特率分布,该误比特率分布标识码字序列中每个码元的误比特率;选择误比特率最大的前S个码元的位置并进行标记,同时标记其他N-S个码元的位置;将需要隐藏的信息数据随机嵌入到N-S个码元的位置范围内;将嵌入有隐藏信息数据的码字序列调制后送入信道进行传输;接收端对接收的码字序列进行译码后提取嵌入的隐藏信息数据。本发明的隐秘信息的嵌入避开了码字序列中的敏感位置,而是在其它位置上随机嵌入。而嵌入位置的范围,是由基于误比特率分布的方法来确定的。这种方法只需要对码在确定信噪比下进行仿真,获取误比特率分布即可。

    一种用于SDH时钟抖动测试的装置及方法

    公开(公告)号:CN105162543B

    公开(公告)日:2017-12-08

    申请号:CN201510506126.0

    申请日:2015-08-17

    IPC分类号: H04J3/06

    摘要: 本发明公开了一种用于SDH时钟抖动测试的装置及方法,包括电源模块、信号输入模块、光电转换模块、差分放大模块、时钟恢复模块、跟踪时钟恢复模块、抖动恢复模块、信号调理模块、A/D转换模块,FPGA抖动测试模块、PXI总线控制模块和上位机模块;首先,本发明采用FPGA抖动测试模块,避免了昂贵的测试仪器的使用,节省了SDH时钟抖动测试的成本;其次,本发明采用集成化的时钟恢复芯片ADN2812、差分放大器ADL5565和接口芯片PCI9054等,减小了测试电路的面积和复杂性,也减少了PLL电路的使用;最后,本发明采用上位机模块对FPGA抖动测试模块控制测试的方式,减少了模拟电路的使用,使SDH时钟抖动的测试结果更加的可靠。